[實用新型]電容測試機構

有效

• 申請號: 201921885186.8
• 申請日: 2019-11-05
• 公開（公告）號: CN211014389U
• 公開（公告）日: 2020-07-14
• 發明（設計）人: 陳安;孫飛
• 申請（專利權）人: 蘇州菲默斯電子設備有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R27/26;G01R31/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種電容測試機構，其特征在于，所述電容測試機構包括：夾持單元以及測試單元；

所述夾持單元包括：夾塊、驅動所述夾塊前后運動的夾持氣缸，所述夾塊具有一夾持空間，所述夾持氣缸的氣桿通過一連接塊與所述夾塊的背面相連接，所述測試單元固定安裝于所述夾持單元的頂部位置，所述測試單元包括：電容測試頭、網絡測試頭、驅動所述電容測試頭升降的測試氣桿、驅動所述網絡測試頭前后運動的測試氣缸，所述電容測試頭為多個，多個電容測試頭按照測試位置并排設置，所述網絡測試頭為至少兩個。

2.根據權利要求1所述的電容測試機構，其特征在于，所述氣桿為三個，該三個氣桿同步驅動所述夾塊進行動作。

3.根據權利要求1所述的電容測試機構，其特征在于，所述夾塊為一U形夾，所述U形夾的寬度與被測產品的寬度保持一致。

4.根據權利要求1所述的電容測試機構，其特征在于，所述電容測試頭位于所述網絡測試頭的上方，所述電容測試頭為三個。

5.根據權利要求1所述的電容測試機構，其特征在于，所述網絡測試頭分別設置于連接在所述測試氣缸氣桿的座體上。

6.根據權利要求1所述的電容測試機構，其特征在于，所述測試單元還包括導向桿，所述測試氣桿驅動所述電容測試頭沿所述導向桿升降運動。