[實(shí)用新型]線束通斷檢測(cè)系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201921929535.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-11-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN211348592U | 公開(公告)日: | 2020-08-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張夏博;王力;劉柯宏 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 日立電梯(成都)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/54 | 分類號(hào): | G01R31/54;G01R31/55 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 610017 四川省*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 線束通斷 檢測(cè) 系統(tǒng) | ||
本實(shí)用新型提供一種線束通斷檢測(cè)系統(tǒng),包括:輸入單元、處理器、檢測(cè)點(diǎn)位擴(kuò)展單元,所述輸入單元,用于向所述處理器輸入檢測(cè)線束的編號(hào);所述處理器,用于接收所述編號(hào),并根據(jù)所述編號(hào)檢測(cè)編號(hào)對(duì)應(yīng)的線束的通斷;所述檢測(cè)點(diǎn)位擴(kuò)展單元,用于所述線束檢測(cè)系統(tǒng)的線束檢測(cè)點(diǎn)位,所述檢測(cè)點(diǎn)位擴(kuò)展單元與所述處理器通信連接;所述檢測(cè)點(diǎn)位擴(kuò)展單元包括至少一個(gè)總線I/O擴(kuò)展器。通過(guò)檢測(cè)點(diǎn)位擴(kuò)展單元可將檢測(cè)點(diǎn)擴(kuò)展至6400個(gè)檢測(cè)點(diǎn),以解決現(xiàn)有監(jiān)測(cè)點(diǎn)不足的問(wèn)題,且本系統(tǒng)提供的檢測(cè)原理簡(jiǎn)單、便于操作。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及電梯控制柜和電器箱的配線檢測(cè)領(lǐng)域,尤其涉及一種線束通斷檢測(cè)系統(tǒng)。
背景技術(shù)
由于線束功能的多樣化及線束繁多,為了能夠生產(chǎn)出合格的質(zhì)量高的線束,對(duì)線束檢測(cè)手段也提出了更高的要求。電梯控制柜和電器箱在裝配前需要根據(jù)所帶功能在配線工裝上進(jìn)行線束配線,由于線束繁多,配線人員在配線完成后需要對(duì)所有的電氣回路進(jìn)行通斷檢測(cè),以確定沒(méi)有線束出現(xiàn)錯(cuò)接或漏接現(xiàn)象。目前,市面上現(xiàn)有的線材測(cè)試儀的測(cè)試點(diǎn)位通常在2000個(gè)左右,測(cè)試儀價(jià)格昂貴,且檢測(cè)原理復(fù)雜,不能滿足更大測(cè)試點(diǎn)位的需求。
因此,亟需一種能實(shí)現(xiàn)更大測(cè)試點(diǎn)位測(cè)試需求的線束通斷檢測(cè)系統(tǒng)。
實(shí)用新型內(nèi)容
有鑒于此,本實(shí)用新型提供一種新型線束通斷測(cè)試系統(tǒng)以解決現(xiàn)有檢測(cè)儀檢測(cè)點(diǎn)位不足、檢測(cè)原理復(fù)雜的問(wèn)題。
本實(shí)用新型提供一種線束通斷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:包括:輸入單元、處理器和檢測(cè)點(diǎn)位擴(kuò)展單元,
所述輸入單元,用于向所述處理器輸入檢測(cè)線束的編號(hào);
所述處理器,用于接收所述編號(hào),并根據(jù)所述編號(hào)檢測(cè)編號(hào)對(duì)應(yīng)的線束的通斷;
所述檢測(cè)點(diǎn)位擴(kuò)展單元,用于所述線束通斷檢測(cè)系統(tǒng)的線束檢測(cè)點(diǎn)位,所述檢測(cè)點(diǎn)位擴(kuò)展單元與所述處理器通信連接;
所述檢測(cè)點(diǎn)位擴(kuò)展單元包括至少一個(gè)總線I/O擴(kuò)展器。
進(jìn)一步,所述輸入單元包括上位機(jī)和通信模塊,所述上位機(jī)通過(guò)通信模塊與所述處理器通信連接。
進(jìn)一步,所述通信模塊采用RS232串口通信模塊。
進(jìn)一步,所述檢測(cè)系統(tǒng)還包括顯示模塊,所述顯示模塊與所述處理器的輸出端連接,用于接收所述處理器的信號(hào),并顯示。
進(jìn)一步,所述多個(gè)I/O擴(kuò)展器為PCF8575并聯(lián)后與所述處理器的輸入輸出口通信連接。
進(jìn)一步,所述總線I/O擴(kuò)展器為PCF8575。
進(jìn)一步,所述處理器采用ARM處理器。
進(jìn)一步,所述總線I/O擴(kuò)展器為PCF8575的數(shù)量為8個(gè)。
本實(shí)用新型的有益技術(shù)效果:通過(guò)檢測(cè)點(diǎn)位擴(kuò)展單元可將檢測(cè)點(diǎn)擴(kuò)展至6400個(gè)檢測(cè)點(diǎn),以解決現(xiàn)有監(jiān)測(cè)點(diǎn)不足的問(wèn)題,且本系統(tǒng)提供的檢測(cè)原理簡(jiǎn)單、便于操作。
附圖說(shuō)明
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述:
圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合說(shuō)明書附圖對(duì)本實(shí)用新型做出進(jìn)一步的說(shuō)明:
圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖,其中,序號(hào)1:上位機(jī)電腦;序號(hào)2:RS232串口通訊模塊;序號(hào)3:下位機(jī)嵌入式系統(tǒng),ARM作處理器;序號(hào)4:PCF8575聯(lián)級(jí)IIC總線擴(kuò)展IO口模塊。
本實(shí)用新型提供的一種線束通斷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:包括:輸入單元、處理器和檢測(cè)點(diǎn)位擴(kuò)展單元,
所述輸入單元,用于向所述處理器輸入檢測(cè)線束的編號(hào);
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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