[實用新型]半導體電流測試裝置

有效

• 申請號: 201922151407.5
• 申請日: 2019-12-04
• 公開（公告）號: CN211698060U
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發明（設計）人: 陳偉;徐勇;葉建國;韓宙
• 申請（專利權）人: 江陰亨德拉科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R19/00;B65G47/88
• 代理公司: 江陰市輕舟專利代理事務所(普通合伙) 32380
• 代理人: 曹鍵

1.一種半導體電流測試裝置，其特征在于：包括機板(1)，所述機板(1)上設置有輸送流道(2)，所述輸送流道(2)上沿輸料方向依次設置有送料區域、測試區域以及緩沖區域，所述送料區域處設置有送料機構(3)，所述送料機構(3)用于將待測的產品(7)依次送至測試區域中以備測試，所述測試區域處設置有電流測試機構(5)和參數測試機構(6)，所述電流測試機構(5)和參數測試機構(6)分別用于對進入測試區域內待測的產品(7)進行電流測試和參數測試，所述緩沖區域處設置有緩沖機構(4)，所述緩沖機構(4)用于將已測的產品(7)依次送至下一道工序中。

2.根據權利要求1所述的一種半導體電流測試裝置，其特征在于：所述送料機構(3)包括設置于機板(1)底面的送料機構氣缸(301)，所述送料機構氣缸(301)的伸縮端設置有送料機構升降板(302)，所述送料機構升降板(302)上向上設置有送料機構擋料柱(304)，所述送料機構擋料柱(304)位于輸送流道(2)的正下方，所述送料機構擋料柱(304)的頂端向上延伸且穿過輸送流道(2)，所述送料機構升降板(302)上還設置有送料機構支撐板(303)，所述送料機構支撐板(303)的頂部設置有送料機構連接板(305)，所述送料機構連接板(305)上向下設置有送料機構壓緊柱(306)，所述送料機構壓緊柱(306)位于輸送流道(2)的正上方，且送料機構壓緊柱(306)位于送料機構擋料柱(304)的后方。

3.根據權利要求1所述的一種半導體電流測試裝置，其特征在于：所述電流測試機構(5)包括垂直穿插于機板(1)上的電流測試機構支撐板(501)，所述電流測試機構支撐板(501)上設置有上夾持組件(502)和下夾持組件(503)，所述上夾持組件(502)包括伸縮端向下的上夾持組件氣缸(502.1)，所述上夾持組件氣缸(502.1)的下方設置有豎向布置的上夾持組件導軌(502.3)，所述上夾持組件導軌(502.3)設置于電流測試機構支撐板(501)上，所述上夾持組件導軌(502.3)上設置有上夾持組件滑塊(502.4)，所述上夾持組件滑塊(502.4)上設置有上夾持組件移動座(502.5)，所述上夾持組件移動座(502.5)上設置有上夾持組件支撐塊(502.6)，所述上夾持組件支撐塊(502.6)的下方設置有上夾持組件固定塊(502.7)，所述上夾持組件固定塊(502.7)與上夾持組件支撐塊(502.6)之間設置有多個上夾持組件緩沖柱(502.8)，所述上夾持組件固定塊(502.7)上設置有上夾持組件感應夾具(502.10)；

所述下夾持組件(503)和上夾持組件(502)上下對稱布置。

4.根據權利要求3所述的一種半導體電流測試裝置，其特征在于：所述上夾持組件緩沖柱(502.8)上套設有上夾持組件緩沖彈簧(502.9)。

5.根據權利要求3所述的一種半導體電流測試裝置，其特征在于：所述上夾持組件感應夾具(502.10)的下段設置有電流測試機構限位件(504)。

6.根據權利要求1所述的一種半導體電流測試裝置，其特征在于：所述參數測試機構(6)沿輸送流道(2)的輸料方向依次包括第一緩沖組件(601)、定位組件(602)、第二緩沖組件(603)，所述定位組件(602)的上方設置有參數測試組件(604)，所述參數測試組件(604)包括參數測試組件氣缸(604.1)，所述參數測試組件氣缸(604.1)的伸縮端設置有參數測試組件推板(604.3)，所述參數測試組件推板(604.3)上設置有參數測試組件推塊(604.4)，所述參數測試組件推板(604.3)的下方設置有參數測試組件固定座(604.5)，所述參數測試組件固定座(604.5)上設置有參數測試組件連接塊(604.6)，所述參數測試組件連接塊(604.6)上設置有參數測試組件卡塊(604.7)，所述參數測試組件卡塊(604.7)上卡接有參數測試組件感應件(604.8)，所述參數測試組件推塊(604.4)位于參數測試組件感應件(604.8)的外側。