[實用新型]一種IC芯片測試治具

有效

• 申請號: 201922385042.2
• 申請日: 2019-12-26
• 公開（公告）號: CN211696446U
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發明（設計）人: 關超君
• 申請（專利權）人: 關超君
• 主分類號: G01D11/00
• 分類號: G01D11/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種IC芯片測試治具，包括芯片(1)，其特征在于：所述芯片(1)的底部設有吸附機構(2)；

所述吸附機構(2)包括底座(201)、吸盤(202)和豎板(203)；

所述底座(201)設于芯片(1)的底部，所述底座(201)的底部四角均安裝有吸盤(202)，所述底座(201)的頂部固接有豎板(203)。

2.根據權利要求1所述的一種IC芯片測試治具，其特征在于：所述豎板(203)位于底座(201)的頂部中點處。

3.根據權利要求1所述的一種IC芯片測試治具，其特征在于：所述底座(201)的頂部設有第一調節機構(3)；

所述第一調節機構(3)包括圓桿(301)、橫塊(302)、第一彈簧(303)、豎桿(304)和滾輪(305)；

兩個所述圓桿(301)固接于底座(201)的頂部，兩個所述圓桿(301)的外壁均轉動相連有橫塊(302)，兩個所述圓桿(301)的外壁間隙配合有第一彈簧(303)，所述第一彈簧(303)的底部卡接于底座(201)的頂部，所述第一彈簧(303)的頂部卡接于橫塊(302)的底部，兩個所述橫塊(302)的內側固接有豎桿(304)，所述豎桿(304)的頂部通過銷軸轉動相連有滾輪(305)。

4.根據權利要求3所述的一種IC芯片測試治具，其特征在于：兩個所述圓桿(301)關于豎板(203)軸對稱分布。

5.根據權利要求1所述的一種IC芯片測試治具，其特征在于：所述豎板(203)的前端面設有第二調節機構(4)；

所述第二調節機構(4)包括V型塊(401)和圓板(402)；

所述V型塊(401)通過銷軸轉動相連于豎板(203)的前端面，所述V型塊(401)的底部與滾輪(305)的頂部相貼合，所述V型塊(401)的頂部固接有圓板(402)。

6.根據權利要求5所述的一種IC芯片測試治具，其特征在于：所述圓板(402)的頂部設有放置機構(5)；

所述放置機構(5)包括橫板(501)、內腔(502)和通槽(503)；

所述橫板(501)通過軸承與圓板(402)轉動相連，所述橫板(501)的內部加工有內腔(502)，所述內腔(502)的內壁頂部加工有通槽(503)。

7.根據權利要求6所述的一種IC芯片測試治具，其特征在于：所述內腔(502)的內壁設有固定機構(6)；

所述固定機構(6)包括滑桿(601)、第二彈簧(602)、第一滑套(603)、橫桿(604)、手柄(605)、第二滑套(606)、豎塊(607)和橡膠墊(608)；

所述滑桿(601)的左右兩側固接于內腔(502)的內壁左右兩側，所述滑桿(601)的外壁左右兩側均滑動相連有第一滑套(603)，兩個所述第一滑套(603)的外壁與通槽(503)的內壁間隙配合，所述滑桿(601)的外壁左右兩側均間隙配合有第二彈簧(602)，所述第二彈簧(602)的外側卡接于內腔(502)的內壁外側，所述第二彈簧(602)的內側卡接于第一滑套(603)的外側，兩個所述第一滑套(603)的頂部均固接有橫桿(604)，兩個所述橫桿(604)的外壁間隙配合有第二滑套(606)，兩個所述第二滑套(606)固接于橫板(501)的頂部左右兩側，兩個所述橫桿(604)的外側固接有手柄(605)，兩個所述橫桿(604)的內側均固接有豎塊(607)，兩個所述豎塊(607)的內側固接有橡膠墊(608)，兩個所述橡膠墊(608)的內側與芯片(1)的外壁相接觸并抵緊。

8.根據權利要求7所述的一種IC芯片測試治具，其特征在于：所述手柄(605)的表面加工有紋路。