[實用新型]一種羅氏線圈電子式互感器頻率混疊特性測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201921570677.3 | 申請日： | 2019-09-20 |
| 公開（公告）號： | CN210775823U | 公開（公告）日： | 2020-06-16 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 朱夢夢;張新;羅強;朱全聰;林聰;沈映泉;曹敏;唐標(biāo);胡桂平;楊忠州;卓浩澤;高潔;張崇倫;尹航 | 申請（專利權(quán)）人： | 云南電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院 |
| 主分類號： | G01R35/02 | 分類號： | G01R35/02 |
| 代理公司： | 北京弘權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 逯長明;許偉群 |
| 地址： | 650217 云南省昆*** | 國省代碼： | 云南;53 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 線圈 電子 互感器 頻率 特性 測試 裝置 | ||
1.一種羅氏線圈電子式互感器頻率混疊特性測試裝置，其特征在于，包括上位機(1)和測試主機(2)，所述上位機(1)與所述測試主機(2)的第一端電連接，所述測試主機(2)的第二端與電子式互感器(3)電連接，其中：
所述測試主機(2)包括主中央處理器(21)、數(shù)據(jù)生成模塊(22)、數(shù)據(jù)采集模塊(23)，所述主中央處理器(21)的第一端與所述上位機(1)電連接，所述主中央處理器(21)的第二端與數(shù)據(jù)生成模塊(22)的第一端電連接，所述主中央處理器(21)的第三端與數(shù)據(jù)采集模塊(23)的第一端電連接，所述數(shù)據(jù)生成模塊(22)的第二端與DA轉(zhuǎn)換模塊(24)的第一端電連接，所述DA轉(zhuǎn)換模塊(24)的第二端與功率放大器(25)的第一端電連接，所述數(shù)據(jù)采集模塊(23)的第二端與第一AD轉(zhuǎn)換模塊(26)的第一端電連接，所述數(shù)據(jù)采集模塊(23)的第三端與第二AD轉(zhuǎn)換模塊(27)，所述數(shù)據(jù)采集模塊(23)的第四端與光纖接口(28)的第一端電連接，所述第一AD轉(zhuǎn)換模塊(26)的第二端與CT變換模塊(29)的第一端電連接；
所述電子式互感器(3)包括傳感頭(31)、采集器(32)和合并單元(33)，所述傳感頭(31)的第一端與所述功率放大器(25)的第二端電連接，所述傳感頭(31)的第二端與所述CT變換模塊(29)的第二端電連接，所述采集器(32)的第一端和所述第二AD轉(zhuǎn)換模塊(27)分別電連接所述傳感頭(31)的第三端，所述采集器(32)的第二端與所述合并單元(33)的第一端電連接，所述合并單元(33)的第二端與所述光纖接口(28)的第二端電連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述第一AD轉(zhuǎn)換模塊(26)和所述第二AD轉(zhuǎn)換模塊(27)均為24位高精度ADC。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)采集模塊(23)包括同步單元和采集單元，所述采集單元包括模擬量采集單元和數(shù)字量采集單元。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試裝置，其特征在于，所述同步單元包括處理子單元、晶振和輸出子單元。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試裝置，其特征在于，所述數(shù)字量采集單元包括FPGA。
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