[實(shí)用新型]一種半導(dǎo)體器件測(cè)試用的疊層母排連接裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201922024992.2 | 申請(qǐng)日: | 2019-11-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN211348347U | 公開(公告)日: | 2020-08-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 韓正;柏加來;朱國軍;唐德平 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 合肥科威爾電源系統(tǒng)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/04 | 分類號(hào): | G01R1/04;G01R31/26 |
| 代理公司: | 合肥市浩智運(yùn)專利代理事務(wù)所(普通合伙) 34124 | 代理人: | 張景云 |
| 地址: | 230088 安徽省合肥市*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體器件 測(cè)試 疊層母排 連接 裝置 | ||
1.一種半導(dǎo)體器件測(cè)試用的疊層母排連接裝置,其特征在于,包括功率輸入端(20)、第一疊層母排(21)、支撐電容(22)、限流IGBT(23)、第二疊層母排(24)、傳感器(25),所述第一疊層母排(21)的后側(cè)固定設(shè)置有支撐電容(22),所述第一疊層母排(21)的底部設(shè)置有限流IGBT(23),所述限流IGBT(23)的下端還設(shè)置有第二疊層母排(24),所述第二疊層母排(24)的右側(cè)設(shè)置有傳感器(25)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件測(cè)試用的疊層母排連接裝置,其特征在于,所述傳感器(25)為電流傳感器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件測(cè)試用的疊層母排連接裝置,其特征在于,所述傳感器(25)型號(hào)為HCS-LTS06A LTS06NP TBC06DS5。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一所述的半導(dǎo)體器件測(cè)試用的疊層母排連接裝置,其特征在于,所述第二疊層母排(24)的下端左側(cè)設(shè)有母線正極層(26)、電感層(27)、母線負(fù)極層(28)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一所述的半導(dǎo)體器件測(cè)試用的疊層母排連接裝置,其特征在于,所述第二疊層母排(24)的下端左側(cè)從上往下依次設(shè)有母線正極層(26)、電感層(27)、母線負(fù)極層(28)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于合肥科威爾電源系統(tǒng)股份有限公司,未經(jīng)合肥科威爾電源系統(tǒng)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201922024992.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





