[實用新型]一種射頻測試夾具

有效

• 申請號: 201921999513.2
• 申請日: 2019-11-18
• 公開（公告）號: CN211402450U
• 公開（公告）日: 2020-09-01
• 發明（設計）人: 胡江波;何志偉;李俊杰;杜軍紅;湯肖迅
• 申請（專利權）人: 上海龍旗科技股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R29/08
• 代理公司: 上海百一領御專利代理事務所(普通合伙) 31243
• 代理人: 王奎宇;李小雙

本申請提供了一種射頻測試夾具,包括底板機構、上壓板機構和滑動機構，所述上壓板機構設置在所述底板機構的正上方，可以上下移動，所述滑動機構可以在所述上壓板機構的外側和正下方之間水平滑動，所述上壓板機構上設有測試探針和可浮動測試組件，所述滑動機構用來安裝待測器件，其中，所述可浮動測試組件包括浮動塊，限位件、彈性件、導向件和射頻測試頭，所述彈性件可以被壓縮，在所述射頻測試頭卡死沒有回縮復位的時候，射頻測試頭以射頻座上接觸點為支撐將可浮動測試組件頂起，可浮動測試組件的有效滑行距離大于過壓距離，且可浮動測試組件的彈性件最大彈力小于射頻座的最大承受力，進而使待測器件的射頻座不會被壓壞。

技術領域

本申請涉及氣動治具領域，尤其涉及一種射頻測試夾具。

背景技術

RF(RadioFrequency，射頻)，表示可以輻射到空間的電磁頻率，頻率范圍從300kHz～300GHz之間，是一種高頻交流變化電磁波的簡稱。RF通信作為無線通信技術領域中的重點技術，在很多無線通信產品上均有應用。

為了測試無線產品的無線信號，目前是通過射頻測試頭與待測器件的射頻座接觸配合，然后采集無線信號的相關參數來對無線信號是否達到要求。在使用過程中，由于結構形變或彈簧失效，導致射頻頭無法壓縮，在射頻測試頭下壓與待測件上的射頻座接觸時會行成過壓，其中，過壓是指壓力超過預設壓力。射頻座的承受力是有限的，隨著下壓距離的增加，射頻測試頭對射頻座的壓力會持續增大而超過射頻座的承受力，導致射頻座被壓壞。

實用新型內容

鑒于目前射頻測試夾具存在的上述不足，本申請提供一種射頻測試夾具，能夠在測試過程中，當所述射頻測試頭卡死時，待測器件的射頻座不被壓壞。

為達到上述目的，本申請的實施例采用如下技術方案：

一種射頻測試夾具，包括：

底板機構；

上壓板機構，所述上壓板機構設置在所述底板機構的上方，可以豎直方向上下移動，所述上壓板機構上設有針板，所述針板上設有多組測試探針和多組可浮動測試組件；

滑動機構，所述滑動機構與所述底板機構滑動連接，可以沿水平方向從所述上壓板機構的外側滑動至所述上壓板機構的正下方，所述滑動機構用來固定待測器件；

其中，所述可浮動測試組件包括浮動塊，限位件、彈性件、導向件和射頻測試頭，所述浮動塊設置在所述針板的上方，所述浮動塊上設有限位通孔、導向通孔和安裝槽，所述限位通孔內設有第一卡擋臺階，所述限位件的下端穿過所述限位通孔與所述針板固定連接，所述限位件的上端設有第二卡擋臺階，所述彈性件套設在所述限位件上且其兩端分別被所述第一卡擋臺階和第二卡擋臺階卡擋；所述導向件與所述導向通孔的內壁滑動連接，所述導向件的下端穿過所述導向通孔與所述針板固結，上端向上延伸至所述導向通孔的外側，所述射頻測試頭的下端穿過所述安裝槽和所述針板上的安裝孔，上端與所述安裝槽固定連接，所述彈性件的壓縮行程大于所述射頻測試頭向下運動的行程。

將待測器件固定在所述滑動機構上之后，所述滑動機構和待測器件水平運動至上壓板機構的正下方，然后，上壓板機構向下運動，使所述射頻測試頭與待測器件上配合的射頻座接觸，開始測試。通過設置可浮動測試組件，使所述射頻測試頭具備了緩沖功能，在所述射頻測試頭卡死，無法回縮復位的時候，在所述射頻測試頭卡死，無法回縮復位的時候，測試開始后上壓板機構向下運動，使射頻測試頭與射頻座接觸，直至到達預設位置，由于射頻測試頭無法壓縮，所以當過壓形成時，射頻測試頭以射頻座上接觸點為支撐將可浮動測試組件23頂起，可浮動測試組件的有效滑行距離大于過壓距離，且可浮動測試組件的彈性件最大彈力小于射頻座的最大承受力，從而起到保護作用。

優選的，所述限位通孔設置為至少兩個。限位通孔的數量可以根據受力平衡的需要進行設置，并優選將所述限位通孔均勻布置在所述安裝槽的周圍。