[實用新型]一種用于微控流芯片實驗的試樣采加樣系統

有效

• 申請號: 201921733897.3
• 申請日: 2019-10-16
• 公開（公告）號: CN211303093U
• 公開（公告）日: 2020-08-21
• 發明（設計）人: 杜喆;李昭;薛云;胡志剛;祖向陽;賀子驍
• 申請（專利權）人: 陜西優博特生物科技有限公司
• 主分類號: B01L3/02
• 分類號: B01L3/02;B01L3/00
• 代理公司: 洛陽公信知識產權事務所(普通合伙) 41120
• 代理人: 時國珍

1.一種用于微控流芯片實驗的試樣采加樣系統，其特征在于：包括采樣加樣器（3）和用于輔助采樣加樣器（3）進行采樣的采樣輔助器；

采樣加樣器（3）包括試樣管（304）、可滑動插設在試樣管（304）末端的推進桿（302）以及可拆卸連接在試樣管（304）頭端的采樣針（306），在試樣管（304）上設有用于與采樣輔助器配合安裝的裝配凸起（305），在推進桿（302）上設有供采樣輔助器推動推進桿（302）滑動以進行采樣的推進帽（301）；

采樣輔助器包括管體（2）以及設置在管體（2）上的采樣執行裝置（4）和采樣量調節裝置（1）；管體（2）包括可拆卸連接的上槽蓋（202）和下槽蓋（201），上槽蓋（202）和下槽蓋（201）的槽體部分相對配合以共同形成用于容納采樣加樣器（3）和采樣量調節裝置（1）的管腔，在與管腔前端相對應的上槽蓋（202）和下槽蓋（201）的內側均開設有供裝配凸起（305）配合安裝的裝配槽（6）；采樣執行裝置（4）包括滑動設置在下槽蓋（201）上并靠近裝配槽（6）位置的提升桿（403），在下槽蓋（201）上沿下槽蓋（201）長度方向開設有供提升桿（403）滑動配合的條狀滑孔（8），提升桿（403）的一端穿過條狀滑孔（8）插設在管腔中并固定設有撥叉（402），撥叉（402）與推進帽（301）朝向采樣針（306）的一側接觸配合，提升桿（403）的另一端位于管腔外部并固定設有提升滑塊（401）；采樣量調節裝置（1）包括可轉動設置于管腔中的調節軸（103）和可沿管腔長度方向滑動設置于管腔中的限位頭（104），限位頭（104）設置在采樣加樣器（3）和調節軸（103）之間的位置，限位頭（104）朝向采樣加樣器（3）的一側用于與推進帽（301）接觸配合以限位推進帽（301）的滑動位置，限位頭（104）朝向調節軸（103）的一側與調節軸（103）螺紋連接，并可通過轉動調節軸（103）來調節限位頭（104）的限位位置。

2.根據權利要求1所述的一種用于微控流芯片實驗的試樣采加樣系統，其特征在于：上槽蓋（202）包括與采樣加樣器（3）位置相對應的活動蓋（202-2）和與采樣量調節裝置（1）的位置相對應的固定蓋（202-1），活動蓋（202-2）的一側與下槽蓋（201）鉸連，另一側固定設有用于與開設于下槽蓋（201）上的固定孔配合安裝的固定柱，固定蓋（202-1）通過螺釘可拆卸連接在下槽蓋（201）上。

3.根據權利要求2所述的一種用于微控流芯片實驗的試樣采加樣系統，其特征在于：在固定蓋（202-1）上設有供觀察限位頭（104）位置的觀察窗（9），觀察窗（9）沿固定蓋（202-1）長度方向開設，并在固定蓋（202-1）上靠近觀察窗（9）的位置設有刻度線。

4.根據權利要求1所述的一種用于微控流芯片實驗的試樣采加樣系統，其特征在于：裝配凸起（305）為環形并設置在試樣管（304）頭端的外緣位置，推進帽（301）為圓盤形并設置在推進桿（302）的末端。

5.根據權利要求1所述的一種用于微控流芯片實驗的試樣采加樣系統，其特征在于：在調節軸（103）與管腔之間設有用于避免調節軸（103）沿管腔長度方向移動的軸向限位機構，軸向限位機構包括固定在調節軸（103）上的限位環（102）和開設在上槽蓋（202）和下槽蓋（201）對應位置的限軸向限位槽（5），限位環（102）轉動設置在軸向限位槽（5）中；在限位頭（104）和管腔之間設有用于避免限位頭（104）相對于管腔轉動的周向限位機構，周向限位機構包括固定在調節軸（103）上的限位條（105）和開設在上槽蓋（202）和下槽蓋（201）對應位置的周向限位槽（7），限位條（105）卡接在周向限位槽（7）中。

6.根據權利要求1所述的一種用于微控流芯片實驗的試樣采加樣系統，其特征在于：調節軸（103）的末端位于管腔外部并固定設有用于驅動調節軸（103）轉動的轉盤（101）。

7.根據權利要求1所述的一種用于微控流芯片實驗的試樣采加樣系統，其特征在于：下槽蓋（201）的外側設有沿下槽蓋（201）長度方向分布的滑軌（12），提升滑塊（401）滑動設置在滑軌（12）上。

8.根據權利要求1所述的一種用于微控流芯片實驗的試樣采加樣系統，其特征在于：提升滑塊（401）上設有多條防滑條。