[實用新型]一種用于XRD測試設備的自控升溫裝置

有效

• 申請號: 201922139548.5
• 申請日: 2019-12-03
• 公開（公告）號: CN211741125U
• 公開（公告）日: 2020-10-23
• 發明（設計）人: 夏陽;蔡鵬;張文魁;郭銳;黃輝;甘永平;張俊;梁初;賀馨平
• 申請（專利權）人: 浙江工業大學
• 主分類號: G01N23/20
• 分類號: G01N23/20;G05D23/30
• 代理公司: 杭州賽科專利代理事務所(普通合伙) 33230
• 代理人: 馮年群

本實用性公開了一種用于XRD測試設備的自控升溫裝置，其技術方案要點是包括樣品臺、設置于樣品臺下端的自控溫加熱層和內嵌于自控溫加熱層的熱電偶；所述自控溫加熱層包括從上至下依次設置的絕緣層、發熱層、電極層和保護層，所述電極層的側部設有第一連接件，所述熱電偶的側部設有第二連接件；所述樣品臺上端設有樣品槽。本實用新型結構簡單，操作方便,測試溫度范圍為室溫至600℃，適用于目前常見的Bruker D8?Advance和日本理學D/max2200VPC等型號的X射線衍射儀。

技術領域

本實用新型涉及分析儀器加熱樣品臺裝置,具體涉及一種具有自控溫性能的X射線衍射儀測試設備用升溫裝置。

背景技術

隨著科學研究的日益深入，以及對樣品的表征技術的要求的提高，X射線衍射技術已經成為最基本、最重要的一種結構測試手段之一，特別在凝聚態物理、材料科學、生命醫學、化學化工、地學、礦物學、環境科學、考古學、歷史學等眾多領域發揮了積極作用，并且隨著原位技術的發展，實現原位觀測材料動態變化過程中各階段物質內部微觀結構的變化變得更為重要，基于此目前部分儀器生產廠家早已開始對現有的材料表征設備增加輔助配件，升級功能，以滿足廣泛使用的原位技術。

目前在進行高溫原位物相分析的研究時，一般都需要將基本樣品臺或模塊卸下,換成購買的昂貴的高溫附件，并且還需要對X射線衍射儀的參數進行重新調整，更換儀器的附件不僅操作復雜,而且需要花費大量時間,甚至有可能對儀器的基本性能造成損壞。特別是當所測試的樣品對升溫的精度不高的時候, 購買更換昂貴的高溫附件就顯得費時費力，所以設計出一種結構簡單,使用方便的可控升溫裝置顯得尤為重要。

實用新型內容

針對于在現有的XRD儀器在進行原位高溫測試中裝卸更換昂貴的樣品臺附件或加熱模塊,反復調整儀器參數時所出現的操作繁瑣,費時費力等問題,提供了一種XRD測試設備用自控溫升溫裝置，其結構簡單，操作方便,測試溫度范圍為室溫至600℃，適用于目前常見的Bruker D8-Advance 和日本理學 D/max2200VPC等型號的 X射線衍射儀。

為解決上述問題，本實用新型所實現的技術方案為：一種用于XRD測試設備的自控升溫裝置，包括樣品臺、設置于樣品臺下端的自控溫加熱層和內嵌于自控溫加熱層的熱電偶；所述自控溫加熱層包括從上至下依次設置的絕緣層、發熱層、電極層和保護層，所述電極層的側部設有第一連接件，所述熱電偶的側部設有第二連接件；所述樣品臺上端設有樣品槽。

通過采用上述技術方案，所述樣品槽用于裝載待測樣品，熱電偶用于檢測待測樣品的實時溫度，自控溫加熱層中的電極層和熱電偶分別通過第一連接件和第二連接件引出，轉接到控溫儀上，從而達到用于XRD測試設備的自控溫升溫的效果；絕緣層和保護層的設置提高了安全性。

本實用新型進一步設置為：配合所述自控溫加熱層設有轉接頭，所述轉接頭設有連接于控溫儀的轉接口。

通過采用上述技術方案，通過轉接口與控溫儀相連接，可以通過檢測實時溫度和調節輸入電壓達到測試中所需要的溫度，同時也方便連接使用，提高了安全性。

本實用新型進一步設置為：所述第一連接件包括連接于電極層的電極層引線、連接電極層引線與轉接頭的導線。

通過采用上述技術方案，電流通過導線和電極層引線傳輸給電極層，電極層產生的熱量通過絕緣層傳輸給樣品槽從而給待測樣品加熱。

本實用新型進一步設置為：所述熱電偶內嵌于保護層內，所述第二連接件包括穿入保護層與熱電偶連接的熱電偶引線、連接熱電偶與轉接頭的導線。

通過采用上述技術方案，使得熱電偶檢測的實時溫度數據更接近于樣品的實際溫度，使得實際所測得的數據更加準確。

本實用新型進一步設置為：所述樣品臺包括金屬、石英、玻璃和導熱聚合物材料中的任意一種或幾種。