[實用新型]一種芯片檢測、包裝的生產(chǎn)系統(tǒng)及其耐壓測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201921304024.0 | 申請日: | 2019-08-12 |
| 公開(公告)號: | CN210523140U | 公開(公告)日: | 2020-05-15 |
| 發(fā)明(設計)人: | 劉軍;豆宏春;王強 | 申請(專利權)人: | 綿陽高新區(qū)鴻強科技有限公司 |
| 主分類號: | B07C5/344 | 分類號: | B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36 |
| 代理公司: | 成都睿道專利代理事務所(普通合伙) 51217 | 代理人: | 薛波 |
| 地址: | 621000 四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 芯片 檢測 包裝 生產(chǎn) 系統(tǒng) 及其 耐壓 測試 裝置 | ||
1.一種芯片耐壓測試裝置,包括機架(11),其特征在于:包括順次安裝于機架(11)用以下料的下料機構總成(12)、用以連通下料機構總成(12)并運送芯片的進料輸送帶(13)、用以測試芯片的耐壓性的測試夾具(14)、用以篩選良品和不良品的篩選機構(15)、用以運送良品的出料輸送帶(16),以及安裝于機架(11)用以收集不良品的不良品收集組件(17)和用以實現(xiàn)芯片在所述進料輸送帶(13)、測試夾具(14)、篩選機構(15)和出料輸送帶(16)間轉(zhuǎn)運的轉(zhuǎn)運機構(18);
所述不良品收集組件(17)包括用以接收不良品的不良品收集機構(171)和用以從篩選機構(15)將不良品推入不良品收集機構(171)的不良品推入氣缸(172);所述進料輸送帶(13)、測試夾具(14)和出料輸送帶(16)位于一條直線上;所述篩選機構(15)設于測試夾具(14)和出料輸送帶(16)之間,篩選機構(15)包括篩選塊(151),所述篩選塊(151)可滑動的安裝于機架(11)用以對接測試夾具(14)或不良品收集組件(17),篩選塊(151)連接于篩選氣缸(152)的輸出端,所述篩選氣缸(152)安裝于機架(11)。
2.根據(jù)權利要求1所述的芯片耐壓測試裝置,其特征在于:所述下料機構總成(12)包括下料料道(121)和連接在下料料道(121)上端部的下料板(122),下料板(122)上設置有一對相對設置且用于容納料管的料管容納槽(123),靠近下料料道(121)一端的料管容納槽(123)底部設有連通下料料道(121)的物料出口(124),下料板(122)的一側(cè)設置有空料管收集槽(125),下料板(122)的另一側(cè)設置有用于將空料管推入空料管收集槽(125)的推料機構(126),靠近空料管收集槽(125)一側(cè)的兩料管容納槽(123)的底部均設置有空料管退出口(127)。
3.根據(jù)權利要求2所述的芯片耐壓測試裝置,其特征在于:所述下料機構還包括用以抵緊料管的抵緊機構(128),所述抵緊機構(128)包括抵緊塊(1281),所述抵緊塊(1281)鉸接于靠近下料料道(121)的料管容納槽(123)用以從空料管退出口(127)抵緊料管使料管正對物料出口(124)。
4.根據(jù)權利要求2所述的芯片耐壓測試裝置,其特征在于:所述下料料道(121)包括間隔設置用以使芯片成組進入所述進料輸送帶(13)的擋料機構(1211),所述擋料機構(1211)包括第一擋料桿(1211a)和第二擋料桿(1211b),所述第一擋料桿(1211a)和第二擋料桿(1211b)均可往復式的進出下料料道(121)用以實現(xiàn)擋料和放料。
5.根據(jù)權利要求4所述的芯片耐壓測試裝置,其特征在于:所述進料輸送帶(13)設有用以將一組芯片排列整齊的排列機構(131),所述排列機構(131)包括一對排列夾板(1311)和手指氣缸(1312),一對排列夾板(1311)分別位于進料輸送帶(13)兩側(cè),所述手指氣缸(1312)安裝于進料輸送帶(13)且手指氣缸(1312)的輸出端連接一對排列夾板(1311)。
6.根據(jù)權利要求1所述的芯片耐壓測試裝置,其特征在于:所述測試夾具(14)包括吸緊機構(141)和一對用以承載芯片pin腳排的承載導電片(142),所述吸緊機構(141)包括吸附磁鐵(1411)和吸附氣缸(1412),所述吸附磁鐵(1411)設于承載導電片(142)下方且可靠近或遠離承載導電片(142)用以吸緊或放松芯片,所述吸附氣缸(1412)安裝于所述機架(11)且其輸出端連接所述吸附磁鐵(1411)用以帶動吸附磁鐵(1411)靠近或遠離承載導電片(142)。
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