[實用新型]射頻激勵響應測量設備及傳遞函數測量系統

有效

• 申請號: 201921677100.2
• 申請日: 2019-10-09
• 公開（公告）號: CN210834739U
• 公開（公告）日: 2020-06-23
• 發明（設計）人: 姜長青;龍天罡;李路明
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: G01N27/00
• 分類號: G01N27/00
• 代理公司: 北京華仁聯合知識產權代理有限公司 11588
• 代理人: 陳建

本實用新型公開了一種射頻激勵響應測量設備及傳遞函數測量系統，適用于直線構型試件，其中測量設備包括：底座，用于固定安裝試件；激勵輸入部，固定安裝在底座上，用于與試件電連接；移動部，安裝在底座上且可沿試件長度方向移動，移動部上安裝有測量線圈，測量線圈用于套設在試件上；響應輸出部，與測量線圈電連接。通過在試件尖端施加射頻激勵，用測量線圈沿試件測量試件各處的激勵響應，以此來計算試件的傳遞函數。進而可以采用試件例如植入物的傳遞函數來解耦植入物與人體模型，可以較為準確的對植入物和人體復雜的環境耦合進行模擬計算植入物的射頻制熱，較為準確的對植入物的射頻制熱進行評價。

技術領域

本實用新型涉及射頻測試技術領域，具體涉及到射頻激勵響應測量設備及傳遞函數測量系統。

背景技術

導體，特別是直線構型的導體在射頻場輻射下會出現射頻制熱現象，在一些應用場景中，這種射頻制熱現象可能會較為嚴重的后果。例如當患者體內安裝有植入式醫療器械，如心臟起搏器、除顫器、迷走神經此機器、腦起搏器、脊髓刺激器時，在對患者進行磁共振掃描時，在磁共振的作用下，會使植入式醫療器械產生射頻制熱現象，特別是具有細長導電結構并和人體組織接觸的導體植入物時，在射頻場輻射下，射頻制熱現象更為嚴重。因此，射頻制熱的評價是研究植入物磁共振相容特性的重要一環。

由于植入物和人體復雜的環境耦合難以直接進行模擬計算植入物的射頻制熱，導致難以準確的對植入物的射頻制熱進行評價。

實用新型內容

為了較為準確的對植入物的射頻制熱進行評價，本實用新型提出了射頻激勵響應測量設備及傳遞函數測量系統。

根據第一方面，本實用新型實施例提供了一種射頻激勵響應測量設備，適用于直線構型試件，包括：底座，用于固定安裝試件；激勵輸入部，固定安裝在底座上，用于與試件電連接；移動部，安裝在底座上且可沿試件長度方向移動，移動部上安裝有測量線圈，測量線圈用于測量線圈用于套設在試件上；響應輸出部，與測量線圈電連接。

可選地，射頻激勵響應測量設備還包括：測量線圈固定部，設置在移動部上，一端具有固定測量線圈的第一凹槽，第一凹槽的底部開設有與第一凹槽同心且適于試件穿過的通孔；測量線圈固定部上還開設有固定響應輸出部的第二凹槽，第二凹槽與第一凹槽連通。

可選地，測量線圈與第一凹槽和/或響應輸出部與第二凹槽為過盈配合。

可選地，射頻激勵響應測量設備還包括：支撐部，一端可移動地設置在移動部上，另一端可移動地支撐于試件朝向底座的一側；測量線圈與支撐部配合移動。

可選地，支撐部包括：第一支撐單元，第二支撐單元以及連接第一支撐單元和第二支撐單元的可收緊和伸展的延伸裝置；其中，線圈設置在第一支撐單元和第二支撐單元之間，測量線圈在延伸裝置收緊或伸展時可跟隨第一支撐單元和/或第二支撐單元移動。

可選地，底座包括：第一導軌，第一導軌上設置有兩個試件固定部，兩個試件固定部分別用于固定試件的兩端，兩個試件固定部中的至少一個可沿導軌移動，并可通過第一緊固部緊固在第一導軌上。

可選地，射頻激勵響應測量設備還包括：激勵連接部，設置在其中之一的固定部上，包括導體單元和包裹在導體單元外部的包裹單元，激勵輸入部和試件的一端電連接在導體單元上。

可選地，導體單元包括：與激勵輸入部過盈配合的第一腔體；設置在第一腔體外側的與試件一端過盈配合的第二腔體。

可選地，導體單元包括：T型墊片，T型墊片的凸出結構為中空結構，與激勵輸入部過盈配合；第一彈性鎖緊件，一端用于與凸出結構鎖緊，另一端用于與試件的一端鎖緊。

可選地，導體單元包括：第三腔體，一端與激勵輸入部過盈配合，另一端與試件一端過盈配合；激勵連接部還包括第二彈性鎖緊件，固定設置在包裹單元內側，在試件一端插入第三腔體時，第二彈性鎖緊件鎖緊試件。