[實用新型]一種剩余電流的測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201921761402.8 | 申請日: | 2019-10-21 |
| 公開(公告)號: | CN211402532U | 公開(公告)日: | 2020-09-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 余武軍;王勤龍;胡萌;孫林忠 | 申請(專利權(quán))人: | 浙江恒業(yè)電子有限公司 |
| 主分類號: | G01R19/25 | 分類號: | G01R19/25;G01R31/52 |
| 代理公司: | 浙江千克知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 33246 | 代理人: | 吳輝輝 |
| 地址: | 314200 浙江省嘉*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 剩余 電流 測試 裝置 | ||
本實用新型公開一種剩余電流的測試裝置,其中,本實用新型涉及的一種剩余電流的測試裝置,包括:剩余電流采樣電路、計量芯片;所述剩余電流采樣電路包括穿心互感器、采樣模塊;所述穿心互感器與采樣模塊的一端連接,所述采樣模塊的另一端與計量芯片連接;所述穿心互感器將采集到的剩余電流數(shù)據(jù)通過采樣模塊進行信號采樣得到剩余電流的模擬信號,并將所述剩余電流的模擬信號通過計量芯片計算得到剩余電流的電流值。本實用新型減小了PCB板的面積,電路布線也簡單了,降低了低功耗,增強了抗干擾能力,提高了安全性,提高了測量的穩(wěn)定性和可靠性。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及電流測試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種剩余電流的測試裝置。
背景技術(shù)
剩余電流,是指低壓配電線路中各相(含中性線)電流矢量和不為零的電流。通俗講當(dāng)用電側(cè)發(fā)生了事故,電流從帶電體通過人體流到大地,使主電路進出線中的電流I相和I中的大小不相等,此時電流的瞬時矢量合成有效值稱為剩余電流,俗稱漏電。
現(xiàn)有測試漏電流(剩余電流)的技術(shù)方法是采用分立式的電流采樣檢測電路和單片機(FM33A036或FM33A048等)實現(xiàn)的,電路圖如圖1和圖2所示。
采樣一個半周波,只測正半周,采用一或兩個二極管的方式。其半波有效值實現(xiàn)簡要說明:
1、概述
該歷程提供的半波有效值由半個周波內(nèi)的隔點采樣點平方和開方得到;其中半周波的判斷,是由采樣數(shù)據(jù)符號位改變?yōu)橐罁?jù)。平方及求和在中斷內(nèi)計算,開方在主程序內(nèi)計算;
2、開方函數(shù):
函數(shù)原型:uint32_t_isqrt64(long long num);
描述:進行開方運算(獲取半波有效值,對一個周波采樣點平方和進行開方計算);
輸入?yún)?shù):待開方數(shù)據(jù);
輸出參數(shù):開方后的結(jié)果;
返回值:無。
3、計量采樣中斷處理函數(shù):
函數(shù)原型:void EMU_HANDLER(void)
描述:實現(xiàn)數(shù)據(jù)隔點采樣,采樣點平方及求和運算(半周波內(nèi)取32點用于半波有效值的計算)
輸入?yún)?shù):待開方數(shù)據(jù);
輸出參數(shù):開方后的結(jié)果;
返回值:無。
4、主要變量說明:
Emu.RMS_Sum[i]:平方和臨時存放變量
Emu.RMS_SumOut[i]:半波內(nèi)隔點采樣點平方和變量
Emu.RMS_Out[i]:半波有效值變量
注:該程序內(nèi)數(shù)組取值1,2,對應(yīng)IA,IB兩路電流通路的半波有效值;
由剩余電流采樣檢測電路將剩余電流采樣信號進行運放后,輸出模擬信號AD_Ik和PHASE_Ik送入單片機,分別由單片機的第44腳和第24腳輸入,進行模、數(shù)轉(zhuǎn)換等數(shù)據(jù)處理工作,如圖2所示。
漏電流(剩余電流)值檢測實現(xiàn)過程方法如下圖3所示:
校正順序:電壓系數(shù)/偏移校正—電流系數(shù)/偏移校正(可選)—剩余電流幅值系數(shù)/偏移校正—剩余電流角度校正。
分鐘、日最大剩余電流值是如何記錄的,如下圖4所示:
記錄功能:記錄帶時標(biāo)的每分鐘剩余電流最大值;記錄最近62天的日最大剩余電流值及發(fā)生時刻。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于浙江恒業(yè)電子有限公司,未經(jīng)浙江恒業(yè)電子有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201921761402.8/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種激光雷達
- 下一篇:用于布面缺陷識別的系統(tǒng)





