[實用新型]DDR測試設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201922120611.0
• 申請日: 2019-11-29
• 公開（公告）號: CN211826341U
• 公開（公告）日: 2020-10-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉沖;李振華;楊元明
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳佰維存儲科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;H04M1/24
• 代理公司: 深圳市華勤知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44426
• 代理人: 隆毅

1.一種DDR測試設(shè)備，其特征在于，包括底座、設(shè)置在所述底座上的測試裝置和位于所述底座一側(cè)的屏幕支架，所述測試裝置包括電源開關(guān)、手機主板和若干測試按鈕，所述手機主板上設(shè)置有與其電連接的測試插座，所述手機主板還可與手機屏幕電連接，所述測試按鈕與所述手機主板上的功能按鍵對應(yīng)連接。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的DDR測試設(shè)備，其特征在于，所述屏幕支架包括與手機形狀相匹配的框架和兩支撐板，所述框架傾斜設(shè)置在所述底座上，所述支撐板設(shè)置在所述框架的兩側(cè)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的DDR測試設(shè)備，其特征在于，所述框架上設(shè)置有插頭，所述插頭可與手機上的接口電連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的DDR測試設(shè)備，其特征在于，所述測試插座包括用于放置DDR芯片的測試槽和可轉(zhuǎn)動地設(shè)置在所述測試槽上方的壓蓋，所述測試槽的底部設(shè)置有多個探針，所述壓蓋內(nèi)側(cè)設(shè)置有凸塊。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的DDR測試設(shè)備，其特征在于，所述壓蓋的前端設(shè)置有第一凹槽，所述第一凹槽內(nèi)設(shè)置有固定軸、套設(shè)在所述固定軸上的卡扣件和彈性件，所述彈性件的一端與所述第一凹槽的底部連接，另一端與所述卡扣件抵持；所述測試槽的一側(cè)設(shè)置有第二凹槽，所述第二凹槽內(nèi)設(shè)置有桿體，所述卡扣件可與所述桿體形成卡扣配合以固定所述壓蓋。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的DDR測試設(shè)備，其特征在于，還包括設(shè)置在所述屏幕支架上的安裝座和設(shè)置在所述安裝座上的電流表，所述電流表與所述手機主板電連接。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的DDR測試設(shè)備，其特征在于，所述電源開關(guān)為扭子開關(guān)，所述扭子開關(guān)具有三個檔位，三個所述檔位分別對應(yīng)于電池電源開、外接電源開和電源關(guān)，所述外接電源的電源接口設(shè)置在所述底座的后端。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的DDR測試設(shè)備，其特征在于，所述測試按鈕設(shè)置為三個，三個所述測試按鈕分別對應(yīng)連接所述手機主板上的開機鍵、音量增大鍵和音量減小鍵。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的DDR測試設(shè)備，其特征在于，所述手機主板上還設(shè)置有與其電連接的指示燈。