[實用新型]實驗檢測用精密天平

有效

• 申請號: 201921189676.4
• 申請日: 2019-07-26
• 公開（公告）號: CN210464647U
• 公開（公告）日: 2020-05-05
• 發明（設計）人: 錢澤;孟潔
• 申請（專利權）人: 昂科生物醫學技術（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01G21/28
• 分類號: G01G21/28;G01G23/00
• 代理公司: 北京化育知識產權代理有限公司 11833
• 代理人: 尹均利

本實用新型公開了一種實驗檢測用精密天平，包括底座、位于所述底座上方的防護罩和安裝在所述底座上表面的稱量盤；所述底座的上表面的邊緣設有第一下卡槽、第二下卡槽、第一下滑槽和第二下滑槽，所述防護罩包括前護板、后護板、左護板、右護板、上護板和固定架，所述固定架包括前固定板、后固定板、左固定板和右固定板，所述前固定板的下表面向內凹陷形成有第一上卡槽，所述后固定板的下表面向內凹陷形成有第二上卡槽，所述左固定板形成有第一上滑槽和第二上滑槽，所述右固定板形成有第一上滑槽和第二上滑槽，所述后護板的內表面活動連接一干燥盒，所述干燥盒為網狀干燥盒，所述干燥盒內填充有干燥劑。本實用新型能夠保持精密天平待測環境的干燥，提高測量物的測量精度。

技術領域

本實用新型屬于實驗儀器技術領域，特別是涉及一種實驗檢測用精密天平。

背景技術

隨著社會的進步，生活水平的改善和科學技術的提高，衛檢部門環境科檢測的領域越來越多，其中，對物質的測量是最重要的一項操作，在這項操作中需要用到電子天平，但是，現有技術的電子天平存在很多不足之處，例如，現有的精密天平稱量盤上方設有防護罩，該防護罩未使用時為密閉環境，通風環境較差，造成精密天平的內部環境潮濕，影響稱量效果。尤其是稱量粉末狀固體時，潮濕的環境會使試驗數據不準確。

實用新型內容

本實用新型主要解決的技術問題是提供一種實驗檢測用精密天平，能夠保持精密天平待測環境的干燥，提高測量物的測量精度。

為解決上述技術問題，本實用新型采用的一個技術方案是：一種實驗檢測用精密天平，包括底座、位于所述底座上方的防護罩和安裝在所述底座上表面的稱量盤；

所述底座的上表面的邊緣設有第一下卡槽、第二下卡槽、第一下滑槽和第二下滑槽，所述第一下卡槽與所述第二下卡槽相互平行，所述第一下卡槽靠近所述底座的前部邊緣，所述第二下卡槽靠近所述底座的后部邊緣，所述第一下滑槽和所述第二下滑槽相互平行，所述第一下滑槽靠近所述底座的左部邊緣，所述第二下滑槽靠近所述底座的右部邊緣；

所述防護罩包括前護板、后護板、左護板、右護板、上護板和固定架，所述固定架包括前固定板、后固定板、左固定板和右固定板，所述前固定板的下表面向內凹陷形成有第一上卡槽，所述后固定板的下表面向內凹陷形成有第二上卡槽，所述后固定板的上表面形成有擋塊，所述左固定板的下表面形成有第一上滑槽，所述左固定板與所述前固定板和/所述后固定板之間形成第二上滑槽，所述右固定板的下表面形成有所述第一上滑槽，所述右固定板與所述前固定板和/所述后固定板之間形成所述第二上滑槽，所述第二上滑槽垂直于所述第一上滑槽；

所述前護板的下端與所述第一下卡槽卡接，所述前護板的上端與所述第一上卡槽卡接，所述后護板的下端與所述第二下卡槽卡接，所述后護板的上端與所述第二上卡槽卡接，所述左護板的下端沿所述第一下滑槽前后滑動，所述左護板的上端沿所述第一上滑槽前后滑動，所述右護板的下端沿所述第二下滑槽前后滑動，所述右護板的上端沿所述第一上滑槽前后滑動，所述上護板的左端沿所述第二上滑槽前后移動，所述上護板的右端沿所述第二上滑槽前后移動；

所述后護板的內表面活動連接一干燥盒，所述干燥盒為網狀干燥盒，所述干燥盒內填充有干燥劑。

本實用新型為解決其技術問題所采用的進一步技術方案是：

進一步地說，所述左護板和所述右護板的外表面固定有便于推動的第一把手。

進一步地說，所述上護板的外表面固定有便于推動的第二把手。

進一步地說，所述干燥盒為上部開口、側壁封閉和底部封閉的框體，所述干燥盒的左側壁的上端和所述干燥盒的右側壁的上端分別向上延伸形成一凸臺，所述后護板的內側壁上設置有兩條平行的插槽，所述凸臺與所述插槽相互卡合以實現干燥盒和后護板的連接。

進一步地說，所述底座的左右兩端均設置有水平儀，且所述水平儀所在直線平行于所述稱量盤的上表面。