[實用新型]一種基于雙光路的X射線成像探測裝置

有效

• 申請號: 201921767116.2
• 申請日: 2019-10-21
• 公開（公告）號: CN210863592U
• 公開（公告）日: 2020-06-26
• 發明（設計）人: 黎剛;王艷萍;張杰;易棲如;姜曉明
• 申請（專利權）人: 中國科學院高能物理研究所;中國科學院北京綜合研究中心
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04
• 代理公司: 北京天達知識產權代理事務所(普通合伙) 11386
• 代理人: 馬東偉

1.一種基于雙光路的X射線成像探測裝置，其特征在于，包括預處理組件、物鏡、分光鏡、第一管鏡、第二管鏡、第一相機和第二相機，所述第一管鏡和第二管鏡的結構參數相同，所述第一相機和第二相機的芯片尺寸及分辨率相同；

攜帶樣品信息的X射線垂直入射預處理組件，被吸收、轉化為攜帶樣品信息的可見光圖像，所述攜帶樣品信息的可見光圖像發出的光線被物鏡放大后經分光鏡分光，再分別經第一管鏡和第二管鏡聚焦至第一相機和第二相機，得到雙光路探測圖像。

2.根據權利要求1所述的一種基于雙光路的X射線成像探測裝置，其特征在于，所述預處理組件位于所述物鏡的物方焦平面，且所述物鏡的光軸垂直于所述預處理組件。

3.根據權利要求2所述的一種基于雙光路的X射線成像探測裝置，其特征在于，所述物鏡的光軸垂直于所述第一管鏡的光軸，并與第二管鏡的光軸位于同一直線上。

4.根據權利要求3所述的一種基于雙光路的X射線成像探測裝置，其特征在于，所述分光鏡為半反射半透射的分光棱鏡。

5.根據權利要求4所述的一種基于雙光路的X射線成像探測裝置，其特征在于，所述分光鏡與所述物鏡的光軸、第一管鏡的光軸和第二管鏡的光軸夾角均為45°。

6.根據權利要求5所述的一種基于雙光路的X射線成像探測裝置，其特征在于，所述第一相機和第二相機的芯片分別位于第一管鏡和第二管鏡的像方焦平面，第一相機芯片的中心與第一管鏡的光軸右側存在偏移，第二相機芯片的中心與第二管鏡的光軸下側存在偏移。

7.根據權利要求6所述的一種基于雙光路的X射線成像探測裝置，其特征在于，偏移的距離由物鏡物方視場大小以及物鏡和管鏡對可見光圖像的放大倍數確定，所述偏移的距離為：

其中，f₁為物鏡的焦距、f₂為第一管鏡和第二管鏡的焦距，D為物鏡像物方視場的直徑。

8.根據權利要求6所述的一種基于雙光路的X射線成像探測裝置，其特征在于，所述第一相機芯片和第二相機芯片尺寸大于物鏡物方視場尺寸的

9.根據權利要求1所述的一種基于雙光路的X射線成像探測裝置，其特征在于，所述預處理組件包括碳膜、閃爍晶體和鉛玻璃，所述碳膜位于所述閃爍晶體前側，所述鉛玻璃位于所述閃爍晶體后側。

10.根據權利要求1所述的一種基于雙光路的X射線成像探測裝置，其特征在于，所述物鏡的像方視場大于26mm。