[實用新型]微波器件測試用輔助保護裝置

有效

• 申請號: 201921374392.2
• 申請日: 2019-08-22
• 公開（公告）號: CN210465579U
• 公開（公告）日: 2020-05-05
• 發明（設計）人: 楊林;蔡挺夫;陳遠紅;劉建國
• 申請（專利權）人: 成都中亞訊飛電子有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/04;G01R1/02
• 代理公司: 成都頂峰專利事務所(普通合伙) 51224
• 代理人: 王霞

本實用新型涉及微波器件測試工具技術領域，具體涉及微波器件測試用輔助保護裝置。包括固定底板、下夾持座和上夾持機構，所述下夾持座一體式設置于固定底板頂部，在下夾持座的頂部設有第一器件凹槽和緊固盲孔，第一器件凹槽的兩側設有端子槽，在上夾持機構的底部設有第二器件凹槽，第二器件凹槽的兩側設有壓塊，在上夾持機構內設有豎直貫穿上夾持機構的緊固通孔，在上夾持機構的底面除去第二器件凹槽、壓塊和緊固通孔以外的部位設有第一緩沖墊層，在第二器件凹槽的槽底設有第二緩沖墊層，上夾持機構蓋合在下夾持座上。本實用新型可以使微波器件在測試過程中與微帶線始終保持壓緊狀態，保證微波器件測試的穩定性、準確性和無損性。

技術領域

本實用新型涉及微波器件測試工具技術領域，具體涉及微波器件測試用輔助保護裝置。

背景技術

利用半導體材料可制作微波器件，為了驗證微波器件的直流及微波特性，需要對其進行測試。測試過程需要使用測試夾具，器件輸入、輸出端子與測試夾具微帶線連接，實現直流及微波測試。器件測試的幾項很重要的測試指標為穩定性、準確性、無損性，無損性指測試過程不能造成器件損傷。如果輸入、輸出端子與微帶線連接不緊密，容易造成器件工作不穩定，測試參數不準確，甚至會造成器件自激而燒毀。

現有技術中常常采用兩種方法實現微波器件輸入、輸出端子與微帶線的連接。一種方法為使用焊錫焊接，這種方法測試完成后，需要使用烙鐵熔融焊錫才能取下器件，操作十分不方便，如果器件需要多次測試，頻繁的使用烙鐵會造成測試夾具微帶線可靠性下降，且對器件端子造成機械及熱損傷。另一種方法為端子向微帶線方向彎曲實現硬接觸，此種方法容易造成器件端子機械損傷，而且隨著彎曲應力的不斷釋放，導致端子與微帶線之間的接觸會越來越不緊密。

實用新型內容

本實用新型提供了微波器件測試用輔助保護裝置，其應用時，可以使微波器件在測試過程中與微帶線始終保持壓緊狀態，保證微波器件測試的穩定性、準確性和無損性。

本實用新型所采用的技術方案為：

微波器件測試用輔助保護裝置，包括固定底板、下夾持座和上夾持機構，所述下夾持座一體式設置于固定底板頂部，在固定底板上設有安裝通孔，安裝通孔內設置用于安裝固定底板的安裝螺栓，在下夾持座的頂部設有第一器件凹槽和緊固盲孔，第一器件凹槽的兩側設有端子槽，在上夾持機構的底部設有第二器件凹槽，第二器件凹槽的兩側設有壓塊，在上夾持機構內設有豎直貫穿上夾持機構的緊固通孔，在上夾持機構的底面除去第二器件凹槽、壓塊和緊固通孔以外的部位設有第一緩沖墊層，在第二器件凹槽的槽底設有第二緩沖墊層，上夾持機構蓋合在下夾持座上，使緊固盲孔與緊固通孔相互正對，第一器件凹槽與第二器件凹槽相互正對，壓塊與端子槽相互正對，在緊固盲孔和緊固通孔內擰有緊固螺栓。

作為上述技術方案的優選，所述上夾持機構包括上夾持座和緊固件，緊固件設于上夾持座頂部，在緊固件的底部設有擴展槽，擴展槽內設置第二緩沖墊層，第二緩沖墊層與擴展槽的槽壁之間留有緩沖間隙，在上夾持座內設有通槽，緊固通孔貫穿緊固件與上夾持座，緊固件與上夾持座上下蓋合，通過擴展槽和通槽共同組成第二器件凹槽。

作為上述技術方案的優選，所述第一緩沖墊層和第二緩沖墊層的材質相同，厚度相同。

作為上述技術方案的優選，所述第一緩沖墊層和第二緩沖墊層采用橡膠材料制成。

作為上述技術方案的優選，所述第一緩沖墊層和第二緩沖墊層的可壓縮厚度在2mm-5mm的范圍內。

作為上述技術方案的優選，所述壓塊的底面為平整面。

作為上述技術方案的優選，所述壓塊采用聚四氟乙烯材料制成。

作為上述技術方案的優選，所述下夾持座和上夾持機構均由散熱金屬材料制成。

本實用新型的有益效果為：