[實用新型]一種S參數的單端口差分測試設備

有效

• 申請號: 201922302690.7
• 申請日: 2019-12-19
• 公開（公告）號: CN210490902U
• 公開（公告）日: 2020-05-08
• 發明（設計）人: 李宗正;何星;汪洪偉;徐榮全;王強
• 申請（專利權）人: 四川經緯達科技集團有限公司
• 主分類號: H04L12/26
• 分類號: H04L12/26
• 代理公司: 成都睿道專利代理事務所(普通合伙) 51217
• 代理人: 賀理興

本實用新型公開了一種S參數的單端口差分測試設備，其中，S參數的單端口差分測試設備，包括單端口測試儀器；所述單端口測試儀器包括一對信號端口，所述一對信號端口分別連接有阻抗匹配器，每個阻抗匹配器的輸出端連接有用于連接差分器件的測試端口組；所述測試端口組連接有可切換的補償電路。本實用新型利用阻抗匹配器實現低成本的單端口差分測試，同時引入補償電路補償誤差，使得S參數的測試可以實現大批量化生產。

技術領域

本實用新型屬于差分電路特性的測量領域，具體涉及一種S參數的單端口差分測試設備。

背景技術

差分電路結構因其具有很好的增益、二階線性度、突出的抗雜散應變以及抗噪聲性能而越來越多地被人們采用。要通過直接測量的方式來表征平衡電路特性的話，通常需要使用昂貴的四端口矢量網絡分析儀。

在IEEE Microwave Magazine中公開了名稱為“用二端口S參數來表征差分電路的特性”的文章，里面提供了一種巴倫結構，能夠實現平衡結構到不平衡結構的轉換功能，射頻工程師通過使用單端口矢量網絡分析儀來配合巴倫結構，從而實現對差分電路特性的測量。

但是，巴倫結構的單端口分析儀器，其巴倫結構成本仍然較高，而且誤差更大，很難適用于工廠或車間的批量化生產需求。

實用新型內容

本實用新型的目的在于：針對現有技術中采用巴倫結構的單端口矢量網絡分析儀存在成本較高、誤差更大的問題，提供另外一種結構的單端口矢量網絡分析儀，具體地，為一種S參數的單端口差分測試設備，采用電阻組成的阻抗匹配器，以不平衡射頻端口完成對差分信號的S參數的測試；同時，設置有補償電路，校準時引入正向補償，從而補償在測量時的誤差。

為了實現上述目的，本實用新型采用的技術方案為：

一種S參數的單端口差分測試設備，包括單端口測試儀器；

所述單端口測試儀器包括一對信號端口，所述一對信號端口分別連接有阻抗匹配器，每個阻抗匹配器的輸出端連接有用于連接差分器件的測試端口組；

所述測試端口組連接有可切換的補償電路。

可選地，所述補償電路為LC補償電路。

可選地，所述測試端口組包括直通測試端口組，一對所述直通測試端口組的正極之間連接、負極之間分別連接電感器件，每個所述直通測試端口組的正負極之間連接電容器件。

可選地，所述補償電路為電容器件。

可選地，所述測試端口組包括負載測試端口組，每個負載測試端口組的正負極之間連接負載電阻和所述電容器件。

可選地，所述測試端口組包括直通測試端口組，一對所述直通測試端口組的正極之間連接、負極之間分別連通，每個所述直通測試端口組的正負極之間連接所述電容器件。

可選地，所述阻抗匹配器為50Ω：100Ω。

可選地，所述阻抗匹配器包括第一電阻和第二電阻，所述第一電阻并聯在連接信號端口的信號線與接電線之間，第二電阻的信號線串聯在信號線上。

由于采用了上述技術方案，本實用新型的有益效果是：

本實用新型的S參數的單端口差分測試設備，采用單端口測試儀器(即單端口矢量網絡分析儀)，在信號端口配置阻抗匹配器，使得單端口的不平衡仍然適用于對待測器件的差分測試，阻抗匹配器采用成本較低的電阻構成，相較于現有技術的巴倫結構，成本更低，而電阻的頻率特性很容易達到1000MHz，從而更適合目前流行的5G/10G網絡器件的測量，同時成本低也更加容易實現批量化測試；

同時，本實用新型在校準時引入了補償電路，從而能夠在測試前，先進行校準，校準時引入一定的損耗，校準完成，測量產品時再移除此補償電路，使得產品測試結果得到正向補償，從而消除測量誤差。