[實用新型]電能表雙標準校驗裝置

有效

• 申請號: 201921845175.7
• 申請日: 2019-10-30
• 公開（公告）號: CN211123238U
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發明（設計）人: 張勉;姜鵬飛;陳昊;李二鶴;于冰;范宇;吳昊文;王鐘瑞;高翔;周建濤;范鵬;郭美玉;黃文凱
• 申請（專利權）人: 河南省計量科學研究院
• 主分類號: G01R35/04
• 分類號: G01R35/04
• 代理公司: 鄭州德勤知識產權代理有限公司 41128
• 代理人: 武亞楠;黃紅梅

1.一種電能表雙標準校驗裝置，其特征在于：包括總控制器、誤差檢測電路、測試電源、標準表Ⅰ和標準表Ⅱ；

所述測試電源，分別連接所述標準表Ⅰ、所述標準表Ⅱ和待檢定電能表，為所述標準表Ⅰ、所述標準表Ⅱ和待檢定電能表供電；

所述誤差檢測電路，分別連接所述標準表Ⅰ、所述標準表Ⅱ和待檢定電能表，以分別接收所述標準表Ⅰ、所述標準表Ⅱ和待檢定電能表輸出的電能脈沖；將所述標準表Ⅰ輸出的電能脈沖和待檢定電能表輸出的電能脈沖進行比較并輸出誤差檢測結果Ⅰ，以及將所述標準表Ⅱ輸出的電能脈沖和待檢定電能表輸出的電能脈沖進行比較并輸出誤差檢測結果Ⅱ；

所述總控制器，連接所述誤差檢測電路，用于接收所述誤差檢測結果Ⅰ和所述誤差檢測結果Ⅱ，并根據所述誤差檢測結果Ⅰ和所述誤差檢測結果Ⅱ的一致性輸出校驗結果。

2.根據權利要求1所述的電能表雙標準校驗裝置，其特征在于：所述測試電源包括依次連接的正弦波合成電路、正弦脈寬調制電路、開關放大電路和控制輸出電路。

3.根據權利要求2所述的電能表雙標準校驗裝置，其特征在于：所述正弦波合成電路包括ARM處理器、SRAM存儲器和數模轉換電路，所述ARM處理器通過地址總線連接所述數模轉換電路，所述SRAM存儲器分別連接所述ARM處理器和所述數模轉換電路。

4.根據權利要求3所述的電能表雙標準校驗裝置，其特征在于：所述正弦脈寬調制電路包括整流器、加法器Ⅰ、加法器Ⅱ、乘法器、三角波發生器和反相器；所述加法器Ⅰ的輸入端分別連接所述數模轉換電路的輸出端和所述整流器的輸出端，所述整流器的輸入端通過緩沖器連接所述控制輸出電路的輸出端；所述乘法器的輸入端分別所述加法器Ⅰ的輸出端和所述數模轉換電路的輸出端，所述加法器Ⅱ的輸入端分別連接所述乘法器的輸出端和所述三角波發生器，所述加法器Ⅱ的輸出端連接所述開關放大電路的輸入端。

5.根據權利要求4所述的電能表雙標準校驗裝置，其特征在于：所述開關放大電路包括開關管Ⅰ、開關管Ⅱ、開關管Ⅲ和開關管Ⅳ；其中，所述開關管Ⅰ的柵極分別連接所述加法器Ⅱ的輸出端和開關管Ⅳ的柵極，所述開關管Ⅰ的漏極連接所述開關管Ⅲ的漏極；所述開關管Ⅱ的柵極通過所述反相器連接所述加法器Ⅱ的輸出端，所述開關管Ⅱ的柵極還連接所述開關管Ⅲ的柵極，所述開關管Ⅱ的源極連接所述開關管Ⅳ的源極；所述開關管Ⅰ的源極連接所述開關管Ⅱ的漏極，作為所述開關放大電路的第一輸出端；所述開關管Ⅲ的源極連接所述開關管Ⅳ的漏極，作為所述開關放大電路的第二輸出端。

6.根據權利要求1所述的電能表雙標準校驗裝置，其特征在于：所述誤差檢測電路包括微處理器、脈沖計數器和CAN接口；所述脈沖計數器一端連接所述微處理器，另一端分別連接所述標準表Ⅰ、所述標準表Ⅱ和待檢定電能表；所述CAN接口連接所述微處理器。

7.根據權利要求6所述的電能表雙標準校驗裝置，其特征在于：所述誤差檢測電路的微處理器還連接脈沖整形電路；所述脈沖整形電路為施密特整形電路。

8.根據權利要求1所述的電能表雙標準校驗裝置，其特征在于：所述總控制器包括處理器、微型打印機、顯示屏、按鍵電路、CAN接口電路和RS232接口電路；所述微型打印機連接所述處理器用以打印校驗數據，所述顯示屏連接所述處理器用以展示校驗數據，所述按鍵電路連接所述處理器用以輸入參數，所述CAN接口電路和所述RS232接口電路分別連接所述處理器用以提供外接接口。

9.根據權利要求1所述的電能表雙標準校驗裝置，其特征在于：所述總控制器，通過RS232接口分別連接所述測試電源、所述標準表Ⅰ和所述標準表Ⅱ。

10.根據權利要求1所述的電能表雙標準校驗裝置，其特征在于：所述標準表Ⅰ和所述標準表Ⅱ均采用數字式標準功率電能表。