[實用新型]飛針測試機構及蜂巢式搖擺座

有效

• 申請號: 201921676000.8
• 申請日: 2019-10-09
• 公開（公告）號: CN210954247U
• 公開（公告）日: 2020-07-07
• 發明（設計）人: 蔡瑞銘;李明仁;盧保勝;徐榮華;范海俊;溫仙進;王海楠
• 申請（專利權）人: 健鼎（無錫）電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 陳小雯

本實用新型公開一種飛針測試機構及蜂巢式搖擺座。所述蜂巢式搖擺座包含有形成有兩個固定孔的一座體部、與所述座體部相向設置的一飛針部、兩端分別連接于所述座體部與所述飛針部的一第一擺臂、及兩端分別連接于所述座體部與所述飛針部的一第二擺臂。所述飛針測試機構包含有所述蜂巢式搖擺座、安裝于所述飛針部的一飛針、用以安裝所述飛針的一導電固定件、及連接于所述導電固定件的一傳感器。

技術領域

本實用新型涉及一種測試機構，特別是涉及一種飛針測試機構及蜂巢式搖擺座。

背景技術

電路板是由多層薄板經過蝕刻、鉆孔、壓合制成，為了確保線路的質量且避免斷線與短路問題，每一塊出產的電路板都需要經過測試。由于終端產品走向輕薄短小，市場要求電路板尺寸更小，并且具有更多的功能。因此，電路板線路密度越來越高，測試難度也相對提高，飛針測試機構成為了目前最佳的解決方案。

現有飛針測試機構的搖擺座多于其邊緣形成半圓凹槽來吸收緩沖能量。然而，現有搖擺座在形成有凹槽的部位的結構較弱，容易有側向非預期震動，導致扎針點非預期測試點之位置誤差問題。由于上述缺陷，在對高密度板進行測試時，現有的測試機構容易將良品打為不良，進而增加不必要的成本。再者，由于測試數量龐大，飛針需要頻繁的接觸測試。然而，現有飛針測試機構卻在測試時，因所產生的應力過于集中在半圓凹槽，導致搖擺座損壞，所以容易造成飛針測試機構的壽命縮短，進而大幅地影響設備的產能。

因此，如何以搖擺座作為主要的元件，并提升其穩定度、彈性、及壽命已成為本領域的所欲解決的重要課題之一。于是，本實用新型人認為上述缺陷可改善，特潛心研究并配合科學原理的運用，終于提出一種設計合理且有效改善上述缺陷的本實用新型。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種飛針測試機構及蜂巢式搖擺座，其能有效地改善現有的飛針測試機構及其搖擺座所可能產生的缺陷。為達上述目的，本實用新型公開一種蜂巢式搖擺座，呈長形且定義有一長度方向，并且所述蜂巢式搖擺座包括：一座體部，形成有兩個固定孔；一飛針部，沿所述長度方向與所述座體部固定相向設置，并且所述飛針部形成有一安裝孔；一第一擺臂，其兩端分別連接于所述座體部與所述飛針部，并且所述第一擺臂沿所述長度方向形成有多個第一穿孔，而鄰近于所述座體部的所述第一擺臂部位形成有一個所述第一穿孔，且其定義為一第一平衡孔；以及一第二擺臂，其兩端分別連接于所述座體部與所述飛針部，以使所述座體部、所述飛針部、所述第一擺臂、及所述第二擺臂共同包圍形成有一形變空間；其中，所述第二擺臂沿所述長度方向形成有多個第二穿孔，而鄰近于所述座體部的所述第二擺臂部位形成有一個所述第二穿孔，且其定義為一第二平衡孔；其中，在所述長度方向上，所述第二擺臂的長度小于所述第一擺臂的長度；所述第一擺臂與所述第二擺臂能相對于所述座體部擺動。

所述第一擺臂具有兩個第一長側緣，并且任一個所述第一穿孔與兩個所述第一長側緣的間距相同，所述第二擺臂具有兩個第二長側緣，并且任一個所述第二穿孔與兩個所述第二長側緣的間距相同；所述第一平衡孔相切于所述座體部，所述第一擺臂包含有間隔地位于所述第一平衡孔相反兩側的兩個第一平衡臂，并且兩個所述第一平衡臂相連于所述座體部；所述第二平衡孔相切于所述座體部，所述第二擺臂包含有間隔地位于所述第二平衡孔相反兩側的兩個第二平衡臂，并且兩個所述第二平衡臂相連于所述座體部；鄰近于所述飛針部的所述第一擺臂部位形成有相切于所述飛針部的一個所述第一穿孔，并且鄰近于所述座體部的所述第二擺臂部位形成有相切于所述飛針部的一個所述第二穿孔。

所述座體部包含有定義局部所述形變空間的一階緣與一梯緣，所述階緣平行于所述長度方向，所述梯緣連接所述階緣與所述第二擺臂；其中，所述蜂巢式搖擺座定義有垂直所述長度方向的一寬度方向；在所述寬度方向上，所述階緣與所述第一擺臂之間的距離小于所述階緣與所述第二擺臂之間的距離；其中，所述蜂巢式搖擺座呈定義有垂直所述長度方向的一寬度方向；所述飛針部于所述長度方向上的寬度大于所述第一擺臂于所述寬度方向上的寬度、也大于所述第二擺臂于所述寬度方向上的寬度。