[實用新型]一種閃爍晶體測試用裝置有效

申請號：	201921357475.0	申請日：	2019-08-21
公開（公告）號：	CN210604997U	公開（公告）日：	2020-05-22
發明（設計）人：	張新穎	申請（專利權）人：	北京濱松光子技術股份有限公司
主分類號：	G01T7/00	分類號：	G01T7/00
代理公司：	暫無信息	代理人：	暫無信息
地址：	100070 北京市豐***	國省代碼：	北京;11
權利要求書：	查看更多	說明書：	查看更多
摘要：
搜索關鍵詞：	一種閃爍晶體測試裝置
鉆瓜網技術展會專利詞庫專利權人專利榜在售專利公布日期熱門專利

【權利要求書】：

1.一種閃爍晶體測試用裝置，其特征是，包括光孔調節片、工裝，所述光孔調節片為圓形薄片，中心有圓孔，圓孔與被測晶體直徑相同，被測晶體端面通過光孔調節片后與光電倍增管直接接觸，光孔調節片放置在工裝上端的定位槽上；所述工裝上端設計為不同直徑的定位槽，工裝的下端設計為與光電倍增管直徑相同的凹槽，工裝的下端緊密套在光電倍增管上，工裝中心有圓孔，圓孔直徑比光電倍增管光電陰極面直徑小5mm。

2.根據權利要求1所述的一種閃爍晶體測試用裝置，其特征在于，所述光孔調節片直徑范圍為φ15mm~φ45mm。

3.根據權利要求1所述的一種閃爍晶體測試用裝置，其特征在于，所述裝置的材料是特氟龍高反射材料。

下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。

免登錄下載普通用戶下載升級VIP會員，免費下載

該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京濱松光子技術股份有限公司，未經北京濱松光子技術股份有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】

本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201921357475.0/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。