[實(shí)用新型]電量檢測(cè)電路有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201922326314.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-12-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN211698114U | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-10-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃植富;林鐵英 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 廣東金萊特電器股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/388 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/388 |
| 代理公司: | 廣州嘉權(quán)專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205 | 代理人: | 熊思遠(yuǎn) |
| 地址: | 529071 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電量 檢測(cè) 電路 | ||
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種電量檢測(cè)電路,包括充電模塊,包括充電芯片,所述充電芯片設(shè)置有用于指示電池是否充滿(mǎn)的第一CHRG引腳;供電模塊,與所述充電模塊連接,所述供電模塊包括電池;控制模塊,與所述供電模塊連接,所述控制模塊包括MCU處理器,所述MCU處理器設(shè)置有VDD端口、第二CHRG引腳,所述第二CHRG引腳連接至所述第一CHRG引腳;顯示模塊,與所述控制模塊連接。本實(shí)用新型的技術(shù)方案通過(guò)采用不帶AD檢測(cè)功能的MCU處理器,對(duì)產(chǎn)品電池進(jìn)行電量檢測(cè),能夠有效降低成本,具有實(shí)用性。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及電路檢測(cè)領(lǐng)域,特別涉及一種電量檢測(cè)電路。
背景技術(shù)
目前,大多產(chǎn)品例如手機(jī)、筆記本、電腦等電子設(shè)備,一般均使用內(nèi)部電池供電。在產(chǎn)品使用過(guò)程中,若帶有電量指示功能,則可提前預(yù)判產(chǎn)品的使用時(shí)間,提前對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行充電,并且可以直觀(guān)地顯示電池的電量狀態(tài)。針對(duì)用戶(hù)而言,產(chǎn)品使用合理性更強(qiáng)。故在產(chǎn)品使用過(guò)程中,需要及時(shí)對(duì)電池電量進(jìn)行檢測(cè)。現(xiàn)有的電池電量檢測(cè)技術(shù),需要使用精度較高和帶AD檢測(cè)的MCU處理器,但這種檢測(cè)技術(shù)所搭建的電路需要較高的成本,經(jīng)濟(jì)要求較高。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題之一。為此,本實(shí)用新型提出一種電量檢測(cè)電路,采用不帶AD檢測(cè)的較低精度的MCU處理器,對(duì)電池產(chǎn)品進(jìn)行電量檢測(cè),有效降低成本,具有實(shí)用性。
本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種電量檢測(cè)電路,包括充電模塊,包括充電芯片,所述充電芯片設(shè)置有用于指示電池是否充滿(mǎn)的第一CHRG引腳;供電模塊,與所述充電模塊連接,所述供電模塊包括電池;控制模塊,與所述供電模塊連接,所述控制模塊包括MCU處理器,所述MCU處理器設(shè)置有VDD端口、第二CHRG引腳,所述第二CHRG引腳連接至所述第一CHRG引腳;顯示模塊,與所述控制模塊連接。
根據(jù)本實(shí)用新型的一些實(shí)施例,還包括PWM調(diào)節(jié)模塊,所述PWM調(diào)節(jié)模塊設(shè)置在所述控制模塊和所述供電模塊之間。
根據(jù)本實(shí)用新型的一些實(shí)施例,還包括第十九電阻,所述第十九電阻的一端用于與電源連接,另一端連接至所述充電芯片的VCC端口,所述第十九電阻的兩端并聯(lián)設(shè)置有第二十電阻,所述充電芯片的VCC端口還依次通過(guò)第一電阻和第二電阻連接至地,所述第二電阻的兩端并聯(lián)設(shè)置有第一電容,所述充電芯片的VCC端口還通過(guò)第三電容連接至地,所述充電芯片的PROG端口通過(guò)第三電阻連接至地,所述充電芯片的GND端口連接至地,所述充電芯片的BT端口通過(guò)第二電容連接至地,還連接至所述供電模塊。
根據(jù)本實(shí)用新型的一些實(shí)施例,所述電池的正極依次通過(guò)第四電阻、第四電容連接至地,所述電池的負(fù)極連接至地,所述第四電阻和所述第四電容之間還連接有所述控制模塊。
根據(jù)本實(shí)用新型的一些實(shí)施例,所述MCU處理器的SW端口通過(guò)輕觸開(kāi)關(guān)連接至地,所述MCU處理器的VDD端口、Exp端口分別與所述充電模塊連接,所述MCU處理器還設(shè)有至少一個(gè)輸出端口,每個(gè)所述輸出端口分別與所述顯示模塊連接,所述MCU處理器的GND端口連接至地,所述MCU處理器的PWM端口依次通過(guò)第十二電阻和第十三電阻連接至地,所述第十二電阻和所述第十三電阻之間還連接有所述PWM調(diào)節(jié)模塊。
根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例中提供的一個(gè)或多個(gè)技術(shù)方案,至少具有如下有益效果:本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種電量檢測(cè)電路,通過(guò)采用控制模塊,控制模塊中設(shè)有不帶AD檢測(cè)功能的MCU處理器,并通過(guò)采用充電模塊為供電模塊中的電池充電,且充電模塊設(shè)有充電芯片,充電芯片還設(shè)置有用于指示電池是否充滿(mǎn)的第一CHRG引腳,而供電模塊與控制模塊連接,控制模塊中的MCU處理器用于檢測(cè)VDD端口的電壓,以檢測(cè)電池電量,并將電池電量信號(hào)輸送至顯示模塊,使顯示模塊來(lái)顯示電池電量;MCU處理器還設(shè)有第二CHRG引腳,通過(guò)第二CHRG引腳與第一CHRG引腳連接,通過(guò)檢測(cè)第一CHRG引腳的指示電平來(lái)檢測(cè)電池電量是否充滿(mǎn)。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型技術(shù)方案能夠?qū)﹄姵禺a(chǎn)品進(jìn)行多重電量檢測(cè),有效降低成本,具有實(shí)用性。
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線(xiàn)路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線(xiàn)或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





