[實用新型]一種滯回信號檢測電路

有效

• 申請號: 201922079142.2
• 申請日: 2019-11-27
• 公開（公告）號: CN211554109U
• 公開（公告）日: 2020-09-22
• 發明（設計）人: 鄒亮
• 申請（專利權）人: 珠海復旦創新研究院
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00
• 代理公司: 北京慕達星云知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11465
• 代理人: 曹鵬飛

本實用新型公開了一種滯回信號檢測電路，包括：第一MOS管、第二MOS管、反相器INV1、反相器INV2和反相器INV3，第一MOS管的柵極連接輸入端，第一MOS管的漏極依次通過反相器INV1、反相器INV2、反相器INV3與輸出端相連；第一MOS管的源極與第二MOS管的漏極相連，第二MOS管的柵極連接在反相器INV1與反相器INV2之間；第二MOS管的源極和漏極之間連接有電阻R1。本實用新型不僅滯回電壓可以通過電流及電阻值進行調整，較為靈活，而且滯回電壓不會隨電源電壓變化而變化。

技術領域

本實用新型涉及邏輯信號檢測技術領域，更具體的說是涉及一種滯回信號檢測電路。

背景技術

檢測電路用于芯片輸入電壓信號的檢測，傳統的帶滯回的邏輯信號檢測電路如圖1所示，檢測電路的滯回電壓不能靈活調整，且上下限電壓及滯回電壓都會隨電源電壓變化而變化。

因此，如何提供一種滯回電壓可靈活調整的滯回信號檢測電路成為了本領域技術人員亟需解決的問題。

實用新型內容

有鑒于此，本實用新型提供了一種滯回信號檢測電路，不僅滯回電壓可以通過電流及電阻值進行調整，較為靈活，而且滯回電壓不會隨電源電壓變化而變化。

為了實現上述目的，本實用新型采用如下技術方案：

一種滯回信號檢測電路，包括：第一MOS管、第二MOS管、反相器INV1、反相器INV2和反相器INV3，其中，所述第一MOS管的柵極連接輸入端，所述第一MOS管的漏極依次通過所述反相器INV1、所述反相器INV2、所述反相器INV3與輸出端相連；所述第一MOS管的源極與所述第二MOS管的漏極相連，所述第二MOS管的柵極連接在所述反相器INV1與所述反相器INV2之間；所述第二MOS管的源極和漏極之間連接有電阻R1。

優選的，所述反相器INV1、反相器INV2和反相器INV3的一端連接電源 VDD，另一端連接電源VSS。

優選的，所述第一MOS管與輸入端之間設置有電阻R2。

優選的，所述第一MOS管采用N型MOS管M1，所述第二MOS管采用N 型MOS管M2。

優選的，所述N型MOS管M1的柵極連接輸入端，所述N型MOS管M1 的漏極分別與所述反相器INV1、電源VDD相連，所述反相器INV1依次通過所述反相器INV2、所述反相器INV3與輸出端相連；所述N型MOS管M1的源極與所述N型MOS管M2的漏極相連，所述N型MOS管M2的柵極連接在所述反相器INV1與所述反相器INV2之間，所述N型MOS管M2的源極連接電源VSS；所述N型MOS管M2的源極和漏極之間連接有電阻R1。

優選的，所述第一MOS管采用P型MOS管M3，所述第二MOS管采用P 型MOS管M4。

優選的，所述P型MOS管M3的柵極連接輸入端，所述P型MOS管M3 的漏極分別與所述反相器INV1、電源VSS相連，所述反相器INV1依次通過所述反相器INV2、所述反相器INV3與輸出端相連；所述P型MOS管M3的源極與所述P型MOS管M4的漏極相連，所述P型MOS管M4的柵極連接在所述反相器INV1與所述反相器INV2之間，所述P型MOS管M4的源極連接電源 VDD；所述P型MOS管M4的源極和漏極之間連接有電阻R1。

本實用新型的有益效果在于：

本實用新型電路簡單，易于實現，可以用于芯片輸入電壓信號的檢測，在檢測電路中加入滯回，可以有效的去除輸入信號中噪聲抖動，引起的輸出信號的毛刺。另外，本實用新型的滯回電壓可以通過電流及電阻值進行調整，較為靈活，滯回電壓不會隨電源電壓變化而變化。

附圖說明