[實用新型]一種功率探測器套筒有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201921288272.0 | 申請日: | 2019-08-09 |
| 公開(公告)號: | CN210221288U | 公開(公告)日: | 2020-03-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳基平;黃桔祥;校金濤 | 申請(專利權(quán))人: | 福建科彤光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01J1/04 | 分類號: | G01J1/04;G01M11/02 |
| 代理公司: | 福州盈創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 35226 | 代理人: | 余宏鵬 |
| 地址: | 350014 福建省福州*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 功率 探測器 套筒 | ||
本實用新型公布了一種功率探測器套筒,包括遮光用套筒,遮光用套筒的一端設(shè)有與其內(nèi)側(cè)面螺紋連接的固定部,固定部的一端設(shè)有與其一體成型制備的連接套筒,固定部的一端開設(shè)螺栓孔,連接套筒的內(nèi)側(cè)設(shè)有橡膠內(nèi)環(huán),而固定部與套筒的結(jié)合處的內(nèi)部設(shè)有限位橡膠環(huán),固定部的內(nèi)部設(shè)有與功率探測器相配合的探測筒,套筒的另一端設(shè)有與激光發(fā)射器相貼合的橡膠外環(huán)。本實用新型能夠防止在測量的過程中出現(xiàn)偏振,而且套筒的另一端設(shè)有與激光發(fā)射器相貼合的橡膠外環(huán),能夠有效地遮擋多余的雜散光,防止在測量晶體消光比過程中會把多余的雜散光也被一起探測進去,提高測量精度。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型屬于激光測量技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種功率探測器套筒。
背景技術(shù)
檢偏振器相對于被檢偏振器的最大透過光強與最小透過光強之比稱為消光比。消光比的不足容易引起對碼元的誤判等一系列問題。假如二個偏振元件P1和P2左右排置放著,如我們稱P1為起偏器,透過P1的光為線偏振光,稱P2為檢偏器,如果P1和P2的光軸一致,則透過P2的光強最強,如果P1和P2的光軸相差90度,則光強為零。假如通過P1的線偏振光的振幅為E,則光強為I0=E^2。E可以分解為Ecosθ和Esinθ兩個互相垂直的分量,其中Ecosθ分量平行于檢偏器的透光軸,而Esinθ分量則是垂直于該透光軸,故這兩個分量中只有Ecosθ分量才能從檢偏器通過,因此I=(Ecosθ)^2=I0(cosθ)^2,此式稱為馬呂斯定律。現(xiàn)有技術(shù)在測量晶體消光比過程中會把多余的雜散光也被一起探測進去,影響測量精度。
發(fā)明內(nèi)容
(1)技術(shù)方案
為了克服現(xiàn)有技術(shù)不足,本實用新型提供一種功率探測器套筒,包括遮光用套筒,所述遮光用套筒的一端設(shè)有與其內(nèi)側(cè)面螺紋連接的固定部,所述固定部的一端設(shè)有與其一體成型制備的連接套筒,所述固定部的一端開設(shè)螺栓孔,所述連接套筒的內(nèi)側(cè)設(shè)有橡膠內(nèi)環(huán),而所述固定部與所述套筒的結(jié)合處的內(nèi)部設(shè)有限位橡膠環(huán),所述固定部的內(nèi)部設(shè)有與功率探測器相配合的探測筒,所述套筒的另一端設(shè)有與激光發(fā)射器相貼合的橡膠外環(huán)。
進一步地,所述套筒通過可拆卸方式固定所述橡膠外環(huán),并且所述橡膠外環(huán)位于所述套筒的外側(cè)。
進一步地,所述套筒的內(nèi)直徑不低于2cm,所述套筒的長度不低于3cm,而且所述套筒采用黑色不透光材料制備而成。
進一步地,所述限位橡膠環(huán)的一端與所述固定部相貼合,而且所述限位橡膠環(huán)的中心線與所述橡膠內(nèi)環(huán)的中心線重合。
本實用新型的設(shè)計原理:在功率探測器套筒的固定部與探測器相結(jié)合,而且能夠通過螺栓固定限位,防止在測量的過程中出現(xiàn)偏振,而且套筒的另一端設(shè)有與激光發(fā)射器相貼合的橡膠外環(huán),能夠有效地遮擋多余的雜散光,防止在測量晶體消光比過程中會把多余的雜散光也被一起探測進去,提高測量精度。
(2)有益效果
本實用新型的有益效果:相比于現(xiàn)有技術(shù),本實用新型能夠防止在測量的過程中出現(xiàn)偏振,而且套筒的另一端設(shè)有與激光發(fā)射器相貼合的橡膠外環(huán),能夠有效地遮擋多余的雜散光,防止在測量晶體消光比過程中會把多余的雜散光也被一起探測進去,提高測量精度,解決了現(xiàn)有技術(shù)在測量晶體消光比過程中會把多余的雜散光也被一起探測進去,影響測量精度的技術(shù)問題。
附圖說明
圖1是功率探測器套筒的第一視角結(jié)構(gòu)圖;
圖2是功率探測器套筒的第二視角結(jié)構(gòu)圖。
具體實施方式
下面結(jié)合實施例對本實用新型作進一步的說明。
實施例一
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