[實用新型]一種垂直導通氮化鎵功率二極管有效
| 申請號: | 201921647785.6 | 申請日: | 2019-09-29 |
| 公開(公告)號: | CN211045445U | 公開(公告)日: | 2020-07-17 |
| 發明(設計)人: | 敖金平;李柳暗 | 申請(專利權)人: | 寧波錸微半導體有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/872 | 分類號: | H01L29/872;H01L29/15;H01L29/06;H01L21/329 |
| 代理公司: | 北京細軟智谷知識產權代理有限責任公司 11471 | 代理人: | 劉業芳 |
| 地址: | 315800 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 垂直 氮化 功率 二極管 | ||
1.一種垂直導通氮化鎵功率二極管,其特征在于:包括襯底、以及依次生長在所述襯底上的成核層、超晶格應力緩沖層、GaN漂移層、掩膜層;所述襯底和所述GaN漂移層上還分別沉積有電學接觸不同的第一電極和第二電極。
2.根據權利要求1所述的一種垂直導通氮化鎵功率二極管,其特征在于:所述超晶格應力緩沖層為摻雜AlN/GaN超晶格,所述摻雜AlN/GaN超晶格為通過在AlN/GaN超晶格中摻雜鍺元素或硅元素形成的摻雜AlN/GaN超晶格。
3.根據權利要求1所述的一種垂直導通氮化鎵功率二極管,其特征在于:所述成核層為AlN、AlGaN以及GaN中的一種。
4.根據權利要求1所述的一種垂直導通氮化鎵功率二極管,其特征在于:所述GaN漂移層為摻雜有鍺元素或者硅元素的GaN層。
5.根據權利要求1所述的一種垂直導通氮化鎵功率二極管,其特征在于:所述襯底為硅襯底,所述掩膜層為SiO2。
6.根據權利要求1所述的一種垂直導通氮化鎵功率二極管,其特征在于:還包括多個場限環,所述掩膜層上刻蝕有貫穿所述掩膜層的多個第一凹槽,多個第一凹槽設于所述第二電極的兩側,所述場限環沉積在所述第一凹槽中并伸出所述第一凹槽。
7.根據權利要求6所述的一種垂直導通氮化鎵功率二極管,其特征在于:所述第一凹槽切入所述漂移層內部。
8.根據權利要求1所述的一種垂直導通氮化鎵功率二極管,其特征在于:所述掩膜層中部刻蝕有貫穿所述掩膜層的第二凹槽,所述第二電極沉積在所述第二凹槽中。
9.根據權利要求1-8中任一項所述的一種垂直導通氮化鎵功率二極管,其特征在于:所述第一電極為歐姆電極,所述第二電極為肖特基電極。
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