[實(shí)用新型]一種并聯(lián)IGBT峰值過(guò)流檢測(cè)保護(hù)電路有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201922425435.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-12-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN211505783U | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-09-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 章正波;梁亞軍;王長(zhǎng)江 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江西麥克斯韋科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/26 | 分類號(hào): | G01R31/26;G01R19/165 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 并聯(lián) igbt 峰值 檢測(cè) 保護(hù) 電路 | ||
一種并聯(lián)IGBT峰值過(guò)流檢測(cè)保護(hù)電路,包括一個(gè)峰值過(guò)流檢測(cè)單元以及多個(gè)檢測(cè)信號(hào)采集單元;所述過(guò)流檢測(cè)單元的輸入端包括第一引腳OCP和第二引腳OCN,所述檢測(cè)信號(hào)采集單元包括電流電壓轉(zhuǎn)換模塊、跨導(dǎo)單元、二極管以及反饋模塊;通過(guò)多個(gè)檢測(cè)信號(hào)采集單元采集多個(gè)并聯(lián)的IGBT的過(guò)流檢測(cè)引腳信號(hào),將采集的多個(gè)信號(hào)連接到同一個(gè)過(guò)流檢測(cè)單元,不僅可節(jié)省成本、減小體積,而且更易于布線;并且,相對(duì)于平均電流檢測(cè)方法,采用本方案可以選擇出最大的過(guò)流值,有利于更精確的控制過(guò)流。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及過(guò)流檢測(cè)保護(hù)電路領(lǐng)域,具體涉及一種并聯(lián)IGBT峰值過(guò)流檢測(cè)保護(hù)電路。
背景技術(shù)
IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor,絕緣柵雙極型晶體管)是由BJT(Bipolar Junction Transistor,雙極型三極管)和MOS(metal oxide semiconductor,絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管)組成的復(fù)合全控型電壓驅(qū)動(dòng)式功率半導(dǎo)體器件,其兼有MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,金屬-氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)的高輸入阻抗和GTR(Giant Transistor,電力晶體管)的低導(dǎo)通壓降兩方面的優(yōu)點(diǎn),非常適合應(yīng)用于直流電壓為600V及以上的變流系統(tǒng),如交流電機(jī)、變頻器、開(kāi)關(guān)電源、照明電路、牽引傳動(dòng)等領(lǐng)域。
在IGBT并聯(lián)使用的場(chǎng)合中,每個(gè)IGBT集成片上的過(guò)流信號(hào)都需要單獨(dú)的檢測(cè)通道進(jìn)行過(guò)流檢測(cè),即每個(gè)IGBT連接一個(gè)過(guò)流檢測(cè)單元并通過(guò)該過(guò)流檢測(cè)單元判斷對(duì)應(yīng)的IGBT是否過(guò)流。
上述將每個(gè)IGBT連接一個(gè)過(guò)流檢測(cè)單元的方案,不僅成本較高,而且體積大,特別是并聯(lián)IGBT兩個(gè)以上,現(xiàn)有技術(shù)中存在用以解決的檢測(cè)電路,但其實(shí)施過(guò)程中依舊存在實(shí)施成本高以及占用體積大的不足。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型提供了一種并聯(lián)IGBT峰值過(guò)流檢測(cè)保護(hù)電路,接下來(lái)對(duì)本技術(shù)方案做進(jìn)一步地闡述。
一種并聯(lián)IGBT峰值過(guò)流檢測(cè)保護(hù)電路,包括一個(gè)峰值過(guò)流檢測(cè)單元以及多個(gè)檢測(cè)信號(hào)采集單元;所述過(guò)流檢測(cè)單元的輸入端包括第一引腳OCP和第二引腳OCN,所述檢測(cè)信號(hào)采集單元包括電流電壓轉(zhuǎn)換模塊、跨導(dǎo)單元、二極管以及反饋模塊;
所述的任意一個(gè)電流電壓轉(zhuǎn)換模塊一端連接至IGBT的過(guò)流檢測(cè)引腳,所有的電流電壓轉(zhuǎn)換模塊的另一端連接過(guò)流檢測(cè)單元的第二引腳OCN;所述跨導(dǎo)單元具有第一輸入端和第二輸入端兩個(gè)輸入端,所述第一輸入端連接至IGBT和電流電壓轉(zhuǎn)換模塊之間的節(jié)點(diǎn),跨導(dǎo)單元的輸出連接二極管的正極,所述的所有的二極管的負(fù)極共同連接于節(jié)點(diǎn)P作為共同輸出節(jié)點(diǎn),此共同輸出節(jié)點(diǎn)連接過(guò)流檢測(cè)單元的第一引腳OCP;所述反饋模塊耦接于所述共同輸出節(jié)點(diǎn)P與所述跨導(dǎo)單元的第二輸入端之間;
過(guò)流檢測(cè)單元的第一引腳OCP和第二引腳OCN之間接有濾波電路。
進(jìn)一步地,所述濾波電路包括一個(gè)電阻和一個(gè)電容,所述電阻和電容并聯(lián)連接。
進(jìn)一步地,所述電流電壓轉(zhuǎn)換模塊采用電阻。
進(jìn)一步地,跨導(dǎo)單元為運(yùn)算放大器。進(jìn)一步地,反饋模塊直接采用跨界導(dǎo)線,在滿足電路功能的前提下,大幅縮減電路體積。
有益效果:與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型通過(guò)多個(gè)檢測(cè)信號(hào)采集單元采集多個(gè)并聯(lián)的IGBT的過(guò)流檢測(cè)引腳信號(hào),將采集的多個(gè)信號(hào)連接到同一個(gè)過(guò)流檢測(cè)單元,不僅可節(jié)省成本、減小體積,而且更易于布線;并且,相對(duì)于平均電流檢測(cè)方法,采用本方案可以選擇出最大的過(guò)流值,有利于更精確的控制過(guò)流。
附圖說(shuō)明
圖1:本實(shí)用新型并聯(lián)IGBT峰值過(guò)流檢測(cè)保護(hù)電路的示意圖;
圖2:本實(shí)用新型的電路結(jié)構(gòu)示意圖;
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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