[實用新型]一種提高測量微弱信號分辨率的電路系統

有效

• 申請號: 201921403047.7
• 申請日: 2019-08-27
• 公開（公告）號: CN210839531U
• 公開（公告）日: 2020-06-23
• 發明（設計）人: 劉佰祥;劉躍武;朱輝
• 申請（專利權）人: 深圳市邁銘科技有限公司
• 主分類號: H03M1/12
• 分類號: H03M1/12;A61B5/0402
• 代理公司: 武漢大楚知識產權代理事務所(普通合伙) 42257
• 代理人: 徐員蘭

1.一種提高測量微弱信號分辨率的電路系統，其特征在于，包括模數轉換器U1、主控制器MCU、運放U2、電阻R1和電阻R2，所述模數轉換器U1采用AD620；電阻R1一端為自由端，另一端分別連接電容C1的一端和模數轉換器U1的2腳；電阻R2的一端為自由端，另一端分別連接電容C2的一端和模數轉換器U1的3腳；電容C1另一端、電容C2另一端和模數轉換器U1的4腳接地；模數轉換器U1的1腳通過電阻Rg連接到模數轉換器U1的8腳；模數轉換器U1的6腳連接電阻R6的一端，電阻R6另一端分別連接接地電容C5的一端和主控制器MCU的ADC引腳，電容C5的另一端接地；主控制器MCU使用兩路數模轉換器，模數轉換器U1的5腳連接主控制器MCU的DAC2引腳，主控制器MCU的DAC1引腳連接運放U2的同相端，運放U2的反相端連接運放U2的輸出端。

2.根據權利要求1所述的提高測量微弱信號分辨率的電路系統，其特征在于，所述主控制器MCU采用微處理器。

3.根據權利要求2所述的提高測量微弱信號分辨率的電路系統，其特征在于，所述主控制器MCU的ADC采樣頻率fs＝1KHz，采用過采樣采樣方式，過采樣率M＝256，過采樣頻率為fs*M＝1KHz*256＝256KHz。

4.根據權利要求3所述的提高測量微弱信號分辨率的電路系統，其特征在于，所述線性變化的鋸齒波函數信號的頻率f0＝fs/K，K＝1。