[實用新型]一種電子產品再制造老化測試箱

有效

• 申請號: 201921153023.0
• 申請日: 2019-07-22
• 公開（公告）號: CN210465571U
• 公開（公告）日: 2020-05-05
• 發明（設計）人: 唐雄華;宋薇薇
• 申請（專利權）人: 赫頂（天津）工業技術有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/04;H05K7/20
• 代理公司: 天津市尚儀知識產權代理事務所(普通合伙) 12217
• 代理人: 高正方

1.一種電子產品再制造老化測試箱，包括箱體（1），其特征在于：所述箱體（1）內壁的底端固定安裝有安裝板（2），所述安裝板（2）頂端的一側滑動安裝有兩個第一安裝座（3），所述安裝板（2）頂端的另一側滑動安裝有第二安裝座（4），兩個所述第一安裝座（3）和第二安裝座（4）內壁的底端均固定安裝有固定底座（5），所述固定底座（5）的內部開設有空腔（6），所述固定底座（5）的頂端開設有第一開口，所述第一開口的內部穿插連接有連接柱（7），所述連接柱（7）的頂端和底端分別固定安裝有托板（8）和連接板（9），所述空腔（6）內壁的頂端固定安裝有彈簧，所述彈簧的底端與連接板（9）的頂端固定連接，所述空腔（6）內壁一側的底部開設有第二開口，所述第二開口的內部穿插連接有調整桿（10），所述調整桿（10）的中部與第二開口內壁的兩側轉動連接，所述空腔（6）兩邊側之間通過轉軸轉動連接有連接桿（11），所述連接桿（11）的底端轉動連接有第一T型滑塊，所述第一T型滑塊與調整桿（10）頂端的一側滑動連接，所述連接桿（11）的頂端通過第二T型滑塊與連接板（9）的底端滑動連接；

所述安裝板（2）頂端的中部開設有第一凹槽（12），所述第一凹槽（12）內壁兩側的底部均開設有第一通槽（13），所述箱體（1）兩側的底部均開設有第二凹槽（14），兩個所述第二凹槽（14）內壁的底端均開設有第二通槽（15），兩個所述第二通槽（15）的內部均固定安裝有散熱扇（16），兩個所述第二凹槽（14）內壁的頂端均開設有安裝孔（17），兩個所述安裝孔（17）內壁的頂端均固定安裝有彈簧，兩根所述彈簧的底端均固定安裝限位拉桿（18），兩個所述第二凹槽（14）內壁底端的一側均固定安裝有限位桿（19），兩個所述第二凹槽（14）的內部均設置有防護板（20），兩個所述防護板（20）的頂端和底端均開設有卡槽（21），四個所述卡槽（21）內壁的兩側之間均固定安裝有金屬柱（22），四個所述金屬柱（22）分別與對應的限位拉桿（18）和限位桿（19）匹配。

2.根據權利要求1所述的一種電子產品再制造老化測試箱，其特征在于：兩個所述第一安裝座（3）的底端固定安裝有第一T型滑條，所述安裝板（2）頂端的一側開設有兩條第一滑槽，兩個所述第一T型滑條分別于對應的第一滑槽相匹配，兩個所述第一T型滑條的一側均固定安裝第一彈簧，兩個所述第一彈簧的一端分別于對應的第一滑槽內壁的一側固定連接。

3.根據權利要求1所述的一種電子產品再制造老化測試箱，其特征在于：所述第二安裝座（4）的底端固定安裝有第二T型滑條，所述安裝板（2）頂端的另一側開設有第二滑槽，所述第二T型滑條與第二滑槽相匹配，所述第二T型滑條的一側固定安裝有第二彈簧，所述第二彈簧的一端與第二滑槽內壁的一側固定連接。

4.根據權利要求1所述的一種電子產品再制造老化測試箱，其特征在于：所述箱體（1）內壁的頂端固定安裝有測試元件（23）。

5.根據權利要求1所述的一種電子產品再制造老化測試箱，其特征在于：所述箱體（1）的邊側開設有矩形通孔，所述矩形通孔內壁的兩側均轉動連接有箱門（25），兩個所述箱門（25）的側面固定安裝有拉手。

6.根據權利要求1所述的一種電子產品再制造老化測試箱，其特征在于：所述箱體（1）邊側的頂部嵌設有玻璃板（24）。

7.根據權利要求1所述的一種電子產品再制造老化測試箱，其特征在于：所述第一凹槽（12）的頂端安裝有濾板，所述濾板的頂端安裝有提手。

8.根據權利要求1所述的一種電子產品再制造老化測試箱，其特征在于：所述箱體（1）另一個邊側固定安裝有散熱扇控制開關。