[實用新型]一種發散性太赫茲輻射源的功率測量裝置

有效

• 申請號: 201922355959.8
• 申請日: 2019-12-25
• 公開（公告）號: CN210981524U
• 公開（公告）日: 2020-07-10
• 發明（設計）人: 譚智勇;沈興華;許毅;曹俊誠
• 申請（專利權）人: 江蘇蓋姆納米材料科技有限公司
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42
• 代理公司: 江陰市輕舟專利代理事務所(普通合伙) 32380
• 代理人: 孫燕波

本實用新型涉及一種發散性太赫茲輻射源的功率測量裝置，屬于太赫茲探測技術領域。包括功率計探頭、功率計表頭和反射光學元件，所述功率計探頭的敏感面設于反射光學元件的焦點處，所述反射光學元件和功率計探頭分別固定于平臺上，所述反射光學元件用于接收被測發散性太赫茲輻射并將被測發散性太赫茲輻射反射于功率計探頭的敏感面上，所述功率計探頭和功率計表頭通信，所述功率計表頭用于顯示功率計探頭探測到的太赫茲輻射功率值。本申請不僅降低了測量裝置的構件復雜度，而且減少了功率測量的誤差，提高功率測量的可靠性和準確性。

技術領域

本實用新型涉及一種發散性太赫茲輻射源的功率測量裝置，用于太赫茲頻段發散性輻射源的功率測量和校準，屬于太赫茲探測技術領域。

背景技術

隨著太赫茲探測技術是當前太赫茲領域的研究重點，其中太赫茲輻射源的功率測量與標定是太赫茲應用技術中的基礎技術，可以說輻射源功率標定的準確性確決定了其潛在的應用領域和場景。當前太赫茲輻射源的功率測量方法主要是采用一組離軸拋物面反射鏡將點發射的太赫茲輻射能量收集至其中一個離軸拋物面反射鏡的焦點處，然后將太赫茲功率計敏感面放置于該焦點處進行測量，最后計算得到太赫茲輻射源的輸出功率值。

離軸拋物面反射鏡是一種將平行光變成會聚光或者將發散光變成平行光的反射鏡，但在上述太赫茲輻射功率測量過程中，離軸拋物面反射鏡組包含兩個相同參數的離軸拋物面反射鏡，其相對位置和朝向需要預先采用可見光模擬的發散性點光源來模擬。這在功率測量過程中，增加了裝置構建的復雜度，同時兩個離軸拋物面反射鏡的相對位置和朝向的調節在實際操作過程中難免出現誤差，導致功率測量的誤差增加。

實用新型內容

本實用新型所要解決的技術問題是針對上述現有技術提供一種發散性太赫茲輻射源的功率測量裝置，降低測量裝置的構件復雜度，減少功率測量的誤差，提高功率測量的可靠性和準確性。

本實用新型解決上述問題所采用的技術方案為：一種發散性太赫茲輻射源的功率測量裝置，包括功率計探頭、功率計表頭和反射光學元件，所述功率計探頭的敏感面設于反射光學元件的焦點處，所述反射光學元件和功率計探頭分別固定于平臺上，所述反射光學元件用于接收被測發散性太赫茲輻射并將被測發散性太赫茲輻射反射于功率計探頭的敏感面上，所述功率計探頭和功率計表頭通信，所述功率計表頭用于顯示功率計探頭探測到的太赫茲輻射功率值。

所述反射光學元件為橢球復制面反射鏡。

所述橢球復制面反射鏡的反射面為鍍金反射面。

所述功率計探頭為熱點堆探測器。

與現有技術相比，本實用新型的優點在于：一種發散性太赫茲輻射源的功率測量裝置，將橢球復制面反射鏡和功率計探頭設置在三維移動平臺上，通過單個橢球復制面反射鏡接收太赫茲輻射并將接收到的太赫茲輻射會聚于功率計探頭的敏感面上，功率計表頭顯示功率計探頭探測到的太赫茲輻射功率值。不僅降低了測量裝置的構件復雜度，而且減少了功率測量的誤差，提高功率測量的可靠性和準確性。通過改變太赫茲輻射的驅動參數，獲得其在不同工作條件下的輸出功率值，從而得到其輸出功率曲線，實現對發散性太赫茲輻射源功率的有效測量。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例一種發散性太赫茲輻射源的功率測量裝置的示意圖；

圖2為不同工作條件下得到的輸出功率曲線；

圖中1被測發散性太赫茲輻射源、2橢球復制面反射鏡、3功率計探頭、4功率計表頭、5平臺。

具體實施方式

以下結合附圖實施例對本實用新型作進一步詳細描述。