[實用新型]外觀檢測設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201921805712.5
• 申請日: 2019-10-23
• 公開（公告）號: CN210981343U
• 公開（公告）日: 2020-07-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 謝衛(wèi)鋒;孫杰;尹建剛;高云峰
• 申請（專利權(quán)）人: 大族激光科技產(chǎn)業(yè)集團股份有限公司
• 主分類號: G01D21/02
• 分類號: G01D21/02
• 代理公司: 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 劉欣

本實用新型涉及一種外觀檢測設(shè)備，用于對被檢測件的外觀進行檢測，被檢測件上設(shè)置有加工孔，外觀檢測設(shè)備包括：第一檢測組件；第二檢測組件，包括承載單元、輸送單元和第二檢測單元；搬運組件，抓取被檢測件至所述第一檢測組件，所述搬運組件抓取所述被檢測件運動以通過所述第一檢測組件對所述被檢測件不同的位置進行第一次檢測，然后所述搬運組件將所述被檢測件放置于所述承載單元，所述輸送單元驅(qū)動所述第二檢測單元靠近所述被檢測件以進行第二次檢測；其中，所述第一次檢測至少包括檢測所述被檢測件表面是否有凹坑或缺角，所述第二次檢測至少包括檢測所述加工孔在所述被檢測件的位置是否滿足預(yù)設(shè)距離。具有檢測效率高、檢測精度高的優(yōu)點。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種外觀檢測設(shè)備。

背景技術(shù)

路由器(Router)又稱網(wǎng)關(guān)設(shè)備(Gateway)，是用于連接多個邏輯上分開的網(wǎng)絡(luò)，所謂邏輯網(wǎng)絡(luò)是代表一個單獨的網(wǎng)絡(luò)或者一個子網(wǎng)。當數(shù)據(jù)從一個子網(wǎng)傳輸?shù)搅硪粋€子網(wǎng)時，可通過路由器的路由功能來完成。

近幾年，伴隨路由器技術(shù)的提升以及家用路由器數(shù)量的增加，路由器已經(jīng)進入每家每戶，成為上網(wǎng)必不可少的設(shè)備。屏蔽罩是路由器中電子元件的防護元件，因此對屏蔽罩的需求也越來越旺盛。如果通過傳統(tǒng)的人工檢測屏蔽罩的外觀，很容易出現(xiàn)漏檢或誤檢的情況。人工檢測對工人素質(zhì)要求高，檢測效率慢。

實用新型內(nèi)容

基于此，有必要針對上述技術(shù)問題，提供一種檢測效率高、檢測精度高的外觀檢測設(shè)備。

一種外觀檢測設(shè)備，用于對被檢測件的外觀進行檢測，所述被檢測件上設(shè)置有加工孔，所述外觀檢測設(shè)備包括：

第一檢測組件；

第二檢測組件，包括承載單元、輸送單元和第二檢測單元；

搬運組件，抓取被檢測件至所述第一檢測組件，所述搬運組件抓取所述被檢測件運動以通過所述第一檢測組件對所述被檢測件不同的位置進行第一次檢測，然后所述搬運組件將所述被檢測件放置于所述承載單元，所述輸送單元驅(qū)動所述第二檢測單元靠近所述被檢測件以進行第二次檢測；

其中，所述第一次檢測至少包括檢測所述被檢測件表面是否有凹坑或缺角，所述第二次檢測至少包括檢測所述加工孔在所述被檢測件的位置是否滿足預(yù)設(shè)距離。

在其中一個實施例中，所述第二檢測組件包括透光板和發(fā)光件，所述透光板設(shè)置在所述發(fā)光件和所述第二檢測單元之間，所述透光板發(fā)出的光透過所述發(fā)光件進入所述第二檢測單元，所述被檢測件放置在所述透光板上遮擋部分光以使所述被檢測件形成清晰的輪廓。

在其中一個實施例中，所述輸送單元包括第一輸送導軌和第二輸送導軌，所述第一輸送導軌沿著第一方向延伸，所述第二輸送導軌沿著第二方向延伸，所述第一輸送導軌上設(shè)置有第一驅(qū)動件和第一移動件，所述第二輸送導軌上設(shè)置有第二驅(qū)動件和第二移動件，所述第二輸送導軌設(shè)置在第一移動件上，所述第二檢測單元設(shè)置在第二移動件上。

在其中一個實施例中，所述第一檢測組件包括支架和第一檢測單元，所述第一檢測單元和第二檢測單元均為CCD檢測單元。

在其中一個實施例中，所述CCD檢測單元包括相機、鏡頭和光源，所述相機信號連接有分析系統(tǒng)，所述分析系統(tǒng)信號連接有顯示裝置。

在其中一個實施例中，還包括用于盛放被檢測件的上料盤，所述上料盤設(shè)置有用于定位被檢測件的定位件，被檢測件與定位件的配合后，所述被檢測件相對于所述上料盤能夠活動。

在其中一個實施例中，還包括位置糾偏組件，所述搬運組件從所述上料盤吸取所述被檢測件后，在所述位置糾偏組件上進行位置確定，以得到所述被檢測件最終的位置坐標。