[實用新型]孔深測量機構及孔深測量裝置

有效

• 申請號: 201921714125.5
• 申請日: 2019-10-12
• 公開（公告）號: CN210922538U
• 公開（公告）日: 2020-07-03
• 發明（設計）人: 吳年漢;鄔豪;陳領;陶冶
• 申請（專利權）人: 四川大學
• 主分類號: G01B11/22
• 分類號: G01B11/22
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 郭斌莉

1.一種孔深測量機構，其特征在于，包括基座、激光探測組件、位移測量組件以及驅動執行組件；

所述驅動執行組件固定設置于所述基座且包括運動件，所述運動件與所述激光探測組件連接且帶動所述激光探測組件沿第一方向滑動，所述位移測量組件包括滑動配合的定尺和動尺，所述定尺與所述基座固定連接，所述動尺與所述激光探測組件固定連接；

所述激光探測組件包括激光發生組件和控制器，所述控制器與所述激光發生組件電連接。

2.根據權利要求1所述的孔深測量機構，其特征在于，所述激光探測組件還包括架體，所述激光發生組件包括激光發生器、第一反光件、測頭探針、第二反光件以及光接收器；

所述激光發生器、所述第一反光件以及所述測頭探針均固定設置于所述架體，所述第二反光件固定設置于所述測頭探針的通孔內，所述光接收器設置于所述架體且位于所述第一反光件的背離所述第二反光件的一側；

所述激光發生器能夠發射激光，所述激光通過所述第一反光件射入所述測頭探針的通孔，經過所述第二反光件反射到所述光接收器，所述光接收器與所述控制器電連接。

3.根據權利要求2所述的孔深測量機構，其特征在于，所述架體包括固定連接的底座和固定體，所述底座開設有固定孔；

所述激光發生器和所述第一反光件固定設置于所述底座的第一側，所述測頭探針穿設于所述固定孔且位于所述底座的第二側，所述光接收器固定設置于所述固定體靠近所述底座的一側，所述控制器固定設置于所述固定體背離所述底座的一側，所述測頭探針的側壁開設有端口，所述第二反光件與所述端口相對應。

4.根據權利要求3所述的孔深測量機構，其特征在于，所述第一反光件具有第一反光面，所述激光發生器的中心軸線與所述第一反光面之間形成45°夾角；

所述測頭探針的通孔內設置有擋光隔板，將通孔分隔為第一光孔和第二光孔，所述第一反光面能夠反射激光使其進入所述第一光孔。

5.根據權利要求4所述的孔深測量機構，其特征在于，所述第二反光件具有反光面，所述測頭探針的中心軸線與所述反光面之間形成45°夾角，所述擋光隔板遠離所述第一反光件的一端與所述第二反光件貼合，將所述反光面分隔為第二反光面和激光入射反光面；

所述激光通過所述第一光孔后，能夠經過所述第二反光面反射且從所述端口射出，經孔壁反射后進入所述激光入射反光面，然后經過所述第二光孔進入所述光接收器。

6.根據權利要求3-4任意一項所述的孔深測量機構，其特征在于，所述光接收器包括基體、CCD電荷耦合元件以及調焦鏡頭，所述基體設置于所述固定體且具有嵌設腔，所述嵌設腔的中心軸線方向與所述測頭探針的通孔方向一致；

所述CCD電荷耦合元件嵌設于所述嵌設腔內，所述調焦鏡頭固定設置于所述嵌設腔的開口端，所述控制器設置有光信號處理模塊，所述光信號處理模塊與所述CCD電荷耦合元件電連接。

7.根據權利要求1所述的孔深測量機構，其特征在于，所述定尺為容柵定尺，所述動尺為容柵動尺；

所述位移測量組件還包括固定架和單片機，所述容柵動尺通過所述固定架可滑動的設置于所述容柵定尺，所述單片機固定設置于所述基座，且與所述容柵動尺電連接，所述容柵動尺隨所述激光探測組件沿第一方向滑動。

8.根據權利要求1所述的孔深測量機構，其特征在于，所述驅動執行組件還包括驅動件和聯軸器，所述運動件為滾珠絲杠副，所述驅動件與所述基座固定連接；

所述滾珠絲杠副包括絲杠和螺母，所述絲杠通過所述聯軸器與所述驅動件的輸出軸固定連接，所述螺母與所述激光探測組件固定連接，所述絲杠的延伸方向為所述第一方向。