[實用新型]一種基于PC打印機接口的TTL集成電路測試儀

有效

• 申請號: 201922437984.0
• 申請日: 2019-12-30
• 公開（公告）號: CN211505792U
• 公開（公告）日: 2020-09-15
• 發明（設計）人: 張仕海;陳英;游波
• 申請（專利權）人: 樂山職業技術學院
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G06F13/42;G11C8/10
• 代理公司: 成都君合集專利代理事務所(普通合伙) 51228
• 代理人: 尹新路

本實用新型為一種基于PC打印機接口的TTL集成電路測試儀，與被測芯片、打印機并行接口信號線、系統總線連接，包括封裝殼體，和安裝在封裝殼體內的多端口地址譯碼電路、數據總線緩存器、數據模塊、控制模塊、狀態模塊；所述多端口地址譯碼電路、數據總線緩沖器都與數據模塊、控制模塊、狀態模塊、系統總線連接；所述打印機并行接口信號線與數據模塊、控制模塊、狀態模塊連接；所述數據總線緩沖器還與多端口地址譯碼電路連接；所述數據模塊與被測芯片連接。本實用新型通過打印機接口的數據端口、控制端口和狀態端口、配合多端口地址電路和數據總線緩沖器實現對被測芯片的型號和功能的測試。相比于現有技術，本設備價格低廉，使用方便快捷。

技術領域

本實用新型屬于集成電路測試領域，具體地說，涉及一種基于PC打印機接口的TTL集成電路測試儀。

背景技術

集成電路(IC)測試是伴隨著電子技術的發展而來的，數字集成芯片在使用過程中容易被損壞，用肉眼不易觀察。早期的人工測試方法對一些集成度高，邏輯復雜的數字集成電路顯得難于入手，因而遂漸被自動測試所取代。

74系列的芯片廣泛應用于各種實驗、電子產品中，但是產品良莠不齊，容易損壞，在進行電路設計的過程中，需要對產品進行檢測，但是專用的集成電路測試儀器價格昂貴，且體積較大。

實用新型內容

本實用新型針對現有技術價格昂貴體積較大的問題，提出了一種基于PC打印機接口的TTL集成電路測試儀，利用電腦打印機接口和輔助電路即可實現芯片型號和功能的快速測試。

本實用新型具體實現內容如下：

一種基于PC打印機接口的TTL集成電路測試儀，與被測芯片、打印機并行接口信號線、連接CPU的系統總線連接，包括封裝殼體，和安裝在封裝殼體內的多端口地址譯碼電路、數據總線緩存器、數據模塊、控制模塊、狀態模塊；

所述多端口地址譯碼電路、數據總線緩沖器都與數據模塊、控制模塊、狀態模塊、系統總線連接；

所述打印機并行接口信號線與數據模塊、控制模塊、狀態模塊連接；

所述數據總線緩沖器還與多端口地址譯碼電路連接；

所述數據模塊與被測芯片連接。

為了更好地實現本實用新型，進一步地，所述多端口地址譯碼電路包括芯片74LS30、芯片74LS155、或非門U1、或非門U2、或門U3；

所述系統總線的地址總線A3與芯片74LS30的1號接線端連接；系統總線的地址總線A4與芯片74LS30的2號接線端連接；系統總線的地址總線A5與芯片74LS30的3號接線端連接；系統總線的地址總線A6與芯片74LS30的4 號接線端連接；系統總線的地址總線A9與芯片74LS30的5號接線端和6號接線端連接；所述或門U3的輸入端分別與系統總線的地址總線A8、接地線連接，或門U3的輸出端與芯片74LS30的11號接線端連接；所述或非門U1的輸入端分別與系統總線的地址總線A7、AEN連接，或非門U1的輸出端與芯片74LS30 的12號接線端連接；

所述芯片74LS30的8號接線端連接非門后與芯片74LS155連接了非門后的 15號接線端連接；所述系統總線的信號與芯片74LS155連接了非門后的14 號接線端連接；所述或非門U2的輸入端分別與系統總線的信號、芯片 74LS30連接非門后的8號接線端連接，或非門U2的輸出端與芯片74LS155的2 號接線端連接；所述芯片74LS155的13號接線端與系統總線的地址總線A0連接，芯片74LS155的3號接線端與系統總線的地址總線A1連接；所述芯片 74LS155的1號接線端接地；

所述芯片74LS155的4號接線端、5號接線端、6號接線端、7號接線端、9 號接線端、10號接線端、11號接線端、12號接線端上都設置有非門。