[實用新型]電子元器件金屬外殼平面度檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201922402493.2
• 申請日: 2019-12-27
• 公開（公告）號: CN211651496U
• 公開（公告）日: 2020-10-09
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 周俊
• 申請（專利權(quán)）人: 宜興市吉泰電子有限公司
• 主分類號: G01B5/28
• 分類號: G01B5/28
• 代理公司: 長沙惟盛赟鼎知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 43228
• 代理人: 姚亮梅

本實用新型涉及電子元器件測量裝置，特別涉及電子元器件金屬外殼平面度檢測裝置，包括底座和檢測儀表，底座上安裝有支架，支架頂部固定有工作臺，所述的工作臺中心處設(shè)有通孔，所述的檢測儀表的檢測桿通過螺釘安裝在通孔內(nèi)，檢測桿頂端的檢測頭位于工作臺上表面上方；所述的工作臺的通孔周圍設(shè)置有多個觸點，所述的觸點、檢測桿頂端的檢測頭位于同一平面上。本實用新型先經(jīng)過基準(zhǔn)塊校零，然后將產(chǎn)品放置在工作臺上，通過銷釘限位產(chǎn)品，檢測儀表觸點接觸產(chǎn)品底平面，多點共面，直接讀數(shù)平面度數(shù)值，效率高、精度高。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及電子元器件測量裝置，特別涉及電子元器件金屬外殼平面度檢測裝置。

背景技術(shù)

電子元器件金屬外殼需要對底板平面是否翹曲變形的進行檢驗測量，現(xiàn)有的檢測方式是利用高度規(guī)取點測量，一個產(chǎn)品檢測員需要多次取點，然后計算出各個點的差值來得出該產(chǎn)品的平面度數(shù)值，用高度規(guī)來檢測產(chǎn)品的平面度就存在以下問題：

1.手動取點，計算差值得出平面度，效率低；

2.手動取點，取點位置不固定，平面度檢測精度低。

發(fā)明內(nèi)容

針對上述技術(shù)問題，本實用新型提供一種效率快、精度高的平面度檢測裝置。

具體的技術(shù)方案為：

電子元器件金屬外殼平面度檢測裝置，包括底座和檢測儀表，底座上安裝有支架，支架頂部固定有工作臺，所述的工作臺中心處設(shè)有通孔，所述的檢測儀表的檢測桿通過螺釘安裝在通孔內(nèi)，檢測桿頂端的檢測頭位于工作臺上表面上方；

所述的工作臺的通孔周圍設(shè)置有多個觸點，所述的觸點、檢測桿頂端的檢測頭位于同一平面上。

還包括限位銷釘，所述的限位銷釘安裝在通孔一側(cè)，并位于觸點外側(cè)，用于對待測產(chǎn)品的位置限定。

所述的觸點至少有四個，對稱的分布在通孔周圍。

在開始使用前，利用基準(zhǔn)塊對檢測桿頂端的檢測頭進行校零操作，然后進行產(chǎn)品平面度的檢測工作。

本實用新型提供的底板平面翹曲變形的檢驗測量，具有以下技術(shù)效果：

先經(jīng)過基準(zhǔn)塊校零，然后將產(chǎn)品放置在工作臺上，通過銷釘限位產(chǎn)品，檢測儀表觸點接觸產(chǎn)品底平面，多點共面，直接讀數(shù)平面度數(shù)值，效率高、精度高。

附圖說明

圖1是本實用新型的測量狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本實用新型的未校零狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本實用新型的校零狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

結(jié)合實施例說明本實用新型的具體實施方式。

如圖1和圖2所示，電子元器件金屬外殼平面度檢測裝置，包括底座1和檢測儀表3，底座1上安裝有支架2，支架2頂部固定有工作臺4，所述的工作臺4中心處設(shè)有通孔，所述的檢測儀表3的檢測桿通過螺釘6安裝在通孔內(nèi)，檢測桿頂端的檢測頭8位于工作臺4上表面上方；檢測儀表3為高度規(guī)。

所述的工作臺4的通孔周圍設(shè)置有多個觸點9，所述的觸點9、檢測桿頂端的檢測頭8位于同一平面上。

還包括限位銷釘5，所述的限位銷釘5安裝在通孔一側(cè)，并位于觸點9外側(cè)，用于對待測產(chǎn)品7的位置限定。

本實施例中所述的觸點9有四個，對稱的分布在通孔周圍。

首先將檢測裝置按照圖2組裝起來，然后如圖3所示，用基準(zhǔn)塊10對檢測儀表3進行校零操作，然后將待測產(chǎn)品7放置在工作臺4的觸點9上，通過限位銷釘5限位產(chǎn)品，檢測桿頂端的檢測頭8接觸待測產(chǎn)品7底平面，四個觸點9和檢測桿頂端的檢測頭8五點共面，直接讀數(shù)平面度數(shù)值，完成產(chǎn)品的檢測工作。