[實(shí)用新型]矯孔裝備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201921741650.6
• 申請(qǐng)日: 2019-10-13
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN211161280U
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-08-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 于大國(guó);王峰;趙曉巍;王琦瑋;申鵬;馬靖;李夢(mèng)龍;王健;尹忠偉;趙明;劉江
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中北大學(xué)
• 主分類號(hào): B21C51/00
• 分類號(hào): B21C51/00;B21D3/14
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

本實(shí)用新型屬于機(jī)械加工領(lǐng)域，具體涉及矯孔裝備，包括檢測(cè)設(shè)備、矯直設(shè)備。檢測(cè)設(shè)備有基準(zhǔn)部分、驅(qū)動(dòng)部分、探測(cè)部分、光學(xué)部分、運(yùn)算顯示部分。帶孔工件相對(duì)于基準(zhǔn)部分移動(dòng)，通過(guò)探測(cè)部分繞支點(diǎn)的運(yùn)動(dòng)、由光斑及其變化信息獲得孔的直線度。在矯直設(shè)備上分布有多個(gè)專用加力器，力的大小與各部位的誤差有關(guān)。有對(duì)工件加熱的裝置或沒(méi)有加熱裝置。檢測(cè)過(guò)程中光斑穩(wěn)定，具有放大誤差的作用，分辨率高。探測(cè)頭的位移可以等于光發(fā)射裝置的位移，不受探測(cè)桿的變形的影響?？梢苑乐固綔y(cè)頭繞自身軸線旋轉(zhuǎn)，或減小旋轉(zhuǎn)的不良影響?？蓽y(cè)量小直徑孔。采用順錐，利于減少探測(cè)頭的偏心。檢測(cè)受外界光的干擾少。氣壓油霧潤(rùn)滑，摩擦磨損小。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型屬于機(jī)械加工領(lǐng)域，具體涉及矯孔裝備。

背景技術(shù)

常見(jiàn)矯直器用來(lái)矯正矯直鋼絲等線材直線度，在線材鋼絲拉拔成型過(guò)程中，起到關(guān)鍵性 物理作用，由微小導(dǎo)輪，調(diào)節(jié)螺絲，支架，墊片等構(gòu)成。部分企業(yè)生產(chǎn)校直管材的設(shè)備，校 校直輪、整圓輪布置在垂直、水平兩個(gè)方向上，以兩個(gè)平面對(duì)管進(jìn)行整圓與校直，每根管有 兩組整圓輪。

發(fā)明內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的：提出一種能提高孔的檢測(cè)與矯直精度的裝備，適用于帶有大直徑孔 和小直徑孔的工件。

本實(shí)用新型通過(guò)以下技術(shù)創(chuàng)新點(diǎn)實(shí)現(xiàn)。

1.矯孔裝備包括檢測(cè)設(shè)備和矯直設(shè)備，其特征在于：檢測(cè)設(shè)備有基準(zhǔn)部分、驅(qū)動(dòng)部分、 探測(cè)部分、光學(xué)部分、運(yùn)算顯示部分；人手或驅(qū)動(dòng)部分使帶孔工件或探測(cè)部分相對(duì)于基準(zhǔn)部 分移動(dòng)；探測(cè)部分位于孔內(nèi)的裝置有與孔壁接觸的零件或與孔壁之間存在氣膜；探測(cè)部分能 夠繞支點(diǎn)在空間內(nèi)運(yùn)動(dòng)；光學(xué)部分的光線及光斑能隨帶孔工件或探測(cè)部分的運(yùn)動(dòng)而變化；光 學(xué)部分的光發(fā)射裝置位于孔內(nèi)或孔外；光學(xué)部分與探測(cè)部分位于支點(diǎn)的一側(cè)或兩側(cè)；所設(shè)計(jì) 的光線位置與帶孔工件孔的中心線在理論上同軸或不同軸，運(yùn)算顯示部分對(duì)光斑位置信息進(jìn) 行計(jì)算、顯示光斑位置或其變化或其變換后的信息；支點(diǎn)可以在孔內(nèi)或孔外；探測(cè)部分采用 對(duì)稱式結(jié)構(gòu)或非對(duì)稱式結(jié)構(gòu)；探測(cè)部分是整體或分體式；帶孔工件立式或臥式放置；在矯直 設(shè)備上沿帶孔工件表面的長(zhǎng)度方向和圓周方向分布有多個(gè)專用加力器，形成專用加力器陣列； 加力前測(cè)量各個(gè)加力部位偏離理想位置的誤差；各個(gè)專用加力器施加力的大小與所在加力部 位偏離理想位置的誤差有關(guān)；有對(duì)工件加熱的裝置或沒(méi)有加熱裝置。

2.根據(jù)技術(shù)創(chuàng)新點(diǎn)1所述的矯孔裝備，其特征在于：所述的基準(zhǔn)部分有導(dǎo)向體；所述的 驅(qū)動(dòng)部分有驅(qū)動(dòng)體；所述的探測(cè)部分有探測(cè)桿、探測(cè)頭；探測(cè)頭是位于孔內(nèi)的裝置，與孔壁 接觸或與孔壁之間有氣膜；所述的光學(xué)部分有光發(fā)射裝置、光線、光接收裝置；所述的運(yùn)算 顯示部分包括運(yùn)算器和顯示器；探測(cè)頭位于探測(cè)桿上，當(dāng)人手或驅(qū)動(dòng)部分帶動(dòng)探測(cè)部分或帶 孔工件沿導(dǎo)向體運(yùn)動(dòng)時(shí)，探測(cè)桿隨孔的變化和探測(cè)頭相對(duì)基準(zhǔn)部分的變化繞支點(diǎn)進(jìn)行空間內(nèi) 的運(yùn)動(dòng)；所發(fā)出的光線射向光接收裝置；探索桿位置的變化引起光發(fā)射裝置、光線和光接收 裝置上光斑位置發(fā)生變化；顯示器反映光斑位置或其變化或其變換后的信息，運(yùn)算器為獨(dú)立 裝置或與顯示器制作為一體。

3.根據(jù)技術(shù)創(chuàng)新點(diǎn)1所述的矯孔裝備，其特征在于：當(dāng)光學(xué)部分與探測(cè)部分位于支點(diǎn)的 同一側(cè)時(shí)，光斑的變動(dòng)量大于探測(cè)頭的變動(dòng)量；當(dāng)光學(xué)部分與探測(cè)部分分別位于支點(diǎn)的兩側(cè)、 且光接收裝置到支點(diǎn)的距離大于探測(cè)頭到支點(diǎn)的距離時(shí)，光斑的變動(dòng)量大于探測(cè)頭的變動(dòng)量； 光接收裝置有罩蓋；所述的光斑位置變換后的信息為孔的直線度或垂直度或平行度或傾斜度。

4.根據(jù)技術(shù)創(chuàng)新點(diǎn)1所述的矯孔裝備，其特征在于：探測(cè)部分自動(dòng)適應(yīng)孔徑的變化；所 述的支點(diǎn)處有間隙調(diào)整裝置或沒(méi)有間隙調(diào)整裝置，支點(diǎn)為球副或球軸承，或其它結(jié)構(gòu)，所述 的其它結(jié)構(gòu)可使探測(cè)部分繞支點(diǎn)擺動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)。

5.根據(jù)技術(shù)創(chuàng)新點(diǎn)1所述的矯孔裝備，其特征在于所述的基準(zhǔn)部分的導(dǎo)向體為機(jī)床導(dǎo)軌 或其它導(dǎo)向物體，所述的驅(qū)動(dòng)部分的驅(qū)動(dòng)體為機(jī)床溜板或其它物體；光學(xué)位移檢測(cè)裝置或機(jī) 械位移檢測(cè)裝置檢測(cè)帶孔工件或探測(cè)部分相對(duì)于基準(zhǔn)部分的移動(dòng)距離；分體式探測(cè)部分能夠 被拆開(kāi)、拆開(kāi)后能夠被組裝為整體。