[實用新型]一種用于檢測磁芯氣隙與開孔位置的檢具有效

申請號：	201922251200.5	申請日：	2019-12-16
公開（公告）號：	CN210892951U	公開（公告）日：	2020-06-30
發明（設計）人：	楊澤坡;楊文秀	申請（專利權）人：	無錫集磁科技有限公司
主分類號：	G01B5/08	分類號：	G01B5/08;G01B5/12;G01B5/00;G01B5/02
代理公司：	南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204	代理人：	向文
地址：	214143 江蘇省無***	國省代碼：	江蘇;32
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種用于檢測磁芯氣隙位置
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【權利要求書】：

1.一種用于檢測磁芯氣隙與開孔位置的檢具，其特征在于：包括檢具本體和兩個孔位檢測探針，所述檢具本體上設置有用于放置磁芯并且檢測磁芯內外徑的磁芯放入槽，所述磁芯放入槽內設置有用于檢測磁芯氣隙的氣隙卡鼻，所述檢具本體上設置有用于檢測磁芯的兩個開孔的位置和向心度的兩個磁芯孔位檢測孔，兩個所述孔位檢測探針分別與兩個磁芯孔位檢測孔相匹配。

2.根據權利要求1所述的一種用于檢測磁芯氣隙與開孔位置的檢具，其特征在于：所述檢具本體上開設有兩個磁芯拿取口，兩個磁芯拿取口分別位于磁芯放入槽兩側。

3.根據權利要求1所述的一種用于檢測磁芯氣隙與開孔位置的檢具，其特征在于：兩個所述磁芯孔位檢測孔一端位于檢具本體側部，另一端位于磁芯放入槽的圓心位置。

4.根據權利要求1所述的一種用于檢測磁芯氣隙與開孔位置的檢具，其特征在于：所述氣隙卡鼻的寬度等于磁芯氣隙的寬度。

5.根據權利要求1所述的一種用于檢測磁芯氣隙與開孔位置的檢具，其特征在于：兩個所述孔位檢測探針上均設置有限位把手。

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