[實(shí)用新型]一種AEB測(cè)試假體目標(biāo)設(shè)備的標(biāo)定裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201922140868.2
• 申請(qǐng)日: 2019-12-03
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN211374063U
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-08-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐建勛;游國(guó)平;張儀棟;蘇占領(lǐng);胡雄;牛成勇;陳灝
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 重慶車輛檢測(cè)研究院有限公司
• 主分類號(hào): G01M17/007
• 分類號(hào): G01M17/007;G01S7/40
• 代理公司: 北京細(xì)軟智谷知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11471
• 代理人: 涂鳳琴

本實(shí)用新型提供了一種AEB測(cè)試假體目標(biāo)設(shè)備的標(biāo)定裝置，涉及汽車測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，主要解決在AEB試驗(yàn)中未對(duì)假體目標(biāo)進(jìn)行標(biāo)定測(cè)試的技術(shù)問(wèn)題。該實(shí)用新型包括標(biāo)定物裝置、測(cè)試裝置、承載裝置；測(cè)試裝置采集標(biāo)定物裝置和假體目標(biāo)的RCS特征，及假體目標(biāo)的測(cè)試數(shù)據(jù)；標(biāo)定物裝置標(biāo)定假體目標(biāo)的預(yù)先位置，并對(duì)測(cè)試裝置進(jìn)行預(yù)先校準(zhǔn)，確認(rèn)標(biāo)定物裝置和測(cè)試裝置當(dāng)前位置和周邊環(huán)境導(dǎo)致的RCS特征誤差；承載裝置承載測(cè)試裝置或標(biāo)定物裝置，并調(diào)整測(cè)試裝置或標(biāo)定物裝置的位置，使測(cè)試裝置和標(biāo)定物裝置相互對(duì)準(zhǔn)，使測(cè)試裝置對(duì)預(yù)先位置上的假體目標(biāo)進(jìn)行測(cè)試。本實(shí)用新型在假體目標(biāo)發(fā)生損傷后進(jìn)行二次標(biāo)定調(diào)整，彌補(bǔ)現(xiàn)有設(shè)備無(wú)鑒定依據(jù)不充分問(wèn)題，具有高效可靠的特點(diǎn)。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及汽車測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種AEB測(cè)試假體目標(biāo)設(shè)備的標(biāo)定裝置。

背景技術(shù)

汽車主動(dòng)安全技術(shù)(AEB)主要由3大模塊構(gòu)成，包括控制模塊(ECU)，測(cè)距模塊，和制動(dòng)模塊。其中測(cè)距模塊的核心包括微波雷達(dá)、人臉識(shí)別技術(shù)和視頻系統(tǒng)等，它可以提供前方道路安全、準(zhǔn)確、實(shí)時(shí)的圖像和路況信息。在現(xiàn)有的AEB試驗(yàn)中，常常采用假人、假車來(lái)進(jìn)行工程驗(yàn)證與測(cè)試。

然而，試驗(yàn)假車及試驗(yàn)假人是AEB試驗(yàn)項(xiàng)目中的易損傷部件，在其發(fā)生損傷后，沒(méi)有針對(duì)其性能的識(shí)別和標(biāo)定裝置，屬于空白狀態(tài)。假車及假人是強(qiáng)制準(zhǔn)入標(biāo)準(zhǔn)中的必要部件，假車及假人需要定期進(jìn)行標(biāo)定和校準(zhǔn)，但現(xiàn)階段國(guó)內(nèi)外還無(wú)法進(jìn)行二次標(biāo)定。并且，由于對(duì)假車及假人的檢測(cè)設(shè)備缺失，當(dāng)假車及假人發(fā)生損傷后，通常由外方判定其衰減程度，是否需要進(jìn)行更換，降低了試驗(yàn)測(cè)試的可靠度。

因此，在AEB試驗(yàn)中對(duì)假車及假人的測(cè)試裝置是有必要的、有價(jià)值的。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型其中一個(gè)目的是為了提出一種AEB測(cè)試假體目標(biāo)設(shè)備的標(biāo)定裝置，解決了現(xiàn)有技術(shù)中在AEB試驗(yàn)里，沒(méi)有對(duì)假體目標(biāo)進(jìn)行標(biāo)定測(cè)試的技術(shù)問(wèn)題。本實(shí)用新型優(yōu)選實(shí)施方案中能夠達(dá)到諸多有益效果，具體見(jiàn)下文闡述。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供了以下技術(shù)方案：

本實(shí)用新型的一種AEB測(cè)試假體目標(biāo)設(shè)備的標(biāo)定裝置，其包括：標(biāo)定物裝置、測(cè)試裝置、承載裝置；

所述測(cè)試裝置，用于通過(guò)發(fā)射和接收電磁波，采集標(biāo)定物裝置和假體目標(biāo)的RCS特征，還采集假體目標(biāo)的測(cè)試數(shù)據(jù)；

所述標(biāo)定物裝置，用于標(biāo)定假體目標(biāo)的預(yù)先位置，并對(duì)測(cè)試裝置進(jìn)行預(yù)先校準(zhǔn)，確認(rèn)標(biāo)定物裝置和測(cè)試裝置當(dāng)前安裝位置和周邊環(huán)境導(dǎo)致的RCS特征誤差，以使假體目標(biāo)在預(yù)先位置上進(jìn)行AEB測(cè)試；

所述承載裝置，用于承載測(cè)試裝置或標(biāo)定物裝置，并調(diào)整測(cè)試裝置或標(biāo)定物裝置的位置狀態(tài)，以使測(cè)試裝置和標(biāo)定物裝置的位置相互對(duì)準(zhǔn)，再使測(cè)試裝置對(duì)在預(yù)先位置上的假體目標(biāo)進(jìn)行AEB測(cè)試。

進(jìn)一步的，所述承載裝置包括第一支架，第二支架；所述第一支架與第二支架套接；所述測(cè)試裝置或標(biāo)定物裝置設(shè)置于第一支架上。

進(jìn)一步的，所述第一支架包括水平尺，固定橫梁，高度調(diào)節(jié)孔，和置于第一支架上端的上平面；

所述第二支架包括與高度調(diào)節(jié)孔相對(duì)應(yīng)的凸起，調(diào)平球頭，帶鎖緊環(huán)的調(diào)平腳座，和置于第二支架下端的底座；

所述水平尺，為兩個(gè)，相互垂直置于所述上平面上，用于使測(cè)試裝置或標(biāo)定物裝置處于水平位置；

所述固定橫梁，置于所述第一支架一側(cè)面上，用于固定連接測(cè)試裝置或標(biāo)定物裝置；

所述高度調(diào)節(jié)孔，設(shè)置在所述第一支架的支柱上；所述凸起，設(shè)置在所述第二支架的支柱上；所述高度調(diào)節(jié)孔與凸起，用于使第一支架與第二支架伸縮后進(jìn)行套接；

所述調(diào)平球頭，固定連接于第二支架下端的底座下面，用于與水平尺配合使用，調(diào)節(jié)測(cè)試裝置或標(biāo)定物裝置的位置；