[實用新型]一種內(nèi)阻測試儀校驗用直流電阻有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201921281886.6 | 申請日: | 2019-08-07 |
| 公開(公告)號: | CN210742486U | 公開(公告)日: | 2020-06-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王寧;楊月球;鄒武元;姜斌 | 申請(專利權(quán))人: | 東莞塔菲爾新能源科技有限公司;江蘇塔菲爾新能源科技股份有限公司;深圳塔菲爾新能源科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R35/00 | 分類號: | G01R35/00 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
| 地址: | 523000 廣東省東莞*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 內(nèi)阻 測試儀 校驗 直流 電阻 | ||
本實用新型涉及內(nèi)阻測試技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種內(nèi)阻測試儀校驗用直流電阻,本實用新型通過對直流電阻的外形尺寸進行改進使直流電阻的外形結(jié)構(gòu)與待測電芯的外形結(jié)構(gòu)相同,在對內(nèi)阻測試儀進行校驗時,將直流電阻放置于內(nèi)阻測試儀中的放置槽中后,使正極柱與內(nèi)阻測試儀的其中一個測試接頭抵接,負極柱與所述內(nèi)阻測試儀的另一個測試接頭抵接,取消了夾具。在對內(nèi)阻測試儀校驗完畢后直接取出直流電阻,無需對內(nèi)阻測試儀上的測試接頭進行調(diào)整,直接將與該直流電阻對應的待測電芯放入放置槽內(nèi),即可使待測電芯的兩個極柱分別與兩個測試接頭抵接,無需調(diào)節(jié)內(nèi)阻測試儀上兩個測試接頭的位置,簡化了對內(nèi)阻測試儀進行校驗的檢驗過程,提高校驗效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及內(nèi)阻測試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種內(nèi)阻測試儀校驗用直流電阻。
背景技術(shù)
鋰電池內(nèi)安裝有電芯,在對將電芯裝入鋰電池內(nèi)部之前需要對電芯的電阻進行測試,以確保電芯的性能良好。
現(xiàn)有技術(shù)中通常內(nèi)阻測試儀對電芯的內(nèi)阻進行校驗,但為了確保內(nèi)阻測試儀測試的準確性,需要采用校驗電阻定期對內(nèi)阻測試儀的準確性進行校驗。內(nèi)阻測試儀上設(shè)置有用于放置待測電芯的放置槽,由于校驗電阻的結(jié)構(gòu)與電芯的形狀尺寸不一致,導致無法把標準電阻放于放置槽中進行測量。
為了解決上述技術(shù)問題,通常采用夾具夾緊校驗電阻后,將夾具裝入放置槽中,調(diào)節(jié)內(nèi)阻測試儀上的兩個測試接頭,使兩個測試接頭分別對準并接觸校驗電阻的兩個接線端。若是經(jīng)過校驗的內(nèi)阻測試儀的測量精度滿足使用要求,則需要先將內(nèi)阻測試儀的測試接頭與直流標準電阻的接線端分離,再取出夾具后,將一個待測電芯放入放置槽中,由于待測電芯和校驗電阻的尺寸不同,需要重新調(diào)節(jié)兩個測試接頭使每個測試接頭分別對準并接觸待測電芯上對應的接線端。
采用上述方式對內(nèi)阻測試儀進行校驗時,每次對內(nèi)阻測試儀進行校驗時均需調(diào)節(jié)兩次內(nèi)阻測試儀的測試接頭,不利于操作,導致校驗過程復雜,降低了校驗效率。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的在于提供一種內(nèi)阻測試儀校驗用直流電阻,能夠簡化對內(nèi)阻測試儀進行校驗的檢驗過程,提高校驗效率。
為達此目的,本實用新型采用以下技術(shù)方案:
一種內(nèi)阻測試儀校驗用直流電阻,直流電阻的結(jié)構(gòu)與待測電芯的形狀相同,所述直流電阻包括:
外殼;
正極柱和負極柱,所述正極柱和所述負極柱均一端置于所述外殼外,另一端伸入所述外殼內(nèi);
內(nèi)阻測試儀的兩個測試接頭位置不變,所述內(nèi)阻測試儀中的放置槽能夠以互鎖方式選擇性地與所述直流電阻匹配,使所述正極柱與內(nèi)阻測試儀的其中一個測試接頭抵接,所述負極柱與所述內(nèi)阻測試儀的另一個測試接頭抵接,或與待測電芯匹配,使所述待測電芯的兩個極柱分別與兩個所述測試接頭抵接。
作為上述內(nèi)阻測試儀校驗用直流電阻的一種優(yōu)選技術(shù)方案,還包括設(shè)于所述外殼內(nèi)的電阻絲,所述電阻絲的兩端通過軟連接分別連接于所述正極柱和所述負極柱。
作為上述內(nèi)阻測試儀校驗用直流電阻的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述軟連接與所述電阻絲超聲波焊接。
作為上述內(nèi)阻測試儀校驗用直流電阻的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述軟連接與所述正極柱、所述負極柱均激光焊接。
作為上述內(nèi)阻測試儀校驗用直流電阻的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述電阻絲由銅箔制成。
作為上述內(nèi)阻測試儀校驗用直流電阻的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述外殼內(nèi)充滿保護氣體。
作為上述內(nèi)阻測試儀校驗用直流電阻的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述保護氣體為氮氣。
作為上述內(nèi)阻測試儀校驗用直流電阻的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述外殼包括一側(cè)開口的殼本體,及與所述殼本體密封連接形成封閉腔室的頂蓋。
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