[實用新型]一種光發射組件直流電壓和電阻測試系統

有效

• 申請號: 201921452821.3
• 申請日: 2019-09-03
• 公開（公告）號: CN210982607U
• 公開（公告）日: 2020-07-10
• 發明（設計）人: 席鑫
• 申請（專利權）人: 深圳市極致興通科技有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;G01R15/12;G01M11/00
• 代理公司: 深圳市科吉華烽知識產權事務所(普通合伙) 44248
• 代理人: 趙雪佳

本實用新型提供一種光發射組件直流電壓和電阻測試系統，屬于激光器測試領域。本實用新型包括客戶端、萬用表、溫控裝置、電源和測試裝置，其中，所述客戶端分別與萬用表、溫控裝置、電源和測試裝置相連，所述測試裝置包括MCU、與MCU輸出端相連的若干個分別與待測組件的RF PAD和DC PAD各個引腳相連的開關裝置，所述萬用表和電源分別通過開關裝置與待測組件相連，所述客戶端通過MCU控制開關裝置連接萬用表和待測組件不同的引腳,從而實現對不同測試項的測試。本實用新型的有益效果為：操作簡單，效率高，整個過程無人工干預，可靠性高。

技術領域

本實用新型涉及一種激光器測試結構，尤其涉及一種光發射組件直流電壓和電阻測試系統。

背景技術

100G EML TOSA(電吸收調制激光器光發射組件)組件中,RF PAD(射頻焊盤)有9個引腳，DC PAD(直流焊盤)有12個引腳,測試的引腳較多,以往的測試需要手持萬用表,并對比原理圖，找到對應的引腳逐項進行測試；對TEC溫度的控制,需要從外部引線出來,接線較多,且需要手動控制溫度控制器的溫度；除此之外,也需要手動控制電壓表來對組件進行加電、斷電；測試過程比較繁瑣；測試一個組件耗時較久，且會存在人為對測試結果的影響，很難保證測試結果的一致性。

實用新型內容

為解決現有技術中的問題，本實用新型提供一種光發射組件直流電壓和電阻測試系統。

本實用新型包括客戶端、萬用表、溫控裝置、電源和測試裝置，其中，所述客戶端分別與萬用表、溫控裝置、電源和測試裝置相連，所述測試裝置包括MCU、與MCU輸出端相連的若干個分別與待測組件的RF PAD和DC PAD各個引腳相連的開關裝置，所述萬用表和電源分別通過開關裝置與待測組件相連，所述客戶端通過MCU控制開關裝置連接萬用表和待測組件不同的引腳,從而實現對不同測試項的測試。

本實用新型作進一步改進，所述客戶端設有GPIB接口、USB接口和COM口，所述客戶端與萬用表和測試裝置之間通過USB接口通信，客戶端和電源之間通過GPIB接口通信，所述客戶端與溫控裝置通過COM口通信。

本實用新型作進一步改進，所述待測組件的RF PAD引腳的數量為9個，與RF PAD引腳相連的開關裝置的數量為10個，其中，開關裝置K1的一端接地,另一端連接萬用表黑標筆；開關裝置K2-K10的一端連接萬用表紅表筆,另一端和RF PAD的引腳連接，所述開關裝置K1為常開型連接，K2-K10為常斷型連接。

本實用新型作進一步改進，所述待測組件的DC PAD引腳的數量為12個，開關裝置K11-K21的一端與萬用表紅表筆連接,另一端分別與DC PAD的每個DC引腳相連，開關裝置K22的一端和萬用表紅表筆連接,另一端連接溫控裝置，開關裝置K23-K26的一端和DC PAD的四個MPD引腳相連,另一端和萬用表黑標筆相連，開關裝置K27的一端連接黑標筆,另一端和DC PAD的RT引腳相連；開關裝置K28一端和黑標筆相連,另一端連接DC PAD的TEC- 引腳；開關裝置K29、K30用來切換萬用表和電源的開關狀態。

本實用新型作進一步改進，通過在每個引腳上增減開關裝置實現對同類型但速率不同的待測組件的測試，其中，速率越低，需要的開關裝置數量越少。

本實用新型作進一步改進，所述開關裝置為繼電器或開關管。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：操作簡單，效率大大提高，整個過程無人工干預，可靠性高，一致性好。

附圖說明

圖1為本實用新型結構示意圖；

圖2為本實用新型測試裝置結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例對本實用新型做進一步詳細說明。