[實用新型]用于測量微納顆粒的裝置

有效

• 申請號: 201922061879.1
• 申請日: 2019-11-22
• 公開（公告）號: CN211122429U
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發明（設計）人: 熊貴;柳可;王哲
• 申請（專利權）人: 瑞芯智造（深圳）科技有限公司
• 主分類號: G01N15/00
• 分類號: G01N15/00;G01N15/02;G01N15/06
• 代理公司: 深圳市隆天聯鼎知識產權代理有限公司 44232
• 代理人: 劉抗美

本實用新型揭示了一種用于測量微納顆粒的裝置，該裝置包括：第一腔室、微孔膜、電泳槽和第二腔室，其中所述微孔膜位于所述第一腔室與所述電泳槽之間，并且所述微孔膜上具有微孔，所述第一腔室與所述電泳槽通過所述微孔相連通；所述第二腔室與所述電泳槽相鄰，并具有位于所述第二腔室與所述電泳槽之間的第一側壁，所述第一側壁上具有用于連通所述第二腔室與所述電泳槽的第一開口；所述微孔的內徑小于所述電泳槽的內徑，所述電泳槽的內徑小于所述第二腔室的內徑；所述第一腔室具有第一電極，所述第二腔室具有第二電極。本實用新型的技術方案能夠測量溶液中單顆微納顆粒的屬性。

技術領域

本實用新型涉及微納顆粒測量技術領域，具體而言，涉及一種用于測量微納顆粒的裝置。

背景技術

基于顆粒物質的特殊屬性，顆粒物質被廣泛地應用于醫藥、化工、材料等領域，因此在顆粒物質的應用中，對于顆粒物質(以下簡稱為顆粒)屬性的測量十分重要。

目前，常用的顆粒測量設備包括光學顯微鏡、掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡，但由于光學顯微鏡分辨率較低，使用光學顯微鏡很難觀測到尺寸小于300納米的顆粒，不適用于微納顆粒的測量，掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡雖然具有超高的分辨率，但其檢測環境需為真空狀態，不能測量顆粒在溶液中的屬性，從而無法測量微納顆粒在活體條件下的屬性。常用的顆粒測量方法包括動態光散射法，其能夠快速地進行大規模的顆粒檢測，但不能提取單顆顆粒的特征。

因此，現有技術中仍存在無法測量單顆微納顆粒在活體條件下的屬性的問題。

發明內容

為解決上述技術問題，本實用新型提供一種用于測量微納顆粒的裝置，用以對單顆微納顆粒在活體條件下的屬性進行檢測。

其中，本實用新型所采用的技術方案為：

一種用于測量微納顆粒的裝置，包括第一腔室、微孔膜、電泳槽和第二腔室，其中，所述微孔膜位于所述第一腔室與所述電泳槽之間，并且所述微孔膜上具有微孔，所述第一腔室與所述電泳槽通過所述微孔相連通；所述第二腔室與所述電泳槽相鄰，并具有位于所述第二腔室與所述電泳槽之間的第一側壁，所述第一側壁上具有用于連通所述第二腔室與所述電泳槽的第一開口；所述微孔的內徑小于所述電泳槽的內徑，所述電泳槽的內徑小于所述第二腔室的內徑；所述第一腔室具有第一電極，所述第二腔室具有第二電極。

在另一示例性實施例中，所述電泳槽的內徑為所述微孔的內徑的2倍或以上，所述電泳槽的長度為所述微孔膜的厚度的2倍或以上。

在另一示例性實施例中，所述微孔的內徑為1納米至10微米，所述電泳槽的內徑為2納米至20微米。

在另一示例性實施例中，所述微孔膜的厚度為1納米至10微米，所述電泳槽的長度為2納米至20微米。

在另一示例性實施例中，所述第一開口的內徑等于所述電泳槽的內徑。

在另一示例性實施例中，在測量狀態下，所述第一腔室、所述電泳槽和所述第二腔室中填充有電解液，待測量的微納顆粒隨著所述電解液通過所述微孔和所述電泳槽。

在另一示例性實施例中，所述裝置還包括液體驅動器，所述液體驅動器與所述第二腔室相鄰，并且位于與所述第一側壁相鄰或者相對的側壁上，用于驅動所述裝置內的液體流動。

在另一示例性實施例中，所述微孔膜是無機膜。

在另一示例性實施例中，所述微孔膜與所述第一腔室、所述電泳槽和所述第二腔室是一體成型的。

在另一示例性實施例中，所述微孔的中心與所述第一開口的中心平行于所述電泳槽的長度方向。

在另一示例性實施例中，所述電泳槽的形狀為圓柱體、長方體、錐形臺、梯形臺中的任意一種。