[實(shí)用新型]一種導(dǎo)電膠碳粒檢測(cè)治具有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201921692883.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-10-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN211236020U | 公開(公告)日: | 2020-08-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉強(qiáng);黨永濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市創(chuàng)榮發(fā)電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R27/02 | 分類號(hào): | G01R27/02 |
| 代理公司: | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205 | 代理人: | 洪銘福 |
| 地址: | 518110 廣東省深圳市龍華區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 導(dǎo)電 膠碳粒 檢測(cè) | ||
本實(shí)用新型公開了一種導(dǎo)電膠碳粒檢測(cè)治具。治具包括第一導(dǎo)線組和第二導(dǎo)線組,第一導(dǎo)線組包括第一觸腳,第二導(dǎo)線組包括第二觸腳,第一觸腳與第二觸腳穿插設(shè)置形成第一間隙,第一導(dǎo)線組、第二導(dǎo)線組分別用于連接萬(wàn)用表的正負(fù)極以使得碳粒放置在第一間隙時(shí)能夠檢測(cè)碳粒的阻值。本實(shí)用新型通過(guò)設(shè)置第一導(dǎo)線組和第二導(dǎo)線組,第一導(dǎo)線組的第一觸腳與第二導(dǎo)線組的第二觸腳穿插設(shè)置形成第一間隙,第一導(dǎo)線組、第二導(dǎo)線組分別連接萬(wàn)用表的正負(fù)極,測(cè)試時(shí)將碳粒放置在第一間隙即可檢測(cè)碳粒阻值,克服了現(xiàn)有技術(shù)中直接使用萬(wàn)用表進(jìn)行測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確的技術(shù)問(wèn)題,利用固定的兩個(gè)觸腳代替萬(wàn)用表的兩個(gè)表筆,使得測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確率高,而且操作簡(jiǎn)單。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及測(cè)試治具領(lǐng)域,尤其是涉及一種導(dǎo)電膠碳粒檢測(cè)治具。
背景技術(shù)
現(xiàn)有技術(shù)中,遙控器的按鍵與遙控器內(nèi)部的PCB電路板通過(guò)導(dǎo)電膠連接,導(dǎo)電膠上刷有碳油或設(shè)置一顆碳粒,按壓按鍵時(shí)碳粒與PCB板的兩根導(dǎo)線接觸,作為導(dǎo)電部分,碳粒的大小可根據(jù)PCB板的兩根導(dǎo)線之間的間距進(jìn)行選擇。在檢測(cè)遙控器的按鍵時(shí),其中導(dǎo)電膠的導(dǎo)電部分需對(duì)其進(jìn)行阻值檢測(cè),有一項(xiàng)碳粒、碳油測(cè)試,通常行業(yè)中叫作導(dǎo)電膠的阻值測(cè)試,也就是碳粒、碳油平方毫米電阻值是多少。若碳粒阻值偏大,超出芯片MCU控制IO口的正常導(dǎo)通電阻時(shí),遙控器按鍵將無(wú)法正常工作,此項(xiàng)指標(biāo)會(huì)直接影響遙控器功能。目前很常用的方法就是使用萬(wàn)用表表筆直接測(cè)量,但是由于電阻測(cè)量值會(huì)隨萬(wàn)用表表筆與碳粒的接觸面積、接觸力度等變化而變化,測(cè)量出來(lái)的數(shù)據(jù)也會(huì)變化,結(jié)果很不準(zhǔn)確。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型旨在至少在一定程度上解決相關(guān)技術(shù)中的技術(shù)問(wèn)題之一。為此,本實(shí)用新型的一個(gè)目的是提供一種導(dǎo)電膠碳粒檢測(cè)治具,操作簡(jiǎn)單,測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確率高。
本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是:
本實(shí)用新型提供一種導(dǎo)電膠碳粒檢測(cè)治具,包括第一導(dǎo)線組和第二導(dǎo)線組,所述第一導(dǎo)線組包括第一觸腳,所述第二導(dǎo)線組包括第二觸腳,所述第一觸腳與所述第二觸腳穿插設(shè)置形成第一間隙,所述第一導(dǎo)線組、所述第二導(dǎo)線組分別用于連接萬(wàn)用表的正負(fù)極以使得碳粒放置在所述第一間隙時(shí)能夠檢測(cè)所述碳粒的阻值。
進(jìn)一步地,所述檢測(cè)治具包括多個(gè)測(cè)試區(qū)域,其中,第一測(cè)試區(qū)域包括多個(gè)所述第一觸腳、多個(gè)所述第二觸腳和多個(gè)所述第一間隙。
進(jìn)一步地,第二測(cè)試區(qū)域包括多個(gè)第一觸腳、多個(gè)第二觸腳以及其穿插設(shè)置形成的多個(gè)第二間隙。
進(jìn)一步地,所述第一間隙寬度為0.7mm。
進(jìn)一步地,所述第二間隙寬度為1.0mm。
本實(shí)用新型的有益效果是:
本實(shí)用新型通過(guò)設(shè)置第一導(dǎo)線組和第二導(dǎo)線組,第一導(dǎo)線組包括第一觸腳,第二導(dǎo)線組包括第二觸腳,第一觸腳與第二觸腳穿插設(shè)置形成第一間隙,第一導(dǎo)線組、第二導(dǎo)線組分別連接萬(wàn)用表的正負(fù)極,測(cè)試時(shí)將碳粒放置在第一間隙能夠檢測(cè)碳粒的阻值,克服了現(xiàn)有技術(shù)中直接使用萬(wàn)用表進(jìn)行測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確的技術(shù)問(wèn)題,利用固定的兩個(gè)觸腳代替萬(wàn)用表的兩個(gè)表筆,使得測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確率高,而且操作簡(jiǎn)單。
附圖說(shuō)明
圖1是本實(shí)用新型中導(dǎo)電膠碳粒檢測(cè)治具的一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本實(shí)用新型中導(dǎo)電膠碳粒檢測(cè)治具的另一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3是本實(shí)用新型中導(dǎo)電膠碳粒檢測(cè)治具的又一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
需要說(shuō)明的是,在不沖突的情況下,本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。
實(shí)施例一
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市創(chuàng)榮發(fā)電子有限公司,未經(jīng)深圳市創(chuàng)榮發(fā)電子有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201921692883.1/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:聚乙烯管回收處理裝置
- 下一篇:一種用于減緩近視的角膜塑形鏡
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R27-00 測(cè)量電阻、電抗、阻抗或其派生特性的裝置
G01R27-02 .電阻、電抗、阻抗或其派生的其他兩端特性,例如時(shí)間常數(shù)的實(shí)值或復(fù)值測(cè)量
G01R27-28 .衰減、增益、相移或四端網(wǎng)絡(luò),即雙端對(duì)網(wǎng)絡(luò)的派生特性的測(cè)量;瞬態(tài)響應(yīng)的測(cè)量
G01R27-30 ..具有記錄特性值的設(shè)備,例如通過(guò)繪制尼奎斯特
G01R27-32 ..在具有分布參數(shù)的電路中的測(cè)量
G01R27-04 ..在具有分布常數(shù)的電路中的測(cè)量
- 透明導(dǎo)電膜用靶、透明導(dǎo)電材料、透明導(dǎo)電玻璃及透明導(dǎo)電薄膜
- 透明導(dǎo)電膜用靶、透明導(dǎo)電材料、透明導(dǎo)電玻璃及透明導(dǎo)電薄膜
- 導(dǎo)電糊劑及導(dǎo)電圖案
- 導(dǎo)電圖案的形成方法、導(dǎo)電膜、導(dǎo)電圖案及透明導(dǎo)電膜
- 導(dǎo)電片和導(dǎo)電圖案
- 導(dǎo)電漿料和導(dǎo)電膜
- 導(dǎo)電端子及導(dǎo)電端子的導(dǎo)電結(jié)構(gòu)
- 導(dǎo)電構(gòu)件及使用多個(gè)導(dǎo)電構(gòu)件的導(dǎo)電電路
- 導(dǎo)電型材和導(dǎo)電裝置
- 透明導(dǎo)電膜用靶、透明導(dǎo)電材料、透明導(dǎo)電玻璃及透明導(dǎo)電薄膜
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





