[實用新型]一種三維檢測系統

有效

• 申請號: 201922189477.X
• 申請日: 2019-12-09
• 公開（公告）號: CN211042118U
• 公開（公告）日: 2020-07-17
• 發明（設計）人: 陳泰;王曌
• 申請（專利權）人: 英特維科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G01B11/245
• 分類號: G01B11/245;G01B11/24;G01B11/25
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 李博洋

本實用新型公開了一種三維檢測系統，該系統包括：第一投影裝置，用于向待測樣品投射第一波段的光信號；第二投影裝置，用于向待測樣品投射第二波段的光信號，第二波段與第一波段為不同波段，第一波段的光信號和第二波段的光信號在待測樣品上的投影區域部分重合；圖像采集裝置，設置在待測樣品的上方，用于采集第一投影裝置的投影區域和第二投影裝置的投影區域的圖像。通過實施本實用新型，可以增加待測樣品有效的測量面積，在同樣的采集速度下，可以獲得待測樣品更大區域的信息，提高了該三維錫膏測檢測系統的測量效率。

技術領域

本實用新型涉及三維掃描技術領域，具體涉及一種三維檢測系統。

背景技術

三維掃描技術可以用于獲取測量目標的精準三維尺寸以及面型。近年來，三維掃描技術在工業檢測，機器人導航，逆向工程、目標識別等領域特別是在工業自動化以及電子領域獲得了廣泛的應用。其中，在電子裝配行業中，可以通過機器視覺對表面貼裝生產線的錫膏粘貼質量以及電路板上的元器件進行檢測，具體可以采用3D錫膏檢測設備(3D SolderPaste Inspection，3D SPI)檢測錫膏印刷的品質，采用三維光學檢測設備(3D AutomatedOptical Inspection System，3D AOI)檢測PCB板過爐焊接后的質量，從而提高產品的良品率。

目前，3D SPI/AOI設備多采用投影裝置向被測物體表面投射結構光圖案(條紋光，相位結構光，隨機散斑等)，圖像采集裝置采集變形的結構光圖案，通過處理器分析變形的結構光圖案以獲得物體表面對應點的高度信息，從而剔除不良品。然而，隨著電子裝配速度的不斷提升，對于產品檢測速度的要求也不斷提高，但是現有的3D SPI/AOI設備受到投影裝置分辨率限制，檢測面積有限，無法滿足高速在線檢測的需求。

實用新型內容

有鑒于此，本實用新型實施例提供一種三維檢測系統，以解決現有的 3D SPI/AOI設備受到投影裝置分辨率限制，檢測面積有限，無法滿足高速在線檢測的需求的技術問題。

本實用新型提出的技術方案如下：

本實用新型實施例提供一種三維檢測系統，該三維檢測系統包括：第一投影裝置，用于向待測樣品投射至少一種第一波段的光信號；第二投影裝置，用于向待測樣品投射至少一種第二波段的光信號，所述第二波段與所述第一波段為不同波段，所述第一波段的光信號和所述第二波段的光信號在待測樣品上的投影區域部分重合；圖像采集裝置，設置在待測樣品的上方，用于采集所述第一投影裝置的投影區域和所述第二投影裝置的投影區域的圖像。

可選地，所述圖像采集裝置包括：兩個感光傳感器，每個所述感光傳感器前面設置不同波段的濾光片，用于分別采集第一投影裝置的投影圖像和第二投影裝置的投影圖像。

可選地，所述圖像采集裝置包括：感光傳感器，所述感光傳感器每個像素顏色通道前面設置至少兩個波段的濾光片。

可選地，所述第一投影裝置中包括：至少一個投影儀，所述第二投影裝置中包括：至少一個投影儀。

可循地，所述第一投影裝置、所述第二投影裝置及所述圖像采集裝置平行設置，所述第一投影裝置和所述第二投影裝置設置在所述圖像采集裝置的兩側。

可選地，該三維檢測系統還包括：調節裝置，所述調節裝置連接所述第一投影裝置和所述第二投影裝置，用于調整所述第一投影裝置和所述第二投影裝置與所述圖像采集裝置之間的距離。

可選地，所述調節裝置還用于調整所述第一投影裝置和所述第二投影裝置傾斜角度。

可選地，該三維檢測系統還包括：第一電機和滑動桿，所述第一投影裝置和所述第二投影裝置分別設置在所述滑動桿的兩端，所述第一電機驅動所述第一投影裝置和所述第二投影裝置在所述滑動桿上運動，調整所述第一投影裝置和所述第二投影裝置與所述圖像采集裝置之間的距離。