[實用新型]一種光纖彎曲損耗測試工裝

有效

• 申請號: 201922253040.8
• 申請日: 2019-12-16
• 公開（公告）號: CN210802860U
• 公開（公告）日: 2020-06-19
• 發明（設計）人: 劉孝禮;趙超越;余思;李明;左慧
• 申請（專利權）人: 上海瑞柯恩激光技術有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

本實用新型公開了一種光纖彎曲損耗測試工裝，屬于光纖檢測技術領域，包括底板，底板上設置有用于容納光纖且呈圓弧形的光纖槽；壓緊結構，設置于底板上，包括壓緊塊，壓緊塊具有壓緊位置和放松位置，當壓緊塊位于壓緊位置時，壓緊塊抵壓于光纖，當壓緊塊位于放松位置時，壓緊塊與光纖分離，壓緊塊和光纖槽其中一個側壁之間形成供光纖進入或脫出光纖槽的開口。能夠將光纖置于光纖槽內進行彎曲，使得每次測試時光纖的彎曲程度相同，并且能通過壓緊塊進行固定，保證測試結果的準確性。當壓緊塊位于放松位置時，光纖能通過開口進入或脫出光纖槽，能夠實現對光纖進行多次彎曲，從而實現光纖在不同彎曲次數下的彎曲疲勞狀態的彎曲損耗測試。

技術領域

本實用新型涉及光纖檢測技術領域，尤其涉及一種光纖彎曲損耗測試工裝。

背景技術

光纖彎曲會造成光纖的彎曲損耗，尤其是當光纖彎曲后曲率半徑較大時，曲率半徑與纖芯直徑具有可比性時，光纖的傳輸特性會發生變化，大量的傳導模被轉化成輻射模，不再繼續傳輸，而是進入包層被涂覆層或包層吸收，從而引起光纖的附加損耗。其中，光纖的宏彎損耗是光纖彎曲后的曲率半徑比光纖直徑大時引起的附加損耗。

因此，對光纖進行宏彎損耗測試是光纖制造過程中的一個重要環節，現在常用的光纖彎曲損耗測試方法是將光纖纏繞在柱狀的測試輪軸上，通過對比光纖彎曲狀態與未彎曲狀態時光學特性的變化來檢測光纖的宏彎損耗，但是人工操作的用力不均勻，導致每次測試時光纖的彎曲程度不同，影響測試結果的準確性。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種光纖彎曲損耗測試工裝，以實現對光纖彎曲損耗的測試，提高測試結果的準確性。

如上構思，本實用新型所采用的技術方案是：

一種光纖彎曲損耗測試工裝，包括:

底板，底板上設置有用于容納光纖且呈圓弧形的光纖槽；

壓緊結構，設置于所述底板上，所述壓緊結構包括壓緊塊，所述壓緊塊具有壓緊位置和放松位置，當所述壓緊塊位于所述壓緊位置時，所述壓緊塊抵壓于所述光纖，當所述壓緊塊位于放松位置時，所述壓緊塊與所述光纖分離，且所述壓緊塊和所述光纖槽的其中一個側壁之間形成供所述光纖進入或脫出所述光纖槽的開口。

進一步地，所述光纖槽的另一個所述側壁上設置有第一斜面，所述壓緊塊能夠沿所述第一斜面滑動。

進一步地，所述壓緊塊一側具有與所述第一斜面相配合的第二斜面，以及分別連接于所述第二斜面兩側的壓緊面和抵接面，當所述壓緊塊位于所述壓緊位置時，所述壓緊面抵接于所述光纖，所述抵接面抵接于所述底板。

進一步地，所述壓緊結構還包括鎖緊件，所述壓緊塊上開設有沿所述光纖槽的徑向延伸的條形孔，所述底板上開設有緊固孔，所述鎖緊件穿設于所述條形孔并伸入所述緊固孔內以將所述壓緊塊鎖定或放松。

進一步地，所述鎖緊件為螺栓，所述緊固孔為能夠與所述螺栓配合的螺紋孔。

進一步地，所述第一斜面上設置有限位結構，所述限位結構被配置為將所述壓緊塊限制于所述放松位置。

進一步地，所述壓緊結構可拆卸地設置于所述底板上。

進一步地，所述壓緊結構設置有多個，多個所述壓緊結構沿所述光纖槽的延伸方向間隔設置于所述底板上。

進一步地，所述光纖槽設置有多個，多個所述光纖槽同圓心設置，每個所述光纖槽的半徑不同。

進一步地，所述光纖槽沿其延伸方向的兩端均設置有連通所述光纖槽的直線槽，所述直線槽與所述光纖槽的結構相同。

本實用新型的有益效果為：