[實用新型]基于TDLAS技術的氣體檢測裝置有效
| 申請號: | 201921609688.8 | 申請日: | 2019-09-25 |
| 公開(公告)號: | CN211014016U | 公開(公告)日: | 2020-07-14 |
| 發明(設計)人: | 于文彬;王艷;郭杰;王瑞;劉世勝 | 申請(專利權)人: | 合肥金星機電科技發展有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/39 | 分類號: | G01N21/39;G01N21/01 |
| 代理公司: | 合肥誠興知識產權代理有限公司 34109 | 代理人: | 湯茂盛 |
| 地址: | 230088 安*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 tdlas 技術 氣體 檢測 裝置 | ||
本實用新型屬于氣體檢測領域,特別涉及一種基于TDLAS技術的氣體檢測裝置,包括檢測光發生部、光學檢測部和數據采集及分析部,光學檢測部包括氣體容腔和設于氣體容腔外的光路調整單元。本實用新型獨立布置的光路調整單元清潔維護與調節操作便捷,將光路調整單元布置在氣體容腔外,還能避免待測氣體污染或腐蝕光學鏡片,從而保障光信號采集的準確性。
技術領域
本實用新型屬于氣體檢測領域,特別涉及一種基于TDLAS技術的氣體檢測裝置。
背景技術
氣體濃度檢測廣泛應用于存在易燃、易爆、毒性、污染氣體的生產環節中。由于基于可調諧半導體激光吸收光譜技術(Tunable Diode Laser Absorption Spectroscopy)對特定頻率吸收的待測氣體有較高的選擇性和靈敏度,已經被廣泛應用于各類工業環境檢測現場。但隨著科學技術、生產工藝的不斷發展,以及環保安全要求的提高,市面上現有的檢測裝置已經不能滿足其檢測靈敏度、檢測精度、檢測下限的需求。
實用新型內容
本實用新型的目的在于提供一種檢測結果準確性高的基于 TDLAS技術的氣體檢測裝置。
為實現以上目的,本實用新型采用的技術方案為:一種基于 TDLAS技術的氣體檢測裝置,包括檢測光發生部、光學檢測部和數據采集及分析部,光學檢測部包括氣體容腔和設于氣體容腔外的光路調整單元。
與現有技術相比,本實用新型存在以下技術效果:獨立布置的光路調整單元清潔維護與調節操作便捷,將光路調整單元布置在氣體容腔外,還能避免待測氣體污染或腐蝕光學鏡片,從而保障光信號采集的準確性。
附圖說明
下面對本說明書各附圖所表達的內容及圖中的標記作簡要說明:
圖1是本實用新型的示意圖;
圖2是光學檢測部的示意圖;
圖3、4是反射鏡的剖視圖;
圖5是反射鏡的正視圖。
圖中:10.檢測光發生部,11.直接數字式頻率合成器,12.激光器, 20.光學檢測部,21.氣體容腔,22.光路調整單元,221.導軌,222.反射鏡組,222a.反射鏡一,222b.反射鏡二,2221.反光層,2222.入射光口,2223.出射光口,2224.入射光孔,2225.出射光孔,30.數據采集分析部,31.探測器,32.鎖相放大單元,321.前置放大器,322.數字鎖相放大器,33.分析單元,40.FPGA芯片。
具體實施方式
下面結合附圖,通過對實施例的描述,對本實用新型的具體實施方式作進一步詳細說明。
一種基于TDLAS技術的氣體檢測裝置,包括檢測光發生部10、光學檢測部20和數據采集及分析部30,光學檢測部20包括氣體容腔21和設于氣體容腔21外的光路調整單元22。將光路調整單元22 獨立設置在氣體容腔21外,能保護高精度光學鏡片免受待測氣體內含有的固體顆粒污染,保證光信號強度,還能保護高精度光學鏡片免受腐蝕性成分腐蝕,保護光路。當待測氣體的溫度高于高精度光學鏡片的最高耐受溫度時,光路調整單元22與氣體容腔21分離布置能有效保護鏡片,避免鏡片受熱變形改變檢測光路,從而可靠保障檢測結果的準確性。
具體的,光路調整單元22包括導軌221,氣體容腔21固定連接在導軌221的中部,反射鏡組222通過調節座223安裝在導軌221的兩端,位于入射端的反射鏡一222a上游設有準直單元23,位于探測端的反射鏡二222b的下游設有探測器31;準直單元23與激光器12 光纖連接,激光器12將調制信號a轉化為光信號k輸送至準直單元 23,光信號k經準直單元23準直后在反射鏡組222之間多次反射,探測器31接收從反射鏡組222射出的光信號k并將采集得到的光信號k轉換為電信號送入鎖相放大單元32。
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