[實用新型]測試裝置

有效

• 申請號: 201921639152.0
• 申請日: 2019-09-27
• 公開（公告）號: CN211027155U
• 公開（公告）日: 2020-07-17
• 發明（設計）人: 王洪濤;王娟;徐鑫;王磊;王正;彭煒;童義猛
• 申請（專利權）人: 北京西門子西伯樂斯電子有限公司
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;B23K26/362
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.測試裝置，其特征在于包括：

一個架體(10)；

一個上料組件(20)，其設置于所述架體(10)并用于放置產品；

數個測試組件(30)，所述測試組件(30)設置于所述架體(10)并能夠測試所述產品，并且各所述測試組件(30)能夠測試的所述產品不同；

一個機械臂(60)，其設置于所述架體(10)，所述機械臂(60)能夠提取并移動所述產品；

一個掃碼槍(62)，其設置于所述機械臂(60)并能夠通過掃描所述機械臂(60)提取的所述產品的電路板上的一個電路板二維碼而獲得產品信息；及

一個控制單元(70)，其信號連接所述數個測試組件(30)、所述機械臂(60)和所述掃碼槍(62)，所述控制單元(70)能夠控制所述機械臂(60)提取位于所述上料組件(20)的所述產品，并根據所述掃碼槍(62)獲取的所述產品信息控制所述機械臂(60)移動所述產品到對應的所述測試組件(30)。

2.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括一個鐳雕組件(80)，其設置于所述架體(10)，所述控制單元(70)信號連接所述鐳雕組件(80)，所述控制單元(70)能夠根據所述測試組件(30)的測試結果將測試合格的所述產品移動到所述鐳雕組件(80)，并根據所述掃碼槍(62)獲取的所述產品信息控制所述鐳雕組件(80)在所述產品外殼上鐳雕產品標簽。

3.如權利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括一個合格下料組件(40)，其設置于所述架體并用于輸送所述產品；

所述產品標簽包括一個能夠表示所述產品信息的殼體二維碼，所述掃碼槍(62)能夠通過掃描所述機械臂(60)提取的所述產品的所述殼體二維碼獲取所述產品信息；

所述控制單元(70)能夠比對通過所述掃碼槍(62)分別掃描所述產品的所述電路板二維碼和所述殼體二維碼獲取的兩個所述產品信息，所述控制單元(70)還能夠將比對一致的所述產品移動到所述合格下料組件(40)。

4.如權利要求3所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括至少一個不合格下料組件(50)，其設置于所述架體(10)并用于輸送所述產品；

所述控制單元(70)能夠根據所述測試組件(30)的測試結果將測試不合格的所述產品移動到所述不合格下料組件(50)，所述控制單元(70)能夠比對通過所述掃碼槍(62)分別掃描所述電路板二維碼和所述殼體二維碼獲取的所述產品信息，將比對不一致的所述產品移動到所述不合格下料組件(50)。

5.如權利要求4所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置設置有兩個所述不合格下料組件(50)，所述控制單元(70)能夠根據所述測試組件(30)的測試結果將測試不合格的所述產品移動到所述不合格下料組件(50)，所述控制單元(70)能夠比對通過所述掃碼槍(62)分別掃描所述電路板二維碼和所述殼體二維碼獲取的所述產品信息，將比對不一致的所述產品移動到另一個所述不合格下料組件(50)。

6.如權利要求5所述的測試裝置，其特征在于，架體(10)包括一個工作平面(12)，所述上料組件(20)、所述測試組件(30)、所述合格下料組件(40)、所述不合格下料組件(50)和所述機械臂(60)可拆卸地設置于所述工作平面(12)，并且在所述工作平面(12)上分別具有多個固定位置。

7.如權利要求6所述的測試裝置，其特征在于，所述機械臂(60)包括：

一個基座(64)，其設置于所述工作平面(12)；

一個第一臂部(66)，其繞一個垂直于所述工作平面(12)的第一軸線(A)可轉動的設置于所述基座(64)；

一個第二臂部(67)，其繞一個平行于所述第一軸線(A)的第二軸線(B)可轉動的設置于所述第一臂部(66)；及

一個提取爪(68)，其沿一個垂直于所述工作平面(12)的方向可運動地設置于所述第二臂部(67)，所述提取爪(68)在沿垂直于所述工作平面(12)的方向朝向所述工作平面(12)的一端設置有數個吸盤(69)，所述提取爪(68)能夠通過所述吸盤(69)提取所述產品。