[實用新型]一種用于薄片試樣截面研磨拋光的夾持裝置

有效

• 申請號: 201921203721.7
• 申請日: 2019-07-29
• 公開（公告）號: CN210307283U
• 公開（公告）日: 2020-04-14
• 發明（設計）人: 杜春燕;黃樹濤;趙暉
• 申請（專利權）人: 沈陽理工大學
• 主分類號: B24B37/27
• 分類號: B24B37/27;B24B41/06;B24B47/22
• 代理公司: 沈陽亞泰專利商標代理有限公司 21107
• 代理人: 邵明新

1.一種用于薄片試樣截面研磨拋光的夾持裝置，包括夾具本體；其特征在于，所述夾具本體為底端敞開的殼體結構，一波珠螺絲穿過該殼體結構的頂面并與殼體結構螺紋相連，通過調節波珠螺絲旋進殼體結構頂面的深度，波珠螺絲伸入殼體內腔的深度可調；

所述殼體結構的兩側各設有一波珠螺絲，兩波珠螺絲分別穿過殼體結構的側壁并與側壁螺紋相連，分別調節波珠螺絲旋進殼體結構側面的深度，兩波珠螺絲伸入殼體內腔的深度可調；

所述夾具本體還包括一限位滑塊及兩夾持板；使用時，限位滑塊橫向放置于殼體結構內腔中、頂面的波珠螺絲下方；薄片試樣縱向放置于殼體結構的內腔，夾于限位滑塊及殼體結構左右兩側的波珠螺絲之間，且薄片試樣兩側各設置有一夾持板，在兩側的波珠螺絲施力于薄片試樣時，用于保護薄片試樣；

調節殼體結構頂面的波珠螺絲旋進內腔的深度，施力于限位滑塊，通過限位滑塊頂緊薄片試樣的頂部，實現薄片試樣的軸向限位；調節殼體結構左右兩側的波珠螺絲旋進內腔的深度，施力于試樣兩側的夾持板，實現薄片試樣的左右限位。

2.根據權利要求1所述的一種用于薄片試樣截面研磨拋光的夾持裝置，其特征在于：所述殼體結構呈立方體狀，材質采用不銹鋼或其他耐腐蝕的金屬材料，該殼體結構的內腔呈圓柱體狀或長方體狀或立方體狀。

3.根據權利要求1所述的一種用于薄片試樣截面研磨拋光的夾持裝置，其特征在于：限位滑塊的外輪廓滿足其可與殼體結構內腔的橫截面無縫貼合；當殼體結構的內腔呈圓柱體狀時，限位滑塊的橫截面呈圓形；當殼體結構的內腔呈長方體狀或立方體狀時，限位滑塊也為相應的條形板狀結構。

4.根據權利要求3所述的一種用于薄片試樣截面研磨拋光的夾持裝置，其特征在于：所述限位滑塊的寬度既大于殼體結構頂部的波珠螺絲的寬度又大于薄片試樣的寬度。

5.根據權利要求1所述的一種用于薄片試樣截面研磨拋光的夾持裝置，其特征在于：殼體結構頂部的波珠螺絲的中心線與夾具本體的中心線相重合，且該波珠螺絲露出殼體結構的一端配備有定位螺母。

6.根據權利要求1所述的一種用于薄片試樣截面研磨拋光的夾持裝置，其特征在于：殼體結構兩側的波珠螺絲位置相對應，位于一條直線上，且分別垂直于所穿過的側壁；兩側的波珠螺絲均配備有定位螺母。

7.根據權利要求4所述的一種用于薄片試樣截面研磨拋光的夾持裝置，其特征在于：所述的限位滑塊用于調節試樣，選用不銹鋼材質。

8.根據權利要求1所述的一種用于薄片試樣截面研磨拋光的夾持裝置，其特征在于：所述夾持板采用易于研磨的聚四氟乙烯或環氧樹脂材質。