[實用新型]一種真圓度檢測用治具有效
| 申請號: | 201921488778.6 | 申請日: | 2019-09-09 |
| 公開(公告)號: | CN210533258U | 公開(公告)日: | 2020-05-15 |
| 發明(設計)人: | 穆帥帥;張代龍 | 申請(專利權)人: | 富樂德科技發展(天津)有限公司 |
| 主分類號: | G01B5/20 | 分類號: | G01B5/20;G01B5/30 |
| 代理公司: | 天津市新天方專利代理有限責任公司 12104 | 代理人: | 孔珍 |
| 地址: | 301712 天津*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 真圓 檢測 用治具 | ||
本實用新型是一種真圓度檢測用治具,包括檢測工作臺,其特征在于,所述檢測工作臺呈正方形板結構,所述檢測工作臺的中心設有圓形開口結構,所述圓形開口結構內同軸設有環形檢測臺,所述環形檢測臺的外壁與所述圓形開口結構的內壁固接,所述環形檢測臺低于所述檢測工作臺的上表面。本實用新型結構設計合理,操作簡便,通過設置環形檢測臺,檢測工作臺,部件清洗噴砂完畢后,將部件上部扣在環形檢測臺上,配合檢測工作臺,檢測部件的真圓度,與常規的游標卡尺檢測相比,避免了對同一部件進行多次隨機多點檢測,檢測方便有效,提高了檢測效率的同時降低了檢測誤差,進而滿足了檢測部件的使用需求。
技術領域
本實用新型涉及真圓度檢測工具技術領域,尤其涉及一種真圓度檢測用治具。
背景技術
半導體設備中有一種氮化鉭的物理沉積機臺,機臺中的部件下部防護罩(LOWERSHILED)因厚度較薄,且上部有一個開口,在清洗噴砂過程中存在變形的情況,因此,需要對清洗噴砂后的部件LOWER SHILED上部進行真圓度檢測。但是,常規的檢測采用游標卡尺對同一部件進行多次隨機多點檢測,檢測費時費力,檢測效率低,同時存在較大的檢測誤差,無法滿足檢測部件的使用需求。
發明內容
本實用新型旨在解決現有技術的不足,而提供一種真圓度檢測用治具。
本實用新型為實現上述目的,采用以下技術方案:
一種真圓度檢測用治具,包括檢測工作臺,其特征在于,所述檢測工作臺呈正方形板結構,所述檢測工作臺的四周對應設有若干安裝孔,所述安裝孔內同軸設有螺栓,所述檢測工作臺的底部四周設有若干與所述安裝孔一一對應的立柱,所述檢測工作臺通過所述螺栓與所述立柱固接,所述檢測工作臺的中心設有圓形開口結構,所述圓形開口結構內同軸設有環形檢測臺,所述環形檢測臺的外壁與所述圓形開口結構的內壁固接,所述環形檢測臺低于所述檢測工作臺的上表面。
所述檢測工作臺為SUS不銹鋼工作臺。
所述環形檢測臺與所述檢測工作臺為一體結構。
所述立柱的個數為4。
本實用新型的有益效果是:本實用新型結構設計合理,操作簡便,通過設置環形檢測臺,檢測工作臺,部件清洗噴砂完畢后,將部件上部扣在環形檢測臺上,配合檢測工作臺,檢測部件的真圓度,與常規的游標卡尺檢測相比,避免了對同一部件進行多次隨機多點檢測,檢測方便有效,提高了檢測效率的同時降低了檢測誤差,進而滿足了檢測部件的使用需求。
附圖說明
圖1為本實用新型的立體圖;
圖2為本實用新型的主視圖;
圖3為本實用新型的俯視圖;
圖中:1-檢測工作臺;2-環形檢測臺;3-螺栓;4-立柱;
以下將結合本實用新型的實施例參照附圖進行詳細敘述。
具體實施方式
下面結合附圖和實施例對本實用新型作進一步說明:
如圖1-3所示,一種真圓度檢測用治具,包括檢測工作臺1,其特征在于,所述檢測工作臺1呈正方形板結構,所述檢測工作臺1的四周對應設有若干安裝孔,所述安裝孔內同軸設有螺栓3,所述檢測工作臺1的底部四周設有若干與所述安裝孔一一對應的立柱4,所述檢測工作臺1通過所述螺栓3與所述立柱4固接,所述檢測工作臺1的中心設有圓形開口結構,所述圓形開口結構內同軸設有環形檢測臺2,所述環形檢測臺2的外壁與所述圓形開口結構的內壁固接,所述環形檢測臺2低于所述檢測工作臺1的上表面。
作為優選,所述檢測工作臺1為SUS304不銹鋼工作臺。
作為優選,所述環形檢測臺2與所述檢測工作臺1為一體結構。
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