[實用新型]一種LED芯片測試用合金針

有效

• 申請號: 201922353674.0
• 申請日: 2019-12-25
• 公開（公告）號: CN211528495U
• 公開（公告）日: 2020-09-18
• 發明（設計）人: 汪韜;李云
• 申請（專利權）人: 安徽南芯電子科技有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073;G01R31/28;G01R31/44
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種LED芯片測試用合金針，包括上探針（2）和定位槽（12），其特征在于：所述上探針（2）上端安裝有上端頭（1），且上探針（2）下端固定安裝有限位塊（5），同時上探針（2）下端設置在第一針筒（3）內部，并且第一針筒（3）的內壁上固定安裝有限位槽（4），上探針（2）下端與連接柱（6）固定連接，第一針筒（3）底部與第二針筒（8）固定連接，且第二針筒（8）內部安裝有下探針（9），同時下探針（9）下端固定安裝有下端頭（10）；

所述定位槽（12）開設在第一針筒（3）的底部，且第一針筒（3）底部右側開設有右連接孔（11），同時第一針筒（3）底部左側開設有左連接孔（14），并且第一針筒（3）底部開設有固定孔（13）；第二針筒（8）上端固定連接有定位塊（17），且第二針筒（8）左上端固定連接有左連接塊（18），同時第二針筒（8）右上端固定連接有右連接塊（16），左連接塊（18）與右連接塊（16）內部均開設有穿孔（15）。

2.根據權利要求1所述的一種LED芯片測試用合金針，其特征在于：所述上端頭（1）與下端頭（10）的端部均固定安裝有滑塊（19），且上探針（2）的上端與下探針（9）的下端內部均開設有滑槽（20），同時上端頭（1）與下端頭（10）均通過其上的滑塊（19）分別插接在上探針（2）和下探針（9）內部的滑槽（20）中。

3.根據權利要求1所述的一種LED芯片測試用合金針，其特征在于：所述第一針筒（3）的內部固定連接有連接柱（6），且第一針筒（3）內部的連接柱（6）與上探針（2）底部的連接柱（6）之間通過緩沖彈簧（7）固定連接。

4.根據權利要求1所述的一種LED芯片測試用合金針，其特征在于：所述限位塊（5）沿著上探針（2）的周向位置均勻設置為四組，且相鄰兩組限位塊（5）之間的角度為90°，同時上探針（2）通過其上的限位塊（5）滑接在限位槽（4）內部。

5.根據權利要求1所述的一種LED芯片測試用合金針，其特征在于：所述第二針筒（8）與第一針筒（3）之間通過固定螺栓相連接，且固定螺栓穿過穿孔（15）螺接在固定孔（13）內部。

6.根據權利要求1所述的一種LED芯片測試用合金針，其特征在于：所述下探針（9）在第二針筒（8）內部的固定方式與上探針（2）在第一針筒（3）內部的固定方式一致，且下探針（9）與上探針（2）均為升降結構。

7.根據權利要求1所述的一種LED芯片測試用合金針，其特征在于：所述定位槽（12）與定位塊（17）的尺寸相適配，且第二針筒（8）通過其上的定位塊（17）插接在定位槽（12）中。

8.根據權利要求1所述的一種LED芯片測試用合金針，其特征在于：所述左連接孔（14）與右連接孔（11）之間的距離等于左連接塊（18）與右連接塊（16）之間的距離，且兩組連接孔與兩組連接塊的尺寸相適配，同時第二針筒（8）通過其上的左連接塊（18）與右連接塊（16）分別插接在第一針筒（3）底部的左連接孔（14）與右連接孔（11）中。