[實(shí)用新型]一種納米晶材料性能測(cè)試設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201921462051.0
• 申請(qǐng)日: 2019-09-04
• 公開（公告）號(hào): CN210753898U
• 公開（公告）日: 2020-06-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王朋
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 昆山富利瑞電子科技有限公司
• 主分類號(hào): B07C5/344
• 分類號(hào): B07C5/344;B07C5/02
• 代理公司: 北京國(guó)坤專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11491
• 代理人: 趙紅霞

1.一種納米晶材料性能測(cè)試設(shè)備，其特征在于：

包括旋轉(zhuǎn)工作基臺(tái)和作業(yè)單元；

所述旋轉(zhuǎn)工作基臺(tái)上設(shè)有周向均布的六個(gè)載料工位，

所述作業(yè)單元包括沿旋轉(zhuǎn)工作基臺(tái)旋轉(zhuǎn)路徑依次設(shè)置的上料機(jī)構(gòu)、第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)、第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)、合格品卸料機(jī)構(gòu)、不良品卸料機(jī)構(gòu)、及空載識(shí)別機(jī)構(gòu)，

在所述旋轉(zhuǎn)工作基臺(tái)步進(jìn)式旋轉(zhuǎn)狀態(tài)下，六個(gè)所述載料工位在所述作業(yè)單元上進(jìn)行位移切換。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種納米晶材料性能測(cè)試設(shè)備，其特征在于：

所述第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)為電感值測(cè)試機(jī)構(gòu)、所述第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)為網(wǎng)分值測(cè)試機(jī)構(gòu)；

或所述第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)為電感值測(cè)試機(jī)構(gòu)、所述第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)為網(wǎng)分值測(cè)試機(jī)構(gòu)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述一種納米晶材料性能測(cè)試設(shè)備，其特征在于：

所述第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)與所述第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)均設(shè)置于所述旋轉(zhuǎn)工作基臺(tái)的底部，并且所述第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)與所述第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)分別具備垂直向升降位移。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種納米晶材料性能測(cè)試設(shè)備，其特征在于：

任意所述載料工位上設(shè)有至少兩個(gè)工件裝載部。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述一種納米晶材料性能測(cè)試設(shè)備，其特征在于：

所述不良品卸料機(jī)構(gòu)包括集料艙、用于拾取工件的拾取部、及驅(qū)動(dòng)源，

所述集料艙至少包括兩個(gè)與檢測(cè)項(xiàng)相一一對(duì)應(yīng)的缺陷品艙位，所述拾取部上設(shè)有與所述缺陷品艙位相匹配的若干吸附端，

所述驅(qū)動(dòng)源包括用于所述拾取部在所述集料艙頂部至所述載料工位之間位移切換的線性驅(qū)動(dòng)源、用于所述拾取部垂直向升降的升降驅(qū)動(dòng)源、及驅(qū)動(dòng)所述拾取部旋轉(zhuǎn)后吸附端與缺陷品艙位相匹配的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)源。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述一種納米晶材料性能測(cè)試設(shè)備，其特征在于：

所述集料艙具備垂直于所述拾取部線性位移的水平向線性位移。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種納米晶材料性能測(cè)試設(shè)備，其特征在于：

所述上料機(jī)構(gòu)包括上料基座及在所述上料基座與所述載料工位之間徑向往復(fù)位移的上料運(yùn)轉(zhuǎn)部。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種納米晶材料性能測(cè)試設(shè)備，其特征在于：

所述合格品卸料機(jī)構(gòu)包括卸料基座及在所述卸料基座與所述載料工位之間徑向往復(fù)位移的卸料運(yùn)轉(zhuǎn)部。