[實(shí)用新型]一種基于單色X射線(xiàn)衍射的標(biāo)定裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201921569195.6
• 申請(qǐng)日: 2019-09-19
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN211318261U
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-08-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳凱;朱文欣;寇嘉偉;沈昊
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 西安交通大學(xué)
• 主分類(lèi)號(hào): G01N23/2005
• 分類(lèi)號(hào): G01N23/2005
• 代理公司: 北京中濟(jì)緯天專(zhuān)利代理有限公司 11429
• 代理人: 覃婧嬋

本實(shí)用新型公開(kāi)了一種基于單色X射線(xiàn)衍射的標(biāo)定裝置，其中，基材包括上表面和下表面；黏結(jié)層配置成將標(biāo)定裝置固定到X射線(xiàn)衍射的樣品表面上，所述黏結(jié)層設(shè)在所述下表面；多晶粉末層設(shè)在所述下表面，X射線(xiàn)衍射儀的探測(cè)器采集來(lái)自樣品表面的第一衍射信號(hào)和來(lái)自多晶粉末的第二衍射信號(hào)。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型屬于衍射測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，特別是一種基于單色X射線(xiàn)衍射的標(biāo)定裝置。

背景技術(shù)

X射線(xiàn)衍射儀使用X射線(xiàn)光源進(jìn)行衍射實(shí)驗(yàn)，收集實(shí)驗(yàn)產(chǎn)生的射線(xiàn)，收集為衍射譜。通過(guò)分析該衍射譜，能夠?qū)悠愤M(jìn)行相鑒定、應(yīng)力分析。若該衍射儀為勞厄法，則亦能進(jìn)行取向分析。因此，X射線(xiàn)衍射儀及其分析技術(shù)在冶金學(xué)、材料學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域的科學(xué)研究及工業(yè)生產(chǎn)中具有廣泛應(yīng)用。

然而，為達(dá)到足夠的分析精度，需要對(duì)X射線(xiàn)衍射儀時(shí)常進(jìn)行標(biāo)定，常見(jiàn)的標(biāo)定方法是使用標(biāo)樣。然而制備標(biāo)樣往往需要較長(zhǎng)時(shí)間，且標(biāo)樣的高度與實(shí)測(cè)樣品往往相差較遠(yuǎn)，標(biāo)定后仍需進(jìn)一步調(diào)整樣品高度，影響了其精度。因此，為獲得更加精確的精度，往往需要同時(shí)收錄待測(cè)樣品與標(biāo)樣信號(hào)，然而待測(cè)樣品可能存在較復(fù)雜的表面形貌，對(duì)同時(shí)收錄產(chǎn)生了較大影響。基于其現(xiàn)實(shí)問(wèn)題，需要開(kāi)發(fā)一種衍射儀標(biāo)定裝置，能夠方便的在各種衍射幾何下進(jìn)行標(biāo)定，具有使用方便、節(jié)約時(shí)間的特點(diǎn)。

在背景技術(shù)部分中公開(kāi)的上述信息僅僅用于增強(qiáng)對(duì)本實(shí)用新型背景的理解，因此可能包含不構(gòu)成在本國(guó)中本領(lǐng)域普通技術(shù)人員公知的現(xiàn)有技術(shù)的信息。

實(shí)用新型內(nèi)容

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的問(wèn)題，本實(shí)用新型提出一種基于單色X射線(xiàn)衍射的標(biāo)定裝置，簡(jiǎn)化測(cè)量需求，能夠方便的在各種衍射幾何下進(jìn)行標(biāo)定，具有使用方便、節(jié)約時(shí)間的特點(diǎn)。

本實(shí)用新型的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn)，一種基于單色X射線(xiàn)衍射的標(biāo)定裝置包括，

基材，其包括上表面和下表面；

黏結(jié)層，配置成將標(biāo)定裝置固定到X射線(xiàn)衍射的樣品表面上，所述黏結(jié)層設(shè)在所述下表面；

附著層，其用于將多晶粉末層附著到所述下表面，

多晶粉末層，其設(shè)在所述附著層，X射線(xiàn)衍射儀的探測(cè)器采集來(lái)自樣品表面的第一衍射信號(hào)和來(lái)自多晶粉末的第二衍射信號(hào)。

所述的標(biāo)定裝置中，所述多晶粉末層的厚度小于X射線(xiàn)對(duì)多晶粉末的穿透深度的五分之一，用以同時(shí)收集來(lái)自標(biāo)定表面的第一衍射信號(hào)及來(lái)自多晶粉末的第二衍射信號(hào)。

所述的標(biāo)定裝置中，所述多晶粉末層包括設(shè)在其中的完全透過(guò)X射線(xiàn)的不連續(xù)區(qū)域，使X射線(xiàn)的入射束移動(dòng)到所述不連續(xù)區(qū)域時(shí)，第二衍射信號(hào)停止被采集。

所述的標(biāo)定裝置中，所述多晶粉末層的厚度大于X射線(xiàn)對(duì)多晶粉末的穿透深度的五分之一，使得來(lái)自樣品表面的第一衍射信號(hào)停止被采集。

所述的標(biāo)定裝置中，多晶粉末包括氧化鋁粉末、硅粉末、碳酸鈣粉末和/或鋰鑭鋯氧粉末。

所述的標(biāo)定裝置中，所述基材為對(duì)X射線(xiàn)透明的材料制成。

所述的標(biāo)定裝置中，所述標(biāo)定裝置為膠帶。

所述的標(biāo)定裝置中，多晶粉末層經(jīng)由多晶粉末的溶液、乳濁液或懸濁液噴灑于所述上表面后干燥形成。

所述的標(biāo)定裝置中，所述黏結(jié)層設(shè)有刻度

和現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型具有以下優(yōu)點(diǎn)：

本實(shí)用新型通過(guò)將標(biāo)定用多晶粉末預(yù)先置于能夠自由黏貼至待標(biāo)定表面的膠帶中，能夠達(dá)到使用方便，節(jié)約使用時(shí)間，對(duì)于復(fù)雜表面和非水平表面具有固定方便的優(yōu)勢(shì)。

附圖說(shuō)明