[實用新型]一種集成視場、調制傳遞函數和對中測量的鏡頭檢測設備

有效

• 申請號: 201921869767.2
• 申請日: 2019-11-01
• 公開（公告）號: CN211061152U
• 公開（公告）日: 2020-07-21
• 發明（設計）人: 盧道潑;嚴小超
• 申請（專利權）人: 信利光電股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01M11/04
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 李健威

本實用新型公開了一種集成視場、調制傳遞函數和對中測量的鏡頭檢測設備，包括設置于待測光學鏡頭光軸外的多個MTF測量裝置、設置于待測光學鏡頭光軸上的測試光源，所述測試光源設置于待測光學鏡頭背向所述多個MTF測量裝置的一端；所述多個MTF測量裝置設置于待測光學鏡頭的像場中的多個位置處以測量調制傳遞函數；所述多個MTF測量裝置可沿待測光學鏡頭的像場中心向外輻射方向做圓弧移動。該鏡頭檢測設備集成了視場、調制傳遞函數和對中測量功能，具有測量項目多、測量速度快的優勢。

技術領域

本實用新型涉及鏡頭檢測技術，尤其涉及一種鏡頭檢測設備。

背景技術

光學鏡頭是攝像頭模組中的關鍵光學元件，用于將光線聚焦后投影至傳感器上進行成像，光學鏡頭直接影響到成像質量，因此在出廠前對光學鏡頭進行檢測，是一項重要工作。

在一份公開號為CN108982070A的專利文件中公開了一種用于檢測調制傳遞函數以及使光學系統對中的設備，包括離軸設置的所述多個MTF測量裝置和在軸設置的對中測量裝置，所述多個MTF測量裝置設置在所述光學系統的像場中的多個位置上，以測量所述光學系統的像場中的多個位置上的MTF值，所述對中測量裝置設置在所述光學系統的像場中心，以測量所述光學系統的透鏡對中程度，適用于工業生產，但是檢測項目有限，僅可檢測所述光學系統的有效焦距ELF和調制傳遞函數MTF，跟視場相關的一些光學參數（比如視場角FOV、主光線入射角CRA等）則無法檢測。

實用新型內容

為了解決上述現有技術的不足，本實用新型提供一種鏡頭檢測設備，集成了視場、調制傳遞函數和對中測量功能，具有測量項目多、測量速度快的優勢。

本實用新型所要解決的技術問題通過以下技術方案予以實現：

一種集成視場、調制傳遞函數和對中測量的鏡頭檢測設備，包括設置于待測光學鏡頭光軸外的多個MTF測量裝置、設置于待測光學鏡頭光軸上的測試光源，所述測試光源設置于待測光學鏡頭背向所述多個MTF測量裝置的一端；所述多個MTF測量裝置設置于待測光學鏡頭的像場中的多個位置處以測量調制傳遞函數；所述多個MTF測量裝置可沿待測光學鏡頭的像場中心向外輻射方向做圓弧移動。

進一步地，還包括沿待測光學鏡頭的像場中心向外輻射方向設置的多個圓弧滑軌以及驅動裝置，所述MTF測量裝置滑動連接于對應的圓弧滑軌上，所述驅動裝置連接驅動所述多個MTF測量裝置在對應的圓弧滑軌上做圓弧移動。

進一步地，所述驅動裝置的數量為一個，同時連接驅動所有MTF測量裝置在對應的圓弧滑軌上做圓弧移動，或者，所述驅動裝置的數量為多個，分別連接驅動對應的MTF測量裝置在對應的圓弧滑軌上做圓弧移動。

進一步地，所述驅動裝置包括驅動電機或可調氣缸。

進一步地，還包括控制裝置，連接于所述驅動裝置，以對所述驅動裝置進行控制。

進一步地，還包括設置于待測光學鏡頭光軸上的對中測量裝置。

進一步地，還包括鏡頭托盤，具有用于設置對應測光學鏡頭的至少一托盤孔。

進一步地，還包括與所述鏡頭托盤連接的平移裝置，用于帶動所述鏡頭托盤在平面上移動，該平面垂直于所述待測光學鏡頭光軸。

進一步地，所述測試光源的出光面上或者所述測試光源和待測光學鏡頭之間設置有測試樣圖。

進一步地，所述測試樣圖上具有視場刻度線和/或十字標。