[實用新型]一種COB加熱高壓測試機有效
| 申請號: | 201921330880.3 | 申請日: | 2019-08-15 |
| 公開(公告)號: | CN210835134U | 公開(公告)日: | 2020-06-23 |
| 發明(設計)人: | 陳樹釗;康茂;陳偉明;黃仁發 | 申請(專利權)人: | 佛山市多譜光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/12 | 分類號: | G01R31/12;G01R31/44 |
| 代理公司: | 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205 | 代理人: | 左恒峰 |
| 地址: | 528200 廣東省佛山市南海桂城街道平西上*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 cob 加熱 高壓 測試 | ||
本實用新型公開了一種COB加熱高壓測試機,包括上料部分、測試部分,所述測試部分包括有高壓測試裝置、加熱測試座、傳送裝置,其中所述傳送裝置用于傳送加熱測試座;通過加熱測試座對COB測試過程進行加熱的設計,使COB耐高壓等的測試更能接近實際工作情況,測試更有針對性、更準確。
技術領域
本實用新型涉及自動化技術領域,特別是一種COB加熱高壓測試機。
背景技術
COB是將多顆LED芯片集成在高反光率的鏡面金屬基板上的高光效集成面光源結構。由于芯片數量多,當COB發亮時,溫度就會快速上升,正常工作時溫度高達八十多度以上,而且芯片在固晶和焊線過程中可能出現某個芯片不良,就會導致整個COB出現漏電、發光不良,甚至是死燈,因此有必要針對這些情況進行針對性測試。
目前大多數的COB測試機只是在常溫條件下對COB進行快速測試,由于溫度沒有來得及升到工作溫度,很多一些問題無法通過測試檢測出來,例如芯片焊線出現不良時,隨著溫度上升,金線可能由于溫度變形而出現虛焊,導致某個芯片不良或者整個COB死燈,像這種虛焊情況在常溫測試中是無法發現的。因此,為了模擬COB正常工作時的環境溫度,則需要把COB放置在加熱面進行加熱,當COB接近工作溫度時,再進行相關的耐高壓、微點亮缺陷檢測以及積分球等測試。
耐高壓檢測是對COB鋁基板上的絕緣層進行耐高壓測試,COB支架在固晶前都會對COB支架也會進行耐高壓測試,當COB經過固晶、焊線、點膠和固化后,COB支架需要分板才能得到單顆COB,但分板過程中可能會破壞原COB的絕緣層,因此在最終成品檢測時需要對COB再進行一次耐高壓測試。因此,有必要設計一種新的測試裝置,來實現對COB真正可靠的測試。
發明內容
為了克服現有技術的不足,本實用新型提供一種COB加熱高壓測試機。本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是:
一種COB加熱高壓測試機,包括上料部分、測試部分,所述測試部分包括有高壓測試裝置、加熱測試座、傳送裝置,其中所述傳送裝置用于傳送加熱測試座;
所述高壓測試裝置包括有雙位探針座;
所述加熱測試座包括有從上到下依次包括有測試板、陶瓷板、測試座加熱板,所述測試座加熱板外接有加熱棒和熱電偶。
作為一個優選項,所述上料部分包括上料機械手、上料加熱平臺;
所述上料機械手包括機械手移動裝置、上料手裝置、上料吸盤
所述上料加熱平臺位于所述上料機械手下方,所述上料加熱平臺包括有托盤、上料加熱板。
作為一個優選項,所述加熱測試座下側還設置有隔熱板和豎直延伸的導軸,所述導軸下端設置有底板,所述加熱測試座下方還設置有頂起氣缸。
作為一個優選項,所述測試部分還包括有微點亮測試探針座和微點亮工位相機。
作為一個優選項,所述測試部分還包括有積分球,所述積分球連接有升降裝置。
作為一個優選項,所述上料部分還包括有上料工位相機和平行光源。
本實用新型的有益效果是:通過加熱測試座對COB測試過程進行加熱的設計,使COB耐高壓等的測試更能接近實際工作情況,測試更有針對性、更準確。
附圖說明
下面結合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。
圖1是本實用新型的立體圖;
圖2是本實用新型的俯視圖;
圖3是本實用新型中上料部分右視圖;
圖4是本實用新型中加熱測試座部分的工作示意圖;
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